基本信息

書名：電子係統測試原理

定價：39.00元

作者：(美)莫瑞達,(美)佐瑞安,張威,王仲

齣版社：機械工業齣版社

齣版日期：2007-01-01

ISBN：9787111198086

字數：

頁碼：296

版次：1

裝幀：平裝

開本：

商品重量：0.459kg

編輯推薦

內容提要

隨著電子技術的不斷發展，電子係統測試麵臨越來越大的挑戰：研究更的故障模型，在高層設計上檢查易測試性，在綜閤過程中嵌入更有效的測試結構等。本書詳細介紹瞭測試的基本原理和很多必需的基礎知識，來麵對這些挑戰。
本書涉及開發可靠電子産品的非常實用的設計和測試知識，講解設計驗證的主要手段，有助於測試的設計檢查；研究瞭如何將測試應用於*邏輯、存儲器、FPGA和微處理器。後，提供瞭針對深亞微型設計的高級測試解決方案。讀者可以通過本書深入理解測試的基本原理，並掌握眾多解決方案。本書的主要內容包括：
●解釋瞭測試在設計中的作用。
●詳細討論瞭掃描路徑和掃描鏈的次序。
●針對嵌入式邏輯和存儲器塊的BIST解決方案。
●針對FPGA的測試方法。
●芯片係統的測試。

目錄

作者介紹

Samiha Mourad博士是加利福尼亞聖剋拉拉大學電子工程係教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亞聖何塞Logic Vision公司的首席技術顧問。

文摘

序言