GB/T 13539.4-2016 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求

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  • GB/T 13539
  • 4-2016
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具体描述

 
标准中文名称:  GB/T 13539.4-2016 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求
标准英文名称:  
ISBN:  GB/T 13539.4-2016
出版语种:  
总页数字:
 44/80
出版社:  中国标准出版社
出版时间:  
 装帧:  平装
作者:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局   
定价:  39.00

ICS号:   29.120.50
中标分类号:   K 31
标准技术委员会:   中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
标准中文名称:   低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求
发布日期:   2016-04-25
实施日期:   2016-11-01
商品编号:207308  定价:¥39.00  一口价:¥33.15  折扣:85%折  立即节省:¥5.85

本部分的补充要求适用于安装在具有半导体装置的设备上的熔断体,该熔断体适用于标称电压不超过交流1 000V或直流1 500V的电路。如适用,还可用于更高的标称电压的电路。

本部分的目的是确定半导体熔断体的特性,从而在相同尺寸的前提下,可以用具有相同特性的其他型式的熔断体替换半导体熔断体。


GB/T 13539.4-2016 标准解读与应用——高压及特种熔断器设计与测试 书籍简介 本书旨在深入剖析与当前国家标准 GB/T 13539.4-2016 《低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求》领域不相关的、但与电气保护和熔断器技术密切相关的另一系列标准和技术实践。我们将焦点完全置于高压系统保护用熔断器、工业级特种熔断器(如射频熔断器、温度敏感熔断器等)的设计、制造、选型、测试规范以及特定应用场景的工程应用。 本书的读者群体主要面向从事高压电器设计、电力系统继电保护、特种设备制造、质量检测与标准制定等工作的工程师、技术人员、科研人员及相关专业的学生。 --- 第一部分:高压熔断器基础与标准体系解析(聚焦于额定电压1kV以上系统) 本部分详细阐述了高压熔断器在电力系统中的关键作用,区别于低压半导体保护熔断体的应用范围。我们将重点解析与高压熔断器相关的国际和国内标准体系,特别是IEC 60282系列标准及其对应或参照的GB/T 11022系列(高压电器通用技术要求)中对高压熔断器的特定要求。 第一章:高压熔断器的分类、原理与结构特征 1.1 高压熔断器的分类体系: 按照电压等级(如3kV、6kV、10kV、35kV及以上)、开断能力、设计结构(如限流型、限制过流型)进行详细分类。 1.2 消弧机理的深度探讨: 详述高压系统短路电流的特点(如高次谐波影响、暂态恢复电压效应),以及与低压熔断器截然不同的金属蒸汽喷射、熔体再生等高压灭弧原理。 1.3 结构解析: 重点分析高压限流熔断器(如油浸式、充砂式、SF6气体辅助式)的内部构造,包括熔芯材料选择、填充料的特性、以及壳体(瓷质或环氧树脂)的耐压与机械强度设计。 第二章:高压熔断器的主要设计参数与额定值 本章将详细阐述高压熔断器与低压熔断器在参数定义上的本质区别。 2.1 额定电压与绝缘配合: 探讨额定工作电压、最高系统电压、介质耐受电压(工频耐受、雷电冲击耐受)的确定与校核。 2.2 开断能力的工程确定: 深入分析短路电流的计算方法(对称/不对称电流、衰减系数),以及熔断器在不同开断电流下的性能要求(最小开断电流、额定开断电流)。 2.3 额定电流与热特性: 熔断器额定电流与长时间载流能力的关联,重点讨论预燃特性在高压设备(如变压器、电缆保护)选型中的影响,与半导体保护熔断体的连续工作电流特性进行对比。 第三章:高压熔断器的性能试验与验收规范 本部分完全聚焦于高压熔断器为满足其运行环境而必须通过的严格测试流程,这些流程远超GB/T 13539.4-2016所涵盖的低压半导体测试要求。 3.1 短路试验的严苛要求: 依据IEC 60282-1/GB/T 11023 标准,详细描述短路试验回路的构建、电流波形控制(尤其关注$L/R$比对暂态恢复电压的影响)、以及试验过程中的监控参数。 3.2 考核指标: 熔断器在开断试验中必须满足的条件——电流中断、无爆炸性失效、壳体无击穿、熔体残留物控制等。 3.3 温升试验与长期载流能力验证: 介绍在额定电流下,设备各连接端子、熔体部位的温升限值要求,以确保其在电网长期稳定运行的可靠性。 --- 第二部分:特种熔断技术与前沿应用 本部分转向工业和高频领域中,对响应速度和特定环境适应性有极高要求的熔断器技术,这些技术通常不涉及电力系统的标准大电流保护。 第四章:射频与电子元件保护用超快熔断器(Fast-Acting Fuses) 4.1 超快熔断器的设计理念: 探讨如何通过减小熔体尺寸、使用特殊合金(如金/银合金)以及优化封装技术,实现微秒级的熔断时间。 4.2 I²t 值的工程应用: 详细解释能量积分值 $I^2t$(特别是额定开断能量)在电子电路和射频设备保护中的决定性作用,及其与材料的瞬态热响应的关系。 4.3 封装与引线设计: 分析贴片式(SMD)和通孔式熔断器在焊锡过程中的耐温性,以及引线电感对快速反应速度的影响。 第五章:温度敏感与自恢复型保护器件 5.1 温度敏感熔断器(Thermal Fuses)的工作原理: 聚焦于利用低熔点合金或相变材料实现的基于环境温度或自身发热的保护机制,常用于电机、变压器绕组的过热保护。 5.2 PPTC(聚合物正温度系数)器件与熔断器的对比分析: 介绍自恢复型保护器件的特性,分析其与一次性熔断器件在工程应用中的取舍,特别是在循环过载保护场景下的优势与劣势。 第六章:电容、电池组及新能源领域专用熔断技术 6.1 储能系统(ESS)熔断器的选型挑战: 针对电池组的直流大电流、低电压高能量密度特性,分析专用直流熔断器的特殊要求(如双向电流响应、高开断能量需求)。 6.2 电容器保护熔断体的特殊要求: 探讨交流系统电容器组在分合闸瞬间可能产生的涌流特性,以及专用熔断体如何应对这种循环冲击。 --- 第三部分:熔断器与继电保护的系统配合 本部分关注熔断器作为保护元件时,如何与更高级的继电保护装置实现可靠的选择性(选择性)配合。 第七章:选择性配合的理论与实践 7.1 时间-电流特性曲线的绘制与分析: 如何将熔断器(尤其高压限流型)的熔断特性曲线与继电保护动作曲线叠加,以保证下游故障被熔断器切除,上级设备保持不动作。 7.2 熔断器与断路器的配合: 详细讨论在同一保护区域内,熔断器与自动重合闸断路器在动作时间上的协调策略,特别是在电缆保护和变电站母线保护中的应用实例。 第八章:熔断器的寿命评估与维护 8.1 长期老化对性能的影响: 探讨环境腐蚀、机械应力以及长时间载流对熔体材料和消弧介质性能的影响,分析熔断器寿命终结的标志。 8.2 定期检测与状态监测: 介绍非侵入式检测技术(如红外热成像、微弱电流监测)在评估高压熔断器连接点状态和内在可靠性方面的应用方法。 本书通过上述八个章节的系统性阐述,为读者构建了一个完整的、侧重于高压及特种应用领域的熔断器技术知识体系,是理解电气设备保护中除低压半导体保护外所有关键环节的实用参考手册。

用户评价

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坦白讲,我最初拿到这本书时,担心会陷入枯燥的标准条文的泥沼,但阅读之后发现,这完全是多虑了。作者巧妙地运用了大量的图表和流程图来阐述复杂的配合关系,比如熔断器与后级保护元件之间的时序协调问题。书中对于如何通过熔断体的快速熔断特性来限制短路电流峰值,从而保护半导体器件免受过热损伤的论述,逻辑严密且充满洞察力。特别是关于不同熔断器设计结构(如管状、刀式)在应对不同故障模式时的优劣对比,描述得十分到位,这对于优化设备内部空间布局和散热设计有直接指导意义。每一次翻阅,都能发现一些之前被忽略的细微之处,比如对熔断体外壳材料热膨胀系数的考量,这些在常规手册中几乎不会提及,但在高可靠性设计中却是至关重要的“魔鬼细节”。这本书的阅读体验,更像是在与一位经验丰富的资深专家进行深度技术交流。

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这本书的价值,尤其体现在它对“可靠性”这个核心概念的诠释上。在电力电子领域,一次熔断体的失效可能意味着整个设备甚至生产线的停机,因此,对设计规范的理解必须是零误差的。这本书的第四部分,在这方面做到了极致。它详细阐述了在极端工况下,熔断体材料的衰减模型以及环境温度对其性能的影响。我发现书中对长期工作状态下,熔断体熔丝材料的蠕变和疲劳现象的分析尤为精辟。这种对细节的深究,远远超出了仅仅满足基本分断能力的层面,而是深入到了确保设备数十年稳定运行的哲学层面。对于我们这些需要对产品进行长期质保和安全认证的工程师来说,书中引用的那些国际互认的验证方法,极大地简化了我们的合规工作。它不仅仅是告诉你“应该做什么”,更重要的是解释了“为什么必须这样做”背后的物理和电气原理。

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我尤其欣赏这本书在跨领域知识融合方面的努力。它成功地将基础电气理论与半导体物理特性紧密结合起来,为读者构建了一个完整的保护体系认知框架。在处理大功率逆变器或电源系统中,对瞬态过电流的控制是重中之重,而这本书正是聚焦于此。它详细描述了熔断体从感知故障到完全分断电路过程中的能量传递和热量累积过程,并通过具体参数的设定,指导读者如何实现“恰到好处”的保护——既不能过早熔断造成误动作,又必须在器件损伤阈值前切断电源。这种平衡的艺术,才是高水平电气设计的精髓。书中对不同国际标准(如IEC、UL等)在半导体保护熔断体要求上的细微差别也进行了对比分析,这对于进行国际贸易和产品本地化的设计团队来说,简直是雪中送炭。这本书无疑为理解和实践下一代高功率密度电子设备的安全规范,奠定了坚实的理论基础。

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我不得不说,这本书的编排逻辑非常严谨,它不是那种堆砌术语的晦涩文本,而是层层递进,引导读者逐步掌握复杂的技术要点。阅读体验上,我尤其欣赏作者在解释“补充要求”这一概念时的用心。它清晰地界定了通用熔断器标准与针对半导体保护这一特殊领域之间的差异,例如,对冲击电流承受能力、最小分断能力以及非线性熔断特性的强调。这使得我能够更精准地理解,为什么在保护敏感的IGBT模块或晶闸管时,普通的熔断器是无法胜任的。书中对不同保护级别的熔断体进行了细致的分类和图解,配合标准的测试曲线,让原本容易混淆的参数变得条理分明。我尝试将书中的某些章节内容应用到我正在进行的项目中,发现其提供的设计裕度建议非常具有参考价值,有效规避了因标准理解偏差可能带来的设计风险。总而言之,这是一份兼具权威性与实用性的技术参考资料。

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这本书真是让我大开眼界,尤其是那些关于半导体保护熔断体的技术细节,简直是工程人员的宝典。我一直在寻找关于低压熔断器在特定应用场景下的性能标准,而这本书的第四部分完美地填补了我的知识空白。内容深入浅出地剖析了在处理高能量、快速响应要求的半导体电路保护时,熔断体需要满足的严苛条件。读完之后,我对于如何根据不同的电压等级、分断能力和I²t特性曲线来选择合适的熔断器有了更清晰的认识。作者在论述中穿插了大量实际案例和测试标准,使得抽象的技术规范变得具体可感。比如,书中对熔断体热特性和动态性能的描述,精确到毫秒级的响应时间对比,让我深刻理解了为什么在某些关键应用中,标准化的测试流程是多么重要。它不仅仅是一本规范的集合,更是一部关于如何确保电力系统可靠性的实战指南。对于任何从事电力电子、工业自动化或电气设备设计的人来说,这本书的价值无可替代,它提供的知识深度远超一般的行业手册。

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