基本信息
书名:扫描电子显微学及在纳米技术中的应用
定价:80.00元
作者:Weilie L.ZHOU,Zhonglin WANG
出版社:高等教育出版社
出版日期:2007-03-01
ISBN:9787040190083
字数:
页码:
版次:1
装帧:精装
开本:
商品重量:1.203kg
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内容提要
目录
作者介绍
文摘
序言
在纳米技术应用方面,这本书的案例分析非常丰富,而且覆盖面相当广。它不仅仅是泛泛而谈,而是深入到具体的纳米材料类型和应用领域。比如,在纳米电子学领域,书中详细介绍了如何利用SEM来表征纳米线的生长形貌、纳米器件的结构与连接,以及二维材料的缺陷分析。我特别关注了关于原位(in-situ)SEM的部分,书中阐述了如何在SEM显微镜下进行材料的原位加热、拉伸、电化学反应等实验,这对于理解纳米材料在动态过程中的行为至关重要。想象一下,能够实时观察纳米颗粒的烧结过程,或者纳米薄膜在应力下的断裂机制,这对于材料的设计和优化是多么有价值!书中通过大量的实例,展示了SEM在理解这些复杂纳米尺度现象中的关键作用,让我对SEM的应用潜力有了更深刻的认识。
评分这本书在学术严谨性和通俗易懂性之间找到了一个很好的平衡。虽然这是一本专业书籍,但作者在编写时显然投入了大量精力来使内容更易于理解。对于一些复杂的物理原理,他们会用类比或者简化的模型来解释,比如在解释电子与物质的相互作用时,作者可能会用“小球碰撞”或者“光线穿透”这样的类比来帮助读者理解。同时,书中并没有牺牲学术的严谨性,所有的概念和理论都基于扎实的物理学基础。对于那些希望深入研究SEM原理的读者,书中也提供了充足的参考文献,方便进一步的学习。而且,书中在讲解每一个概念的时候,都会追根溯源,让你明白为什么是这样,而不是仅仅告诉你“是什么”。这种“知其然,更知其所以然”的讲解方式,对于我这种求知欲比较强的读者来说,非常有吸引力。
评分令我印象深刻的是,这本书在理论阐述上做了多角度的解读。它不仅仅停留在宏观的原理讲解,还会深入到微观的物理机制,甚至会涉及一些量子力学和固体物理学的相关知识。比如,在讲解电子与物质的相互作用时,书中会分析不同能量的电子与样品原子发生弹性散射和非弹性散射的概率,以及这些散射过程如何影响探测到的信号。虽然有些内容对我来说理解起来稍有难度,但作者的讲解方式,配合着丰富的图解和数学模型,还是让我能够逐步理解。更重要的是,这种深度的挖掘,能够让读者对SEM成像的本质有更深刻的理解,而不是仅仅停留在“看到”的层面。它让你明白,每一次的成像,背后都蕴含着复杂的物理过程。
评分让我惊喜的是,这本书对于纳米技术领域的新兴应用也有所涉及。它并没有仅仅停留在已有的成熟应用上,而是放眼未来,探讨了SEM在一些前沿研究中的作用。例如,在纳米医学领域,书中讨论了如何利用SEM来观察细胞与纳米药物的相互作用,纳米载体的形貌和分布,以及纳米材料在生物体内的降解和代谢过程。在能源领域,SEM在纳米光伏电池、锂离子电池、催化剂等方面的应用也有详细介绍。这些内容让我看到了SEM作为一种强大的成像和表征工具,是如何为纳米技术的发展提供关键的科学洞察,从而推动各个领域的创新。这本书的视野之广,让我觉得它不仅是一本教科书,更像是一份纳米技术研究的指南。
评分书中的排版和设计也值得一提。每一章节的逻辑都很清晰,小标题设置得也很合理,方便读者快速找到自己感兴趣的内容。图片的质量都很高,分辨率很好,细节清晰可见。这对于一本以图像为主导的学科书籍来说至关重要。同时,书中还会适时地出现一些“小贴士”或者“注意事项”,这些细节往往能够帮助我们避免一些常见的操作失误,提高实验效率。比如,在讲解样品制备时,书中会提醒读者注意环境的洁净度,或者在选择粘附剂时需要考虑其成分对电子束的影响。这些细致的提示,体现了作者在实际操作经验方面的丰富积累,让读者感觉像是跟着一位经验丰富的导师在学习。
评分这本书的另一个让我印象深刻的方面是它对于数据采集与图像处理的详尽论述。SEM不仅仅是“看见”微观世界,更重要的是如何“读懂”和“分析”所看到的。书中对于不同模式下的图像采集,比如高分辨成像、形貌成像、成分成像等等,都给出了非常详细的操作指南和注意事项。我特别喜欢其中关于图像伪影的章节,它详细列举了在SEM成像过程中可能出现的各种问题,例如充电效应、样品制备不当引起的表面形貌失真、以及不同电子探测器带来的成像差异等等,并且给出了相应的规避和修正方法。这对于实际操作者来说简直是救命稻草!很多时候,我们拿到一张SEM图,可能只是看到了表面的现象,但书中通过对图像背后数据生成过程的剖析,让我们能够更深层次地理解图像的含义,避免被误导。比如,在分析纳米材料的形貌时,如果处理不当,可能会误判材料的尺寸和分布,这本书就教会了我如何通过调整加速电压、束流以及选择合适的探测器来获得更准确、更有代表性的信息。
评分这本书在纳米材料表征的多样性上做得非常出色。不仅仅是传统的半导体纳米材料,它还涉及了纳米颗粒、纳米线、纳米管、量子点、以及一些新兴的二维材料,如石墨烯、MXenes等。对于不同形貌和组成的纳米材料,书中都给出了相应的SEM表征策略。比如,对于表面形貌复杂的纳米材料,可能需要结合二次电子和背散射电子成像;而对于成分分析,则会涉及到能谱仪(EDS)或波谱仪(WDS)的结合使用。书中对这些辅助表征技术的介绍也相当到位,让我明白SEM并非孤立存在,而是可以与其他分析手段协同工作,提供更全面的信息。例如,书中在讨论纳米颗粒的尺寸分布时,不仅介绍了如何通过SEM图像进行统计分析,还提及了如何结合透射电子显微镜(TEM)的数据来获得更精确的晶体结构和形貌信息。
评分我最近入手了一本名为《扫描电子显微学及在纳米技术中的应用》的书,isbn号是9787040190083,出版社是高等教育出版社。读完后,我有一些零散的感受和思考,想和大家分享一下。首先,这本书给我的第一印象是它在理论深度和实际操作性之间找到了一个非常巧妙的平衡点。当我翻开它的时候,我并没有感觉到一股扑面而来的晦涩难懂的理论,而是被作者循序渐进的讲解方式所吸引。他们并没有一开始就抛出一堆复杂的公式和概念,而是从扫描电子显微镜(SEM)的基本原理讲起,比如电子枪的产生、电子束的形成、样品与电子束的相互作用等,这些都是理解后续内容的基础。而且,在讲解这些原理时,书中穿插了大量的图示和示意图,这些图并非简单的装饰,而是能够非常直观地帮助我们理解抽象的物理过程。比如,关于二次电子和背散射电子的产生机制,以及它们如何携带样品表面的信息,书中都有非常精美的插图,甚至还有一些不同散射角度的电子轨迹模拟,这让我这个初学者也能够快速建立起直观的认知。
评分最后,这本书在指导读者进行独立思考和研究方面也起到了积极作用。它并没有给读者提供一个“标准答案”,而是鼓励读者根据具体的实验对象和研究目的,灵活运用SEM技术。书中在介绍各种表征方法时,常常会提出一些“可以考虑”的策略,或者“需要注意”的权衡。这促使读者在阅读过程中,不断地思考“如果是我,我会怎么做?”,“我应该关注哪些参数?”。这种引导式的学习,对于培养研究者的独立分析能力和解决问题的能力是非常有益的。读完这本书,我感觉自己不仅掌握了SEM的知识,更重要的是,激发了我对利用SEM解决实际科学问题的热情和信心。
评分让我颇受启发的是,书中对于SEM技术的局限性并没有回避,而是进行了坦诚的讨论。它明确指出了SEM在分辨率上的极限,以及在某些特殊样品(如绝缘体、易挥发性材料)处理上的挑战。这一点非常重要,因为它能够帮助读者树立一个理性认识,不会过度神化SEM。相反,书中也因此引申出了如何克服这些局限性的方法,例如通过样品导电处理、低真空SEM等技术,以及更重要的是,强调了与其他显微技术的互补性。例如,当SEM在分辨率上遇到瓶颈时,可以考虑使用TEM;当需要深入了解材料的内部结构或晶体学信息时,也需要借助X射线衍射(XRD)等手段。这种辩证的视角,使得读者在学习SEM知识的同时,也能对整个纳米材料表征体系有一个更宏观的把握。
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