高频CMOS模拟集成电路基础 9787030315199

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Duran Leblebici 著
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出版社: 科学出版社
ISBN:9787030315199
商品编码:29657914684
包装:平装
出版时间:2011-06-01

具体描述

基本信息

书名:高频CMOS模拟集成电路基础

定价:60.00元

售价:40.8元,便宜19.2元,折扣68

作者:Duran Leblebici

出版社:科学出版社

出版日期:2011-06-01

ISBN:9787030315199

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页码:

版次:1

装帧:平装

开本:12k

商品重量:0.481kg

编辑推荐


莱布莱比吉编著的《高频CMOS模拟集成电路基础(影印版)》是“国外电子信息精品著作”系列之一,系统地介绍了高频集成电路体系的构建与运行,重点讲解了晶体管级电路的工作体系,设备性能影响及伴随响应,以及时域和频域上的输入输出特性。

内容提要


莱布莱比吉编著的《高频CMOS模拟集成电路基础(影印版)》以设计为核心理念从基础模拟电路讲述到射频集成电路的研发。系统地介绍了高频集成电路体系的构建与运行,重点讲解了晶体管级电路的工作体系,设备性能影响及伴随响应,以及时域和频域上的输入输出特性。
《高频CMOS模拟集成电路基础(影印版)》适合电子信息专业的高年级本科生及研究生作为RFCMOS电路设计相关课程的教材使用,也适合模拟电路及射频电路工程师作为参考使用。

目录


作者介绍


文摘


序言



《精通高性能射频CMOS电路设计:原理、建模与实践》 内容概述: 本书深入探讨了现代射频(RF)CMOS集成电路设计的核心原理、关键技术与实用方法。旨在为读者提供一个全面、系统的学习框架,使其能够掌握高性能射频CMOS电路的设计、仿真、优化以及版图实现的全过程。内容涵盖了从基础的射频传输线理论到复杂的功率放大器、低噪声放大器、混频器、振荡器和锁相环等关键射频模块的设计。同时,本书也侧重于CMOS工艺的独特性及其对射频电路性能的影响,并提供了实用的建模技术和设计流程,帮助工程师和研究人员应对射频CMOS设计中的挑战。 详细内容: 第一部分:射频CMOS电路设计基础 第一章:射频电路基础理论 1.1 射频信号的特性与传输 介绍射频信号的频率范围、波长以及在传输线上的传播特性。 详细阐述史密斯圆图在阻抗匹配中的应用,包括反射系数、电压驻波比(VSWR)等概念。 讲解集总参数模型和分布参数模型的区别及其适用场景。 引入S参数(散射参数)的概念,阐述其在表征射频电路性能中的重要性,以及如何测量和应用S参数。 1.2 CMOS工艺及其在射频应用中的优势与挑战 回顾CMOS工艺的发展历程,重点介绍用于射频设计的先进CMOS工艺节点(如180nm, 90nm, 65nm, 45nm, 28nm及更先进的工艺)。 分析CMOS工艺在射频应用中的优势,例如高集成度、低功耗、低成本以及易于与数字电路集成。 深入探讨CMOS工艺在射频设计中面临的挑战,包括漏电流、衬底耦合、寄生效应、器件非理想性(如沟道长度调制、短沟道效应、载流子饱和速度等)对高频性能的影响。 介绍硅锗(SiGe)和体硅(SOI)等射频CMOS工艺的特点和应用。 1.3 射频CMOS电路中的噪声分析 理解射频电路中的主要噪声源:热噪声、散粒噪声、闪烁噪声(1/f噪声)。 深入讲解各类噪声的产生机理及其在CMOS器件(MOSFET、BJT)中的具体表现。 学习计算放大器、混频器等电路的噪声系数(Noise Figure, NF),并介绍噪声系数的优化策略。 讲解在S参数中如何包含噪声参数(Nf, Fmin, Gmin),以及最小噪声系数的实现方法。 1.4 射频CMOS电路中的线性度分析 定义并解释非线性失真产生的机理,包括谐波失真和互调失真。 介绍IP3(三阶交调点)、P1dB(1dB压缩点)等线性度指标,以及它们对射频系统性能的影响。 分析MOSFET器件的非线性特性,并探讨降低非线性的设计技巧,如偏置优化、器件尺寸调整、负反馈等。 讲解在S参数中如何包含非线性参数(如HD2, HD3, IMD2, IMD3),以及如何进行非线性仿真。 第二部分:核心射频CMOS电路模块设计 第二章:射频CMOS阻抗匹配与滤波器设计 2.1 射频CMOS输入/输出匹配网络设计 详细介绍Lumped Element(集总元件)和Distributed Element(分布元件)匹配网络的原理和设计方法。 讲解使用电感、电容、传输线(微带线、带状线)等实现阻抗匹配的技术。 介绍多级匹配网络的设计,以实现更宽的带宽和更优的匹配性能。 分析匹配网络对增益、噪声系数和线性度的影响。 2.2 射频CMOS滤波器设计 介绍不同类型的射频滤波器(低通、高通、带通、带阻)及其在射频前端的应用。 讲解基于LC谐振器、传输线以及SAW/BAW(表面声波/体声波)等技术实现的滤波器。 分析CMOS工艺中电感器的Q值、寄生电容等参数对滤波器性能的影响。 介绍主动滤波器的设计原理及其在CMOS集成中的优势。 第三章:低噪声放大器(LNA)设计 3.1 LNA的设计目标与指标 阐述LNA在射频接收链路中的作用,以及其对系统性能的关键影响。 重点分析LNA的关键性能指标:增益(Gain)、噪声系数(NF)、输入/输出回波损耗(S11, S22)、线性度(IP3, P1dB)。 探讨不同应用场景下LNA设计取舍的原则(如低功耗、低噪声、高线性度)。 3.2 LNA的设计拓扑 共源(Common-Source)LNA: 详细分析其工作原理、优缺点,以及如何通过栅极或漏极感性负载实现输入匹配。 共源共栅(Common-Source Common-Gate)LNA: 讲解其在实现良好输入匹配和隔离方面的优势,以及适用场景。 Cascode LNA: 分析其高输出阻抗、改善隔离度和提高增益的特性。 交叉耦合(Cross-Coupled)LNA: 重点介绍其在低噪声和低功耗下的性能优势,以及其在振荡器中的应用。 3.3 LNA的偏置与功耗优化 介绍不同偏置方案对LNA性能的影响,如固定偏置、自偏置等。 分析功耗与噪声系数、线性度之间的权衡关系。 讲解低功耗LNA的设计策略,例如使用电感降压、减小偏置电流等。 3.4 LNA的版图设计考虑 讨论LNA版图设计中的关键问题,如衬底耦合、器件寄生参数、电源/地线的去耦、电磁干扰(EMI)等。 介绍差分LNA的版图设计要点,以提高共模抑制比(CMRR)。 第四章:功率放大器(PA)设计 4.1 PA的设计目标与指标 阐述PA在射频发射链路中的作用,以及其对系统效率、输出功率、线性度和功耗的影响。 重点分析PA的关键性能指标:输出功率(Pout)、功率附加效率(PAE)、漏极效率(Drain Efficiency)、线性度(ACPR, EVM)、增益(Gain)。 介绍不同PA应用场景(如蜂窝通信、Wi-Fi)的设计需求。 4.2 PA的设计拓扑 A类、AB类、B类、C类PA: 详细分析各类PA的偏置工作模式、效率和失真特性。 D类、E类、F类、S类PA(开关模式PA): 重点介绍其高效率的工作原理,以及在CMOS工艺中实现的可能性和挑战。 线性化技术: 介绍前馈(Feedforward)、反馈(Feedback)、预失真(Predistortion)等线性化技术在PA设计中的应用。 4.3 PA的偏置与效率优化 介绍固定偏置、自适应偏置等偏置策略。 讲解如何通过选择合适的器件尺寸、偏置电流和匹配网络来优化PA的效率和输出功率。 分析效率与失真之间的权衡。 4.4 PA的版图设计考虑 强调PA版图设计中的高电流密度、寄生参数、热效应等问题。 介绍差分PA的版图设计,以提高电源抑制比(PSR)。 第五章:混频器(Mixer)设计 5.1 混频器的基本原理与分类 阐述混频器在射频系统中实现频率转换的作用。 介绍不同类型的混频器:单端混频器、平衡混频器、双平衡混频器。 讲解MOSFET、BJT等器件在混频器中的应用。 5.2 混频器的设计指标 重点分析混频器的关键性能指标:转换增益(Conversion Gain, CG)、噪声系数(NF)、线性度(IIP3)、本振(LO)泄漏、LO-RF/IF隔离度、LO-RF/IF混频。 5.3 常用混频器拓扑 二极管混频器: 简要回顾其原理。 MOSFET混频器: 详细介绍开关式混频器(如GILBERT Cell)、倍频器式混频器等。 LO驱动电路: 介绍本振驱动器对混频器性能的影响。 5.4 混频器的版图设计考虑 分析混频器版图中的隔离度、寄生效应和噪声抑制问题。 介绍差分混频器设计以提高LO/RF隔离度。 第六章:振荡器(Oscillator)与锁相环(PLL)设计 6.1 射频CMOS振荡器设计 振荡器的基本原理: 介绍正弦振荡器的Barkhausen判据。 LC振荡器: 详细分析其结构、工作原理,如Colpitts、Hartley、Clapp振荡器。 环形振荡器: 介绍其在CMOS集成中的优势和劣势。 振荡器的性能指标: 相位噪声(Phase Noise)、调谐范围(Tuning Range)、功耗。 噪声源分析与抑制: 讲解热噪声、闪烁噪声对相噪的影响,以及降低相噪的设计技巧(如提高Q值、使用差分结构、优化偏置)。 6.2 锁相环(PLL)基础 PLL的组成: 相位检测器(Phase Detector, PD)、低通滤波器(Loop Filter, LF)、压控振荡器(Voltage Controlled Oscillator, VCO)。 PLL的工作原理: 负反馈实现频率和相位锁定。 PLL的性能指标: 锁定范围(Lock Range)、跟踪范围(Tracking Range)、抖动(Jitter)、相位噪声、功耗。 6.3 压控振荡器(VCO)在PLL中的应用 介绍LC VCO作为PLL中VCO的优势。 讲解VCO调谐范围的确定与优化。 6.4 PLL的设计流程与考虑 介绍PLL的设计步骤,包括相位检测器选择、环路滤波器的设计、VCO的选定。 分析环路带宽、阻尼因子等参数对PLL稳定性和动态性能的影响。 讲解PLL的版图设计注意事项,如噪声隔离、电源抑制。 第三部分:射频CMOS电路的建模、仿真与验证 第七章:射频CMOS器件建模与仿真 7.1 MOSFET高频模型 介绍SPICE模型(如BSIM3, BSIM4, BSIM-CMG)在射频电路仿真中的应用。 分析MOSFET的高频等效电路模型,包括寄生电阻、电容和电感。 讲解参数提取(Parameter Extraction)的重要性及其方法。 7.2 电感器、电容器等无源器件模型 介绍CMOS工艺中集成电感器的模型,包括电感值、品质因数(Q值)、自谐振频率(SRF)、寄生电容。 分析集成电容器的寄生效应。 讲解传输线模型(如微带线、带状线)及其在高频电路中的应用。 7.3 射频电路仿真工具介绍 介绍主流的射频电路仿真软件,如Cadence Spectre RF, ADS, HFSS等。 讲解如何建立射频仿真环境,设置仿真类型(S参数、瞬态、噪声、AC、DC、PNOISE等)。 强调仿真结果的解读与分析。 第八章:射频CMOS电路的版图设计与验证 8.1 射频CMOS版图设计原则 寄生效应控制: 深入讲解如何减小寄生电容、寄生电感和衬底耦合。 噪声隔离: 介绍屏蔽、差分走线、地线网格等技术。 高频走线设计: 讲解传输线阻抗控制、耦合抑制。 对称性设计: 强调差分电路和对称结构对性能的影响。 电源和地线的规划: 介绍低阻抗电源/地线网格、去耦电容的应用。 8.2 版图后仿真(Post-Layout Simulation) 介绍版图寄生提取(LVS/DRC/RCX)的过程。 讲解如何进行版图后仿真,以考虑版图布局对电路性能的影响。 强调版图后仿真在验证电路性能和发现潜在问题中的重要性。 8.3 射频CMOS电路的测试与表征 介绍射频片上测试(On-chip testing)的挑战与方法。 讲解常用的测试仪器,如网络分析仪、信号发生器、频谱分析仪、示波器。 介绍实际的测试流程,以及如何根据测试结果对设计进行优化。 第四部分:新兴技术与未来发展 第九章:先进射频CMOS技术与应用 9.1 毫米波(mmWave)CMOS电路设计 介绍毫米波频段的特点、应用(如5G通信、雷达)。 分析在毫米波频段CMOS设计面临的挑战,如损耗增加、器件性能下降。 介绍毫米波CMOS电路的设计方法和技术。 9.2 高频CMOS传感器与成像 探讨CMOS技术在射频传感器、生物传感器、成像系统中的应用。 介绍相关设计方法和挑战。 9.3 能量收集与低功耗射频 介绍能量收集技术在无线传感器网络和IoT设备中的应用。 探讨低功耗射频电路的设计策略。 总结: 本书力求理论与实践相结合,通过清晰的讲解、丰富的实例和实用的指导,帮助读者全面掌握高性能射频CMOS集成电路的设计理念和工程实践。无论是初学者还是有经验的工程师,都能从中获益,为设计下一代先进的射频通信系统奠定坚实的基础。

用户评价

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这本书的印刷质量确实让人眼前一亮,纸张的触感和墨水的清晰度都达到了专业水准。尤其是在处理那些复杂的电路图和波形时,细节的还原度非常到位,这对于我们这些需要反复核对细节的工程师来说,简直是福音。内页的设计也考虑到了读者的使用习惯,页边距留得恰到好处,方便书写笔记和标注重点。装帧结实耐用,即便是经常翻阅也不会轻易散页,这在厚重的技术书籍中尤为重要。不过,如果能在章节的开始增加一些彩色的示意图来预示本章的重点内容,视觉上可能会更加友好一些,毕竟纯黑白的排版,对于初学者来说,长时间阅读还是有些枯燥的。整体来说,从硬件角度来看,这本书绝对是教科书级别的制作,拿在手里就有一种沉甸甸的专业感。

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我对这本书的结构编排深感赞赏,它仿佛遵循了一条清晰的逻辑链条,从最基础的MOS管的物理原理开始,逐步深入到实际的电路应用。作者的叙述方式非常严谨,每一步推导都清晰可循,没有出现那种生硬的、跳跃式的结论。我特别喜欢它对各个器件特性的深入剖析,不仅仅是给出了公式,更重要的是解释了这些公式背后的物理意义,这对于真正理解“为什么”比死记“是什么”重要得多。特别是关于噪声和失真分析的那几个章节,讲解得鞭辟入里,把抽象的理论概念转化为了可以量化的指标,让我对高频电路的设计有了更深刻的洞察力。对于自学者而言,这种层层递进的教学法无疑大大降低了学习曲线的陡峭程度。

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这本书的语言风格非常鲜明,它既保留了学术著作应有的精确和权威性,又不失工程实践中的那种务实精神。作者在阐述复杂概念时,仿佛有一位经验丰富的导师在身侧耳提面命,那种娓娓道来的感觉让人倍感亲切。我发现,它并没有一味地堆砌公式,而是巧妙地穿插了大量的工程实例和“陷阱”提示,这些“过来人”的经验之谈,恰恰是许多标准教材中所缺乏的宝贵财富。例如,它对版图效应(layout effect)的讨论,就远超出了传统电路理论的范畴,直接触及了芯片制造的实际约束。这种理论与实践紧密结合的叙述,极大地增强了阅读的趣味性和实用性,让人忍不住想立刻动手搭建仿真模型来验证书中的每一个论点。

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坦白说,初次接触这本书时,我有些担心内容会过于陈旧,毕竟模拟集成电路领域技术更新迭代得很快。然而,阅读之后发现,书中打下的基础——关于器件的本征特性、共模抑制比(CMRR)的限制因素、以及二阶效应的建模——这些核心原理是具有极强生命力的。虽然书中可能没有收录最新一代的工艺节点参数,但它构建的分析框架和思维模式,是跨越工艺代际的。这本书更像是一本内功心法,它教会你如何应对任何新出现的工艺挑战,而不是仅仅停留在对特定工艺的描述上。这种对底层原理的深刻挖掘,远比那些只关注表面特性的“新潮”书籍更有价值,是构建坚实专业知识体系的基石。

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这本书的深度和广度都让人印象深刻,它成功地在“科普”与“专业”之间找到了一个完美的平衡点。对于一名已经具备基本电路知识的研究生来说,这本书提供了一个极佳的进阶平台,它把许多在课堂上被一笔带过的内容,进行了细致入微的展开和论证。特别是对于那些需要从事射频前端设计的人员,书中关于匹配网络设计和寄生参数对高频响应影响的章节,无疑提供了详尽的理论指导和计算方法。唯一的不足或许在于,对于完全没有接触过半导体物理的初学者来说,开篇的几个章节可能会显得略微抽象,需要结合其他辅助材料来辅助理解。但总的来说,这是一部能够经受住时间考验的经典之作,它的价值在于建立起一套完整的、逻辑自洽的高频模拟设计思维体系。

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