书名:高压IGBT模块应用技术
定价:59.00元
售价:44.3元,便宜14.7元,折扣75
作者:龚熙国
出版社:机械工业出版社
出版日期:2015-11-01
ISBN:9787111514237
字数:
页码:
版次:1
装帧:平装
开本:16开
商品重量:0.4kg
“十二五”国家重点图书出版规划项目,系统地阐述了高压IGBT模块的应用技术。
本书全面阐述了高压模块的芯片、封装制造、测试与应用技术。在应用技术中又着重介绍了高压模块的驱动、保护、失效分析以及在轨道牵引、高压变频、风力发电和高压直流输配电中的应用要点。本书内容新颖,介绍了前沿的高压模块制造技术和应用设计技术;内容全面,涵盖了高压模块产品工程的全部技术:芯片技术、封装技术、制造技术、测试技术、可靠性技术和应用技术等;注重理论与实用的结合,很多内容是基于实验室和现场应用的实测结果。本书非常适合电力电子装置设计工程师、功率半导体应用技术人员参考和使用,无论从事哪个领域进行开发设计,本书都会有所助益。本书对在大专院校里从事电力电子技术研究的广大师生也很有帮助。同时本书介绍的封装技术、制造技术、测试技术、可靠性技术等对半导体器件研发工程师和科研管理者也有参考价值。
前言第章概述11电力电子技术概述12功率半导体器件的发展13IGBT模块概述14IGBT模块的关键技术15IGBT模块的主要应用领域16IGBT模块的发展趋势参考文献第章高压模块的芯片技术21IGBT的基本结构和工作原理22高压芯片的发展23高压芯片的表面栅结构231平面栅232沟槽栅24高压芯片的纵向结构25英飞凌新高压芯片技术介绍:技术26日立新高压芯片技术介绍:Trench HiGT sLiPT技术27三菱电机新高压芯片技术介绍:技术28ABB新高压芯片技术介绍:技术29SiC芯片技术210RC(逆导芯片技术参考文献第章高压模块的封装与制造技术31高压模块的封装与结构311高压模块的封装312高压模块的内部拓扑电路313高压模块的内部结构314高压模块的构成材料32高压模块制造过程321晶圆制备过程322芯片制造过程323模块组装过程324模块组装完成后的测试及包装33高压模块的可靠性测试331可靠性测试概述332功率循环可靠性与热循环可靠性34高压模块封装的技术要求与发展趋势35各制造厂商高压模块型号的定义参考文献第章高压模块的动静态参数及其测试41如何阅读高压模块的数据手册411大参数412高压模块的推荐参数413特性曲线42高压模块静态参数的测试方法43高压模块动态参数的测试方法431半桥电路和双脉冲测试432高压模块的开通过程测试与分析433高压模块的关断过程测试与分析434高压模块的反向恢复过程测试与分析435FWD的测试436高压模块半桥测试平台的构建参考文献第章高压模块的驱动51高压模块驱动电路的基本功能和设计要求52高压模块开通和关断过程中的栅极电压和电流波形53栅极驱动电压的选取54栅极驱动电阻的选取55栅极输出峰值电流和驱动功率的计算56高压模块驱动电路中的DC/DC变换器57驱动电路的栅极隔离方式58栅极电压钳位技术59外接栅极发射极电阻和电容510高压模块驱动的有源钳位技术511高压模块驱动的反馈技术512高压模块分段开通与关断技术513高压模块驱动的软关断技术514电压保护电路515短脉冲抑制电路516死区时间5161死区效应5162死区时间的计算方法517驱动电路的布局与栅极布线518栅极电压的测试方法519集成高压模块驱动器介绍参考文献第章高压模块的保护61高压模块的过电压保护611高压模块关断浪涌电压产生的原因612常用直流侧电压检测电路613吸收电路614降低主回路杂散电感量615驱动电路采用有源钳位抑制浪涌电压尖峰62高压模块的短路保护621短路与过载622高压模块的种短路模式623高压模块短路能力的评价标准624短路故障的检测方法625影响短路电流大小的因素626降低高压模块短路时栅极电压峰值的方法63高压模块的过温保护631高压模块的功耗计算632结温的计算633高压模块的冷却方式64高压模块并联应用时的均流保护641影响高压模块稳态电流均衡的因素642影响高压模块动态电流均衡的因素65高压模块串联应用时的均压保护66高压模块安装时的注意事项661安装方法662导热硅脂的涂抹方法663散热器的表面粗糙度和平面度67高压模块运输与取用时的注意事项68高压模块保存时的注意事项参考文献第章高压模块的失效原因与失效模式71高压模块失效分析概述72高压模块失效与否的判定方法721用万用表简单检查高压IGBT模块是否损坏722通过参数测量准确判定高压模块是否失效73高压模块的失效原因分析731超出导致的单元失效原因732超出导致的单元失效原因733栅极过电压导致的高压IGBT模块失效原因734结温过高导致的单元失效原因735FWD单元失效原因74高压模块的失效模式741高压模块的过电压损坏模式742高压模块的过电压损坏模式743高压模块的过电流损坏模式744高压模块的过热损坏模式745功率循环失效模式746热循环失效模式747RBSOA失效模式748SCSOA失效模式749RRSOA失效模式参考文献第章高压模块在轨道牵引中的应用81轨道牵引中的电力电子技术概述82轨道牵引中的变流器主电路拓扑821电力机车和动车组车辆用牵引变流器的主电路拓扑822电力机车和动车组车辆用辅助变流器的主电路拓扑823城市轨道交通车辆用牵引逆变器的主电路拓扑824城市轨道交通车辆用辅助逆变器的主电路拓扑825牵引变流器的构成部件83高压模块在轨道牵引中的应用831轨道牵引变流器中高压模块电压电流等级的选型832对高压模块短路耐量及的要求833对高压模块关断能力的要求834对高压模块的寿命
这本书的实用价值不仅体现在技术细节的深度上,更在于它对工程实践中常见陷阱的全面揭示。我特别欣赏它对“降额设计”原则的反复强调和具体量化。在很多工程项目中,为了追求成本和体积,我们总是倾向于将器件推向其极限性能。而这本书通过大量的历史数据和失效分析报告,生动地展示了这种做法的隐患。它清晰地勾勒出不同降额百分比下,MTBF(平均无故障时间)的指数级增长关系。这种基于数据的、量化的论证,比任何口头警告都更有说服力。此外,书中关于高压测试和诊断技术的讨论也非常到位,例如如何使用高带宽的电压探头准确捕获关断尖峰,以及如何设计隔离式测量系统以保证人身安全和数据准确性。总而言之,它更像是一位经验丰富的老工程师,坐在你的旁边,在你动手之前,把所有可能遇到的“坑”都一一指给你看,让人读起来既踏实又感到对行业的敬畏。
评分我必须承认,这本书在讲解建模与仿真方面的章节,对我后续的算法优化起到了决定性的作用。我原本以为,对一个物理器件的建模无非就是套用几个标准的等效电路模型。然而,这本书挑战了这种传统观念。它详细阐述了如何将非线性的热效应、载流子寿命衰减等因素融入到开关瞬态模型中去,以构建一个能够更精确预测器件“老龄化”过程的仿真环境。书中介绍的基于有限元分析(FEA)与电路仿真相结合的方法论,提供了一个强大的工具箱,让我们可以预先“看到”模块在不同工作条件下的真实性能。特别是对于短路保护和过流限制的算法验证,通过高精度的器件模型,可以更早、更安全地迭代保护逻辑的时序参数,避免了以往那种依赖反复试错的低效过程。对于任何想将IGBT应用推向更高性能、更高可靠性边界的工程师来说,这部分内容是无价的。
评分这本书的理论深度和广度确实令人敬佩,尤其是在系统级的电磁兼容性(EMC)方面。过去我在调试变频器或逆变器时,经常被那些莫名其妙的射频干扰搞得焦头烂额,通常只能通过增加屏蔽罩或者被动滤波来“堵漏”。但是,这本书提供了一种自下而上的、更具前瞻性的解决思路。它不是简单地告诉你电磁干扰会产生,而是深入分析了IGBT模块的快速开关行为(即高 $ ext{di/dt}$ 和 $ ext{dv/dt}$ 变化率)如何激发PCB走线和母线结构产生寄生电感和电容,并最终成为有效的辐射源。书中的案例分析清晰地展示了如何通过优化DC母线电容的布局——具体到电容的串联与并联组合、安装位置的微小调整——来有效降低环路面积,从而将EMI辐射控制在允许的范围内。这种从物理层面上剖析问题的能力,极大地提升了我设计高功率密度产品的信心。
评分当我拿到这本关于高压IGBT模块的书时,最吸引我的是它对于驱动电路设计的那部分内容。说实话,在很多资料里,驱动部分总是被简化处理,无非就是一块现成的驱动芯片加上一些隔离元件。但这本书显然没有止步于此。它用大量的篇幅解析了开关过程中的“米勒效应”是如何影响栅极的dV/dt,以及这种影响如何反过来导致灾难性的集肤效应和过冲。作者展示了多种先进的栅极驱动拓扑结构,比如采用具有极低输出阻抗的定制驱动缓冲器,以确保在快速关断时,栅极电压能够被迅速钳位,从而减小开关损耗。更让我印象深刻的是,它对共模噪声(CMN)抑制策略的讲解。在强磁场和高频开关环境下,共模噪声是导致驱动信号失真的主要元凶之一。书中提供的共模扼流圈设计指南和PCB布局的最佳实践,简直就是实战经验的结晶,这比任何数据手册上的理论描述都要来得实际和有力得多。
评分这本书,坦率地说,让我对整个高压电力电子领域产生了全新的认识。我之前一直觉得,IGBT模块那种东西,无非就是个开关管子,只要选型合适,配上驱动电路,基本就能应付大部分场合了。但读完这本书的某些章节后,我才意识到自己是多么的狭隘。它深入探讨了热管理策略的精妙之处,那种不仅仅是“散热片要大点”这么简单的逻辑。作者非常细致地分析了不同封装形式下的热阻路径,以及在极端负载波动下,如何通过优化导热界面材料(TIM)的选择和安装压力,来确保器件的长期可靠性。特别是关于瞬态热阻抗曲线的解读,那简直是教科书级别的详尽。以前我总是在仿真软件里跑个稳态热分析就觉得万事大吉,但这本书让我明白,高频开关带来的周期性热应力,对焊锡层的疲劳损伤是多么的致命。它引导我去思考那些在设计初期很容易被忽略,但在实际运行中却可能导致灾难性故障的细节。这绝不是一本可以快速浏览的入门手册,它要求读者具备一定的电力电子基础,然后才能真正领略其对系统级可靠性的深刻洞察。
本站所有内容均为互联网搜索引擎提供的公开搜索信息,本站不存储任何数据与内容,任何内容与数据均与本站无关,如有需要请联系相关搜索引擎包括但不限于百度,google,bing,sogou 等,本站所有链接都为正版商品购买链接。
© 2025 windowsfront.com All Rights Reserved. 静流书站 版权所有