9787111198086 电子系统测试原理 机械工业出版社 (美)莫瑞达,(美)佐瑞安 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

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美莫瑞达，美佐瑞安，张威，王仲 著

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店铺： 聚雅图书专营店

出版社： 机械工业出版社

ISBN：9787111198086

商品编码：29411155175

包装：平装

出版时间：2007-01-01

基本信息

书名：电子系统测试原理

定价：39.00元

作者：(美)莫瑞达,(美)佐瑞安,张威,王仲

出版社：机械工业出版社

出版日期：2007-01-01

ISBN：9787111198086

字数：

页码：296

版次：1

装帧：平装

开本：

商品重量：0.459kg

编辑推荐

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内容提要

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随着电子技术的不断发展，电子系统测试面临越来越大的挑战：研究更的故障模型，在高层设计上检查易测试性，在综合过程中嵌入更有效的测试结构等。本书详细介绍了测试的基本原理和很多必需的基础知识，来面对这些挑战。
本书涉及开发可靠电子产品的非常实用的设计和测试知识，讲解设计验证的主要手段，有助于测试的设计检查；研究了如何将测试应用于*逻辑、存储器、FPGA和微处理器。后，提供了针对深亚微型设计的高级测试解决方案。读者可以通过本书深入理解测试的基本原理，并掌握众多解决方案。本书的主要内容包括：
●解释了测试在设计中的作用。
●详细讨论了扫描路径和扫描链的次序。
●针对嵌入式逻辑和存储器块的BIST解决方案。
●针对FPGA的测试方法。
●芯片系统的测试。

目录

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作者介绍

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Samiha Mourad博士是加利福尼亚圣克拉拉大学电子工程系教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亚圣何塞Logic Vision公司的首席技术顾问。

文摘

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序言

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《电子系统测试的艺术与科学：从理论到实践的深度解析》 在信息爆炸、技术飞速迭代的数字时代，电子系统的可靠性与性能已成为衡量产品优劣、企业竞争力的关键要素。无论是消费电子的琳琅满目，还是工业控制的精密复杂，亦或是通信网络的畅通无阻，其背后都离不开严谨细致的测试验证。本书旨在为读者揭示电子系统测试的内在逻辑与外在表现，从基础理论到前沿实践，深入浅出地剖析每一个环节，帮助工程师、研究人员乃至对电子技术充满好奇的爱好者，构建起一套扎实、系统、且富有洞察力的测试知识体系。 第一章：电子系统测试的基石——需求分析与测试策略的制定 任何一场成功的战役都离不开周密的部署，电子系统测试亦是如此。本章将首先聚焦于测试的源头——需求的理解与梳理。我们将深入探讨如何从产品设计文档、用户需求、行业标准以及法律法规中提取出清晰、可执行的测试目标。这并非简单的信息搬运，而是需要对产品的应用场景、潜在风险以及用户期望有深刻的洞察。我们将会学习如何运用多种方法，如访谈、问卷、用例分析等，来全面掌握测试的“靶心”。 在此基础上，本章将引导读者构建测试策略。这涉及到确定测试的范围、优先级、资源分配、时间表以及风险评估。我们将分析不同测试策略的优劣，例如，是采用“自上而下”还是“自下而上”的测试方法？是侧重于功能测试还是性能测试？如何平衡测试的全面性与效率？我们将通过案例分析，展示不同项目规模和复杂性下，如何量身定制最优的测试策略，确保测试工作有的放矢，高效运行。 第二章：深入理解“黑盒”与“白盒”——测试方法的深度剖析 理解测试方法的本质，是掌握测试精髓的关键。本章将详细阐述两种最核心的测试方法论：“黑盒测试”与“白盒测试”。 黑盒测试：模拟用户的视角，发现行为的偏差。 我们将从黑盒测试的角度出发，探讨如何基于产品的功能规格和需求，设计测试用例。这包括等价类划分、边界值分析、错误推测等经典方法，以及状态转换测试、决策表测试等更高级的场景设计技术。我们会深入分析如何构建覆盖各种输入、输出和异常情况的测试场景，以期在不了解系统内部实现的情况下，有效地验证其功能是否符合预期。本章还将介绍面向用户体验的探索性测试，以及如何利用用户反馈来驱动测试用例的设计。 白盒测试：洞察内部的逻辑，挖掘隐藏的缺陷。 转向白盒测试，我们将揭示如何通过分析程序的源代码、设计文档以及架构图，来设计更精细的测试用例。这涉及到语句覆盖、分支覆盖、条件覆盖、路径覆盖等代码级别的测试度量。我们会详细讲解如何利用静态分析工具来发现潜在的代码问题，以及如何进行单元测试，确保每一个独立的模块都按预期工作。对于复杂系统，我们还将探讨集成测试的策略，以及如何通过覆盖不同模块间的接口来发现潜在的交互问题。 第三章：性能的极限探索——系统性能测试与优化 在许多应用场景中，电子系统的性能是决定其成败的关键。本章将聚焦于系统性能测试，帮助读者理解如何量化和评估系统的响应速度、吞吐量、资源利用率等关键指标。 我们将深入探讨不同类型的性能测试，包括负载测试（Load Testing）、压力测试（Stress Testing）、稳定性测试（Soak Testing）和容量测试（Capacity Testing）。对于每一种测试，我们都将详细讲解其目的、执行方法、所需的工具以及结果的解读。例如，负载测试是如何模拟真实用户访问量，以确定系统在正常和高峰负载下的表现？压力测试又是如何将系统推向极限，以找出其瓶颈和失效点？ 此外，本章还将介绍性能调优的基本原则和常用技术。一旦性能瓶颈被识别，如何对其进行分析并提出改进建议？这可能涉及到代码优化、数据库查询调优、网络配置调整、硬件资源升级等多个层面。我们将通过实际案例，展示如何通过系统性的性能测试和优化，显著提升电子系统的用户体验和商业价值。 第四章：可靠性的守护——健壮性、容错性与安全性测试 系统的可靠性是用户信任的基石。本章将从健壮性、容错性和安全性三个维度，深入探讨如何构建高可靠性的电子系统。 健壮性测试：应对异常，保持稳定。 我们将研究如何通过模糊测试（Fuzz Testing）、异常注入（Fault Injection）等技术，模拟各种非预期的输入、外部干扰或系统错误，来测试系统的健壮性。这包括验证系统在遇到无效数据、网络中断、硬件故障等情况时，是否能优雅地处理，而不会崩溃或产生严重后果。 容错性测试：失效面前，依然运行。 对于关键系统，容错能力至关重要。本章将介绍如何设计测试来验证系统的冗余机制、故障转移（Failover）策略和数据恢复能力。我们将探讨如何模拟单个组件的失效，并观察系统是否能够无缝切换到备用组件，保证服务的连续性。 安全性测试：抵御攻击，保护数据。 在网络化日益普及的今天，安全性测试已成为电子系统测试不可或缺的一部分。我们将涵盖渗透测试（Penetration Testing）、漏洞扫描（Vulnerability Scanning）、权限管理测试等基本概念。此外，我们还将触及数据加密、访问控制、身份验证等安全措施的测试方法，以确保电子系统能够有效抵御来自内部和外部的安全威胁。 第五章：自动化测试的赋能——提升效率与覆盖率的利器 在追求快速迭代和高效率的现代开发模式下，自动化测试已成为提升测试效率和覆盖率的必然选择。本章将深入探讨自动化测试的理论、实践与最佳实践。 我们将从自动化测试的规划和设计入手，讨论如何识别适合自动化的测试用例，选择合适的自动化测试框架和工具（如Selenium、Appium、Robot Framework等），以及如何构建可维护、可扩展的自动化测试脚本。本章将重点介绍不同层级的自动化测试，包括单元测试自动化、接口自动化测试、UI自动化测试以及端到端自动化测试。 我们还将深入讨论自动化测试的挑战与应对策略，例如，如何处理UI的频繁变化？如何管理大量的测试数据？如何进行有效的自动化测试报告分析？通过实际的案例演示和代码片段，本章将为读者提供一套系统性的自动化测试实施指南，帮助他们充分利用自动化工具，解放人力，实现更高效、更频繁的测试发布。 第六章：新兴技术与未来趋势——面向未来的测试实践 技术浪潮永不止息，电子系统测试也必须紧随其步伐，拥抱新兴技术，洞察未来趋势。本章将展望电子系统测试的未来图景。 我们将探讨大数据、人工智能（AI）和机器学习（ML）在测试领域的应用。例如，如何利用AI辅助测试用例生成？如何利用ML分析测试结果，预测潜在缺陷？如何利用大数据来优化测试覆盖率和效率？ 此外，我们还将关注面向物联网（IoT）、云计算、5G等新兴技术下的测试挑战和解决方案。例如，如何测试海量互联设备的交互性？如何进行大规模分布式系统的测试？如何应对高并发、低延迟的通信场景？ 本章将鼓励读者保持学习的热情，积极探索新的测试方法和工具，为应对未来更复杂、更智能的电子系统测试挑战做好准备。 结语：测试的价值——质量的保证，创新的引擎 贯穿全书，我们将始终强调电子系统测试的根本价值：它是产品质量的坚实后盾，是用户满意度的重要来源，更是企业创新和持续发展的关键驱动力。通过系统、深入、富有创造性的测试，我们不仅能发现并修复潜在的问题，更能为产品的优化升级提供宝贵的反馈，最终为用户带来更卓越、更可靠的电子产品体验。本书希望成为您在电子系统测试领域探索之路上的良师益友，助您在不断变化的科技浪潮中，筑就坚实可靠的品质基石。

评分☆☆☆☆☆

这本书的出现，简直就是我学习电子系统测试过程中的一盏明灯。之前，我一直以为测试就是找出程序里的错误，然后报告给开发人员。但这本书彻底颠覆了我的认知。它让我明白了，测试的真正意义在于“验证”——验证产品是否满足设计要求，是否能在各种环境下稳定运行，是否能给用户带来良好的体验。作者在书中详细阐述了各种测试方法，从单元测试到系统集成测试，再到验收测试，层层递进，逻辑清晰。我尤其对“边界值分析”和“等价类划分”这两个概念印象深刻。它们提供了一种系统性的方法来设计测试用例，能够有效地减少冗余的测试，同时保证关键路径的覆盖。在实际工作中，我尝试运用这些方法来设计一些测试场景，发现效果显著。以前，我们往往凭经验来设计测试，效率不高，而且容易遗漏一些重要的边界条件。但有了这些理论指导，我能够更科学、更全面地思考测试的每一个环节，从而提高测试的效率和质量。这本书的实用性非常强，它不仅仅是理论的堆砌，更是将理论与实践紧密结合，为我提供了一套行之有效的测试方法论。

评分☆☆☆☆☆

初次接触这本书，纯粹是因为标题里“电子系统测试”这几个字勾起了我的兴趣。我一直觉得，电子产品的“稳定”和“可靠”并非凭空而来，背后一定有非常严谨的测试流程在支撑。翻开这本书，首先映入眼帘的是那些理论性的概念，什么“测试覆盖率”、“故障注入”、“边界值分析”等等，一开始确实有点劝退。我不是电子工程科班出身，对这些术语感到有些陌生。但好在作者的叙述还算清晰，虽然夹杂着大量的专业术语，但通过一些简单的例子，我还是能捕捉到一些核心思想。比如，关于测试覆盖率，它让我明白，不是所有功能的测试都同等重要，需要有策略地选择重点进行测试，以达到事半功倍的效果。而故障注入，则让我意识到，好的测试不仅仅是发现现有的bug，更要主动制造可能出现的问题，来验证系统的鲁棒性。整本书的篇幅不小，内容也相当扎实，感觉里面涉及到的知识点非常全面，涵盖了从基础原理到具体方法的方方面面。读完一部分，我感觉自己对“如何测试一个电子系统”有了更宏观的认识，虽然细节之处还有待深入，但至少不再是“两眼一抹黑”的状态了。

评分☆☆☆☆☆

老实说，这本书的阅读过程充满了挑战。它并不是一本轻松的消遣读物，更像是一本需要沉下心来、仔细研读的工具书。书中的理论体系庞大，从信号完整性到数字系统设计的各个层面都触及到了，并且对测试技术进行了深入的剖析。每一次阅读，都仿佛在进行一场思维的“极限挑战”。我常常需要在查阅大量资料、甚至请教有经验的同事后，才能勉强理解其中的某个概念。例如，关于“时序分析”和“噪声容限”的章节，我花了数倍于其他章节的时间去消化。作者在解释这些复杂概念时，虽然尽力使用了图示和表格，但毕竟是高度专业化的内容，对于非专业背景的读者来说，仍然存在不小的门槛。但是，一旦我能够克服这些困难，理解了其中某个关键性的测试原理，那种豁然开朗的感觉是无与伦比的。它让我看到了电子系统测试背后严谨的科学性和艺术性，也让我对那些看似“理所当然”工作的电子产品产生了深深的敬意。这本书需要耐心和毅力，但回报是巨大的——它为你打开了一扇通往电子系统深层理解的大门。

评分☆☆☆☆☆

对于我这样一个在电子产品研发领域摸爬滚打多年的老兵来说，这本书的价值不言而喻。它就像一本“武林秘籍”，将许多零散的、经验性的测试技巧进行了系统的梳理和总结，提升到了理论的高度。我曾经在解决一些棘手的测试难题时，反复琢磨，最终找到的解决方案，往往都能在这本书中找到对应的理论支持。书中的“失效模式与效应分析（FMEA）”和“故障树分析（FTA）”等章节，对于我理解和预防系统性故障非常有启发。它们提供了一种从宏观到微观，从原因到结果的系统性思维方式，帮助我更好地识别潜在的风险点，并提前制定应对策略。此外，书中的一些高级测试技术，比如“射频（RF）系统测试”和“高速数字接口测试”，也为我提供了新的思路和方法。虽然我不是RF领域的专家，但书中对这些复杂系统的测试挑战和解决方案的阐述，让我对如何进行更精密的测试有了更深刻的认识。这本书的优点在于其深度和广度，它不仅适合初学者入门，更能让资深工程师获得更深层次的理论指导和实践启发。

评分☆☆☆☆☆

坦白说，我最初是被这本书在行业内的口碑吸引的。作为一名刚入行不久的测试工程师，我深知扎实的理论基础是提高工作能力的关键。这本书在我看来，就像一本“百科全书”式的测试指南。它涵盖了电子系统测试的方方面面，从基本的概念、原理，到各种具体的测试技术和方法，再到测试计划的制定和管理，都有详尽的介绍。我特别喜欢书中关于“测试文档”和“测试报告”的章节，它们详细阐述了如何清晰、准确地记录测试过程和结果，这对于团队协作和知识传承至关重要。此外，书中还提到了“软件测试”和“硬件测试”的结合，这让我意识到，一个完整的电子系统测试，需要同时关注软件和硬件的协同工作。虽然有些章节的内容对我来说还比较超前，但我相信随着我工作经验的积累，这些知识点会逐渐变得清晰和实用。这本书为我指明了前进的方向，让我对电子系统测试这个领域有了更全面、更深入的认识。它不仅仅是一本教科书，更像是一位经验丰富的导师，在指引我不断进步。