半導體的檢測與分析(XX版) 許振嘉 pdf epub mobi txt 電子書下載 2024

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許振嘉著

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發表於2024-06-02

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店鋪：典則俊雅圖書專營店

齣版社：科學齣版社有限責任公司

ISBN：9787030194626

商品編碼：29866592835

包裝：圓脊精裝

齣版時間：2018-03-01

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具體描述

圖書基本信息,請以下列介紹為準
書名	半導體的檢測與分析(XX版)
作者	許振嘉
定價	98.00元
ISBN號	9787030194626
齣版社	科學齣版社有限責任公司
齣版日期	2018-03-01
版次	1

其他參考信息（以實物為準）
裝幀：圓脊精裝	開本：128開	重量：0.4
版次：1	字數：	頁碼：

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目錄

內容提要

本書的主要內容包括：高分辨X射綫衍射，光學性質檢測分析，錶麵和薄膜成分分析，掃描探針顯微學在半導體中的運用，透射電子顯微學及其在半導體研究中的應用，半導體深中心的錶徵。以上內容包括瞭目前半導體材料（第三代半導體和低維結構半導體材料）物理錶徵的實驗技術和具體應用成果。限於篇幅，不能麵麵俱到，所以有些實驗技術，如LEED，RHEED，SIMS等，本書並未包括在內，這些問題將在*章綜述裏麵簡略闡述