数字集成电路测试优化 李晓维 9787030278944 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

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李晓维 著

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• 数字电路
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• 优化
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• EDA
• 芯片测试
• 故障诊断
• 可靠性
• 半导体

店铺： 天乐图书专营店

出版社： 科学出版社

ISBN：9787030278944

商品编码：29689339414

包装：精装

出版时间：2010-06-01

基本信息

书名：数字集成电路测试优化

定价：58.00元

作者：李晓维

出版社：科学出版社

出版日期：2010-06-01

ISBN：9787030278944

字数：

页码：

版次：1

装帧：精装

开本：16开

商品重量：0.740kg

编辑推荐

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内容提要

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本书内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面：测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理，激励压缩的有效方法，测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理，静态测试功耗优化方法，动态测试功耗优化；测试压缩与测试功耗协同优化方法；测试压缩与测试调度协同优化方法；并以国产64位高性能处理器(龙芯2E和2F)为例介绍了相关成果的应用。
全书阐述了作者及其科研团队自主创新的研究成果和结论，对致力于数字集成电路测试与设计研究的科研人员(尤其是在读研究生)具有较大的学术参考价值，也可用作集成电路专业的高等院校教师、研究生和高年级本科生的教学参考书。

目录

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作者介绍

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文摘

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序言

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《现代集成电路设计与验证》 内容简介 在信息时代飞速发展的浪潮中，集成电路（IC）作为现代电子系统的核心，其性能、功耗和可靠性直接关系到整个科技产业的进步。从智能手机到高性能服务器，从汽车电子到航空航天，集成电路无处不在，深刻地改变着我们的生活和工作方式。然而，随着集成电路设计的复杂度呈指数级增长，如何高效、准确地完成设计和验证，确保芯片能够顺利流片并满足预期的功能和性能要求，已成为当前集成电路领域面临的重大挑战。《现代集成电路设计与验证》正是聚焦于这一核心议题，旨在为读者提供一套系统、深入的集成电路设计与验证方法论和实践指南。 本书从理论基础出发，循序渐进地阐述了现代集成电路设计的全流程，涵盖了从系统级规范到最终版图输出的每一个关键环节。首先，本书深入探讨了数字集成电路设计的基本原理，包括逻辑设计、状态机设计、时序分析、功耗优化等核心概念。读者将学习如何使用硬件描述语言（HDL），如Verilog或VHDL，来抽象描述电路的功能，并理解如何将高层次的抽象设计转化为低层次的门级网表。 在逻辑设计之后，本书详细介绍了集成电路的综合（Synthesis）过程。综合是将HDL代码转化为由标准逻辑门组成的网表的过程，是连接设计到物理实现的桥梁。本书将深入讲解综合的优化目标，例如面积（Area）、时序（Timing）和功耗（Power）的权衡，以及如何通过调整综合选项和约束来指导综合工具达到最佳结果。读者将理解不同综合策略的优缺点，并学会如何根据项目需求选择合适的综合方案。 时序分析（Timing Analysis）是保证集成电路稳定运行的关键环节。本书将详尽阐述静态时序分析（STA）的原理，包括建立时间（Setup Time）和保持时间（Hold Time）违例的产生原因、检测方法和修复策略。读者将学习如何解读STA报告，识别关键路径，并掌握通过逻辑修改、时钟调整或插入缓冲器等手段来解决时序问题。此外，对于动态时序分析（DTA）在某些复杂场景下的应用，本书也将有所涉猎。 功耗分析与优化是现代集成电路设计中越来越受到重视的方面，尤其是在移动设备和物联网领域。本书将全面介绍数字集成电路的功耗来源，包括动态功耗和静态功耗，并深入探讨各种功耗优化技术，如时钟门控（Clock Gating）、功率门控（Power Gating）、动态电压频率调整（DVFS）以及低功耗设计技术（如多阈值电压CMOS，MTCMOS）。读者将学会如何利用仿真和静态分析工具来评估电路的功耗，并掌握如何在设计早期就采取有效的功耗管理措施。 布局布线（Place and Route）是集成电路物理设计中的核心任务，它将综合后的门级网表映射到实际的芯片版图上。本书将详细介绍布局（Placement）和布线（Routing）的基本算法和策略，包括标准单元布局、宏单元布局、全局布线、详细布线以及信号完整性（Signal Integrity）和电源完整性（Power Integrity）的考虑。读者将理解不同布局布线技术的特点，以及如何通过优化设计和调整工具参数来获得高性能、低功耗和高良率的物理实现。 验证（Verification）是确保集成电路设计正确性的关键步骤。本书将系统介绍集成电路验证的各个层面，从功能验证到形式验证，再到最后的物理验证。功能验证是验证过程中最耗时和最复杂的部分，本书将重点介绍基于仿真（Simulation-based）的验证方法，包括测试平台（Testbench）的构建、激励的生成、检查点（Checkpoints）的设置以及覆盖率（Coverage）的度量。读者将学习如何利用先进的验证方法学，如事务级建模（TLM）、约束随机验证（Constrained-Random Verification）和断言（Assertions），来提高验证的效率和有效性。 形式验证（Formal Verification）作为一种强大的验证手段，能够提供完备的功能正确性证明。本书将介绍关键的形式验证技术，如模型检查（Model Checking）和等价性检查（Equivalence Checking），并阐述它们在验证芯片设计中的应用场景和优势。 物理验证（Physical Verification）是验证集成电路物理实现是否符合设计规则（DRC）和电气规则（ERC）的过程。本书将深入讲解DRC检查、LVS（Layout Versus Schematic）检查、以及金属填充（Metal Fill）和天线效应（Antenna Effect）的修复等物理验证环节。读者将理解物理验证对流片成功的重要性，并学会如何使用相关的验证工具来发现和修复潜在的物理设计缺陷。 此外，本书还将涵盖一些与现代集成电路设计验证紧密相关的重要主题。例如，在系统级设计方面，本书将介绍系统级建模和仿真技术，以及如何从系统级规格出发，逐步细化到RTL设计，从而提高设计的早期可控性。对于先进工艺节点下的设计挑战，本书也将有所探讨，包括寄生参数提取、串扰（Crosstalk）效应、以及可靠性（Reliability）等问题。 为了帮助读者更好地理解和掌握所学知识，本书在每个章节都配有丰富的实例和练习，并结合了行业内常用的EDA（Electronic Design Automation）工具的使用技巧。通过理论学习与实践操作相结合，读者将能够逐步构建起坚实的集成电路设计与验证知识体系，并具备独立完成中小型集成电路项目设计和验证的能力。 《现代集成电路设计与验证》不仅适合于高等院校的电子工程、微电子学、计算机科学等相关专业的学生，也能够为从事集成电路设计、验证、工艺开发等工作的工程师提供宝贵的参考和指导。通过学习本书，读者将能够深刻理解现代集成电路设计与验证的复杂性与重要性，掌握先进的设计和验证方法，从而在快速发展的集成电路行业中取得成功。

评分☆☆☆☆☆

这本书的结构编排真的值得称赞，它没有采用那种流水账式的章节推进，而是非常有逻辑地将测试的各个关键环节串联起来，形成了一个完整的知识体系。我特别喜欢它在讲解测试覆盖率和故障模型时的深度和广度。很多书只是简单提一下Stuck-at故障，但这本却详细阐述了更先进的延迟故障模型以及如何针对这些复杂故障设计有效的测试激励。阅读过程中，我发现作者在论述某些优化算法时，会穿插一些非常形象的比喻和类比，这极大地帮助我理解了那些抽象的数学概念。例如，在描述迭代优化过程时，他用了一个生活中的例子来类比，瞬间就让晦涩的算法变得直观易懂了。这本书的图表绘制得也十分精良，那些时序图、流程图和结构图，无一不精确地服务于文字的阐述，让人一眼就能抓住重点。对于正在从事或者准备从事IC设计验证和DFT（设计可测性）工作的年轻工程师来说，这本书简直就是一本实战宝典，它教会你的不仅仅是“怎么做”，更是“为什么这样做”。

评分☆☆☆☆☆

作为一名资深工程师，我阅读过不少关于EDA工具和IC流程的书籍，但很少有能像《数字集成电路测试优化》这样，将“优化”二字做到如此细致入微的。书中对测试压缩技术和BIST参数选择的详细论述，给我留下了极其深刻的印象。特别是关于如何利用统计学原理来优化测试序列生成，这部分内容深入浅出，让我对原本感觉高不可攀的优化理论有了更实际的把握。此外，书中对不同工艺节点下的测试挑战也有所涉及，这对于身处快速迭代的半导体行业中的人来说至关重要。它不是一本停留在理论层面的“睡前读物”，而是能让你在实际工作中立刻找到应用的“工具箱”。每一次翻阅，都会有新的收获，因为你会发现自己对某个细节的理解又加深了一层。这本书无疑是数字集成电路测试领域里的一部力作，值得所有相关领域的专业人士珍藏和研读。

评分☆☆☆☆☆

坦率地说，一开始拿到这本《数字集成电路测试优化》时，我还有点担心它会太偏向于理论推导，毕竟涉及到优化的内容，往往容易变得枯燥乏味。但事实证明我的顾虑是多余的。这本书在理论与实践的平衡上拿捏得恰到好处。它不仅仅是告诉我们测试很重要，而是深入到了如何通过优化手段，在保证测试质量的前提下，最大程度地缩短测试时间并降低测试成本。我特别欣赏作者对于“成本效益”这一工程核心理念的贯彻。比如，在讨论扫描链设计时，它不仅给出了最优化的拓扑结构，还详细分析了不同结构对测试时间和功耗的影响。这种全方位的考量，体现了作者对整个芯片生命周期管理的深刻理解。读完前几章后，我立刻回去审视了我们现有项目中的测试策略，发现了很多可以改进的空间，特别是关于片上自测（BIST）部分的讲解，给了我不少启发，感觉自己的技术视野一下子开阔了很多，不再局限于固有的思维定式。

评分☆☆☆☆☆

我最近淘到一本关于集成电路测试和优化的书，名字叫《数字集成电路测试优化》，作者是李晓维，书号是9787030278944。说实话，我对这个领域一直抱有浓厚的兴趣，但市面上很多教材要么过于理论化，要么不够贴近实际工程应用。这本书的出现，着实让我眼前一亮。它不像那种堆砌公式的教科书，而是真正深入到了实际的测试流程和优化策略中去。尤其让我印象深刻的是，书中对设计中潜在的测试难题进行了深入剖析，并提出了切实可行的解决方案。比如，在处理高复杂度的SoC（系统级芯片）设计时，如何高效地生成测试向量，如何降低测试成本，这些都是工程师们头疼的问题，而这本书里给出了不少独到的见解和算法上的改进。我感觉作者不仅是理论功底扎实，更重要的是，他非常理解业界的需求，行文风格上，既有学术的严谨性，又不失工程实践的灵活性，读起来一点也不枯燥，反而像是在跟一位经验丰富的同行交流心得。那种把复杂问题层层剥开，直到看到本质的写作手法，非常能激发读者的学习热情。

评分☆☆☆☆☆

这本书的语言风格非常独特，它不是那种刻板的学术腔调，而更像是一位资深专家在娓娓道来，字里行间透露着他对这个领域的深刻洞察和热爱。作者在解释复杂概念时，总是能保持一种清晰、简洁的叙述方式，避免了不必要的专业术语堆砌，使得即便是初次接触这个领域的读者，也能相对平顺地进入状态。我注意到书中很多关于“可测试性设计”（DfT）的章节，都融入了对未来趋势的预测，比如对新兴的存储器测试技术和低功耗测试挑战的讨论，这让这本书的时效性非常强，不像是出版已有一段时间的书籍。更难能可贵的是，作者在提供解决方案的同时，也会探讨每种方案的局限性，这是一种非常负责任的学术态度，它教会我们不要迷信任何单一的最佳方案，而是要根据具体的设计约束灵活选择。这种辩证的思维方式，对提升读者的批判性思维非常有帮助。