具体描述
基本信息
书名：大豆育种的分子标记系统新进展(英文版)
定价：120.00元
作者：edited by Wenbin Li, David A. Lightfoot
出版社：科学出版社
出版日期：2012-08-01
ISBN：9787030346780
字数：
页码：
版次：1
装帧：平装
开本：16开
商品重量：0.540kg
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内容提要
现代分子标记技术与大豆育种（英文版）系统地介绍了各种类型分子标记的发展概况和开发技术，QTL分析和分子辅助育种的基本原理，阐述了大豆产量性状、品质性状、抗病虫性状、动态发育性状分子标记和QTL的*研究进展及大豆分子设计育种的基本设想及展望。该书反映了近年分子标记在大豆遗传改良方面获得的成果。
目录
Acknowledgement
Preface
Chapter 1 Essential principles of molecular marker and quantitative trait loci associations
Chapter 2 Method development for identifying functional markers in the soybean genome
Chapter 3 Map development and marker-assisted selection for oligogenic and polygeneic traits
Chapter 4 QTL analysis of fungal disease resistance
Chapter 5 Identification of loci for resistance to insects and nematodes
Chapter 6 QTL analysis for seed quality traits
Chapter 7 Seed yield and ponent trait loci
Chapter 8 Loci underlying soil edaphic, physiological and developmental traits
Chapter 9 Dynamic QTL analysis of major quantitative traits
Chapter 10 Molecular mapping and breeding for biotic stress resistance
Colored Figures
作者介绍
Wenbin Li
Key Laboratory of Soybean Biology in Chinese Ministry of Education(Agriculture Research System of China and the Key Laboratory of Northeastern Soybean Biology and Breeding/Geics of Chinese Agriculture Ministry),Northeast Agricultural University,Harbin,China.150030
David A.Lightfoot
Illinois Soybean Center for Excellence in Soybean Research,Southern Illinois University at Carbondale,Carbondale,IL 62901,USA
文摘
序言
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