基本信息
书名:数字逻辑电路测试与设计
定价:27.00元
作者:李玲
出版社:机械工业出版社
出版日期:2009-07-01
ISBN:9787111270249
字数:
页码:
版次:1
装帧:平装
开本:16开
商品重量:0.599kg
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理念的行进性:充分体现任务、实践导向的课程思想;项目的代表性:5个项目覆盖组合逻辑电路、时序逻辑电路、可编程逻辑器件(CPLD)应用、AD/DA基本原理及应用等知识;任务的操作性:40个任务由浅入深讲解小规模、中规模及大规模器件构成的数字集成电路的分析与设计方法;体例的科学性:用“读一读”、“做一做”和“想一想”把理论、实践和提高融于一体。
内容提要
本书根据教育部关于高职高专人才培养目标的要求,以工作任务的方式将相关知识点融人在完成工作任务所的工作项目中,使学生掌握必要的基本理论知识,并使学生的实践能力、职业技能、分析问题和解决问题的能力不断提高。
本书共有5个项目:加法计算器的设计与测试,阐述了逻辑代数的基本知识及组合逻辑电路分析与设计的基本方法;抢答器的设计与制作,介绍了常用中规模集成电路的逻辑功能和使用方法;计数器的设计与测试,介绍了触发器的基本知识、简单时序电路的分析和设计方法、集成计数器的基本知识;数字钟的设计与制作,介绍了CPLD基本知识及如何用CPLD器件设计简单数字电路的基本方法;简易数字电压表的设计与制作,融入了A/D、D/A转换器件的基本知识介绍。
本书适合于高职高专电子技术、电子与信息技术、通信技术、自动控制和机电等专。业学生使用,也可供从事电子、信息技术的有关人员参考。
目录
作者介绍
文摘
序言
这本《数字逻辑电路测试与设计》的书籍,从目录上看,似乎聚焦于一个非常具体且技术性极强的领域。我购买它主要是为了应对我工作中遇到的一个挑战:如何高效地验证和调试我们新开发的大规模集成电路中的逻辑部分。翻阅前几章,它并没有像我预期中那样,只是简单罗列一些标准测试方法,而是深入探讨了故障模型构建的精细之处,特别是对延迟故障和静态故障的建模,给出了非常详尽的数学描述和实际应用案例。这本书的作者显然对这个领域有深刻的理解,他们没有停留在理论层面,而是将复杂的测试向量生成算法,比如基于扫描链的设计(DFT)的实现细节,以一种非常结构化的方式呈现出来。尤其令我印象深刻的是,书中对边界扫描(Boundary Scan,IEEE 1149.1标准)的应用分析,不仅讲解了协议本身,还结合了多芯片系统中的互联测试策略,这对于我们设计复杂SoC时至关重要的。对于一个经验丰富的硬件工程师来说,这本书更像是一本“高级参考手册”,它提供的不仅仅是“怎么做”,更是“为什么这么做”的底层逻辑,帮助我从根本上优化我们的测试流程,提升测试覆盖率,减少了后期流片带来的巨大风险。
评分我对这本书的期望是能帮助我这位刚入门的电子工程专业研究生快速建立起对现代数字系统验证的宏观认识。然而,实际阅读体验却远超我的预期,它更像是一本面向资深工程师的“武功秘籍”,而非入门教材。书中对测试覆盖率指标的阐述,比如MCDC(Modified Condition/Decision Coverage)的实现,涉及到了相当高深的编译原理和代码分析技术,我花了大量时间去理解那些证明覆盖率的逻辑等价性转换。初读时,我常常需要频繁地查阅其他关于有限状态机理论和布尔代数优化的参考资料才能跟上作者的思路。尽管挑战性很大,但一旦理解了其中关键的章节,比如关于自测试(BIST)的结构优化,那种豁然开朗的感觉是无与伦比的。它似乎是把整个数字测试领域的顶尖学术成果和工业实践经验浓缩在了这几百页之内,阅读过程是一种持续的智力攀登,它迫使我跳出教科书上基础的逻辑门级测试,去思考如何设计出具有内在可测试性的电路结构,这对于我撰写毕业论文选题方向的确定起到了决定性的引导作用。
评分这本书的装帧和印刷质量非常出色,纸张厚实,图表清晰锐利,这在阅读技术密集型书籍时至关重要。从内容结构上看,它非常严谨,章节之间的逻辑衔接如行云流水,没有生硬的跳跃感。我特别欣赏作者在每一章末尾设置的“工业挑战与前沿展望”部分,这使得原本枯燥的算法讲解顿时有了鲜活的现实意义。比如,在讨论芯片电磁辐射(EMC)对测试信号完整性的影响时,作者没有回避这个物理层面的复杂性,而是提出了在测试模式下进行信号调控的初步思路。这种将高层设计与底层物理实现相结合的视角,在同类书籍中是相当罕见的。它不仅仅是关于0和1的逻辑堆叠,还微妙地触及到了信号完整性、时序裕度和工艺变异带来的不确定性,这让我对数字测试的理解上升到了一个更全面的系统工程层面。虽然这些内容的篇幅占比不高,但它们如同点睛之笔,提升了整本书的深度和专业高度。
评分这本书的深度和广度令我敬畏,但也带来了阅读上的门槛。对于一个习惯于使用标准EDA工具(如Synopsys TetraMAX或Mentor FastTest)来执行测试向量生成的工程师来说,这本书深入到算法实现层面,会让人产生一种“过度知识”的错觉。例如,书中详细推导了穷举法测试算法的复杂度,并对比了各种启发式搜索方法(如单激法与多激法)的优劣,这部分内容对于日常工作几乎是用不到的——工具已经帮我们完成了这些。然而,正是这种底层深挖,让我有机会去评估我们当前所用工具的局限性,以及在面对下一代极大规模、异步或类比混合信号集成电路时,现有工具链可能出现的瓶颈。这本书迫使我从“工具使用者”转变为“算法理解者”,尽管这部分内容略显晦涩,需要结合大量的数学背景知识,但它提供的“内功心法”的价值,远超那些表面的操作指南。
评分坦率地说,我购买《数字逻辑电路测试与设计》时,主要是冲着其标题中“设计”二字去的。我期望它能提供一些创新的电路设计方法论,比如如何利用特定的逻辑结构来简化后续的测试过程,或者介绍一些前沿的低功耗设计中对测试引入的影响。这本书确实涉及了“设计可测试性”(Design for Testability, DFT),但它的侧重点似乎完全倒向了“测试的自动化生成与应用”。书中花了大量的篇幅来介绍ATPG(Automatic Test Pattern Generation)算法的效率优化,以及如何处理非扫描电路中的路径延迟问题。这对于我这位主要从事低功耗电路架构研究的人来说,只能算是“相关阅读材料”,而非核心参考。例如,书中对随机测试(Random Testing)的性能分析非常透彻,用概率模型推导了所需的随机向量数量,但对于如何设计出天然抵抗随机测试的电路特性,讨论就显得有些不足了。总而言之,它更像是一本关于“如何验证已设计电路”的权威著作,而不是关于“如何设计出易于验证的电路”的实践指南。
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