微电子封装超声键合机理与技术 9787030412140

微电子封装超声键合机理与技术 9787030412140 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

韩雷 著
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店铺: 韵读图书专营店
出版社: 科学出版社
ISBN:9787030412140
商品编码:29863923919
包装:精装
出版时间:2014-06-01

具体描述

   图书基本信息
图书名称 微电子封装超声键合机理与技术 作者 韩雷
定价 150.00元 出版社 科学出版社
ISBN 9787030412140 出版日期 2014-06-01
字数 页码
版次 1 装帧 精装
开本 16开 商品重量 0.4Kg

   内容简介
《微电子封装超声键合机理与技术》是作者关于超声键合机理和技术研究的总结。主要内容包括:微电子制造的发展,超声键合在封装互连中的地位、研究现状、存在问题;换能系统的设计原则、仿真手段和实际使用中的特性测试;对超声键合微观实验现象以及机理的科学认识和推断;热超声倒装键合工艺的技术研究;键合过程和键合动力学的检测;叠层芯片互连;铜线键合、打火成球、引线成形、超声电源。

   作者简介

   目录
目录

前言

章绪论1

1 1新技术革命浪潮下的微电子制造1

1 2现代微电子制造业中的封装互连4

1 3微电子封装测试和可靠性10

1 4微电子封装互连的发展趋势12

1 5超声键合机理与技术研究16

参考文献24

第2章换能系统振动特性有限元分析25

2 1压电材料结构的有限元方法25

2 2换能系统有限元模型28

2 3模态分析30

2 4谐响应分析41

参考文献43

第3章换能系统多模态特性实验研究44

3 1测试方法44

3 2测试结果46

3 3键合工具响应振型与运动轨迹分析50

3 4多模态特性对键合质量的影响52

3 5换能系统多模态产生原因及抑制建议55

参考文献59

第4章换能系统优化与设计61

4 1基本结构尺寸计算61

4 2基于频率灵敏度方法的系统结构优化65

4 3加工与装配68

4 4设计实例69

参考文献74

第5章PZT换能系统的特性和行为75

5 1换能系统等效电路与电学导纳特性75

5 2阻抗分析仪测试换能系统的电学特性82

5 3加载电压对PZT压电换能器稳态电学特性的影响87

5 4环境温度对PZT压电换能器稳态电学特性的影响90

5 5连接松紧度对PZT压电换能器稳态电学特性的影响93

5 6超声换能系统的稳态响应与速度导纳97

5 7超声换能系统的实际加卸载过程100

5 8超声换能系统的俯仰振动103

5 9劈刀的振动模态110

5 10换能系统电学输入的复数表示117

5 11实际引线键合过程换能系统的能量输入122

参考文献125



第6章超声键合界面快速形成机理128

6 1超声振动激活金属材料位错的观察128

6 2原子扩散体系的激活能及快速通道机制134

6 3超声界面快速扩散通道机理143

参考文献146







第7章扩散键合界面强度构成与演变规律148

7 1界面原子扩散层厚与微结构强度构成148

7 2超声键合过程多参数与键合界面微结构演变规律155

7 3超声键合系统阻抗/功率特性164

参考文献175

第8章热超声倒装键合界面规律与键合工具设计176

8 1热超声倒装实验平台的搭建176

8 2多点芯片热超声倒装键合的实现177

8 3倒装凸点的热超声植球工艺探索180

8 4倒装界面、键合工具、工艺的协同181

参考文献183

第9章倒装多界面超声传递规律与新工艺184

9 1倒装二键合界面TEM特性与界面扩散184

9 2倒装二界面性能分析与工艺新构思188

9 3基板传能与基板植球倒装实现与传能规律192

9 4热超声倒装二界面传能规律分析195

9 5热超声倒装键合过程多参数影响规律198

参考文献200

0章热超声倒装键合实验系统及其相关技术201

10 1热超声倒装键合试验台201

10 2超声在变幅杆 工具中的传递208

10 3超声在倒装界面间的传递过程215

10 4热超声倒装键合过程监测系统229

10 5键合过程监测系统数据采集和分析237

10 6金凸点 焊盘界面的有限元模型及其求解244

10 7键合力和超声振动对键合面应力分布的影响250

10 8键合强度的形成机理255

参考文献263



目录 v

vi 微电子封装超声键合机理与技术



1章热超声倒装键合工艺优化266

11 1超声功率对热超声倒装键合的影响266

11 2键合力对热超声倒装键合的影响270

11 3键合时间对热超声倒装键合的影响273

11 4超声作用下金凸点的变形测量276

11 5热超声倒装键合的典型失效形式279

11 6新型热超声倒装键合工艺的提出282

11 7阶梯式键合参数加载过程对倒装键合强度的影响283

参考文献291

2章引线键合过程的时频分析293

12 1新的解决方案——时频分解293

12 2键合压力改变对键合强度的影响299

12 3劈刀松紧度影响的时频特征321

12 4换能系统俯仰振动的时频特征333

参考文献337

3章换能系统与键合动力学的非线性检测与分析340

13 1工艺窗口与非线性过程340

13 2锁相非线性342

13 3换能系统的非平稳加载345

13 4动力学系统的实验建模与键合工具对换能系统的非线性作用346

13 5加载边界条件以及滑移/黏滞现象351

13 6相关分析及其应用354

13 7关联维数分析及其应用359

13 8键合动力学细节判断与认识368

13 9Lyapunov指数分析及其应用377

参考文献381

4章加热台温度引起对准误差的检测与消除383

14 1热超声倒装键合机的视觉系统384

14 2系列图像的预处理和基本评价387

14 3图像整体抖动的Weibull模型391

14 4图像的错位和畸变395

14 5加热条件下系列图像的整体和局部运动405

14 6吹气装置的实验研究411

参考文献418

5章基于高速摄像的EFO打火成球实验研究421

15 1研究背景421

15 2打火成球过程研究实验系统423

15 3球形成过程的分析429

15 4高尔夫球形成规律实验研究438

15 5打火成球过程的热能量利用估算447

参考文献459

6章三维叠层芯片的互连461

16 1摩尔定律与叠层芯片互连461

16 2压电底座激振装置463

16 3激励源与激振信号464

16 4叠层芯片一阶固有频率的实验判别473

16 5红外测温的可行性与加热台的升温479

16 6加热升温的建模与芯片结构测温实验结果481

16 7叠层芯片引线键合动力学条件的讨论489

参考文献491

7章悬臂键合与铜线互连493

17 1超声驱动电信号分析493

17 2悬臂键合芯片挠度及键合点形貌特性495

17 3悬臂键合强度与界面结构分析497

17 4提高悬臂键合强度的工艺研究499

17 5铜线悬臂键合特性与规律505

17 6Cu线键合界面的微区X衍射与HRTEM测试与分析509

17 7界面Cu Al金属化合物形成条件及其晶体结构特性511

17 8铜线键合界面特性与键合强度的关系519

17 9Cu线和Au线键合界面微观特性与性能比较519

参考文献524

8章引线成形过程的研究528

18 1引线成形过程的研究现状528

18 2基于高速摄像的引线成形过程实验研究529

18 3引线成形过程的有限元分析558

参考文献573

9章基于FPGA的超声发生器设计与实现575

19 1超声发生器的研究现状575

19 2超声发生器的建模与仿真581

19 3超声发生器的频率控制594

19 4基于FPGA的智能超声发生器设计606

19 5智能超声发生器的性能测试621

参考文献631

目录 vii

viii 微电子封装超声键合机理与技术

   编辑推荐
《微电子封装超声键合机理与技术》可作为高等院校微电子制造工程专业的研究生参考书,也可供机械、材料、测控技术等领域从事微电子制造研究的科研人员使用和参考。

   文摘





   序言

微纳制造与先进封装技术 本书聚焦于微电子器件制造领域日益重要的先进封装技术,特别是其中与精密加工和材料互联紧密相关的关键环节。在信息技术飞速发展的今天,电子设备的功能集成度和性能提升,已不再仅仅依赖于芯片本身的进步,更在很大程度上取决于后端的封装技术。这种封装不仅仅是简单的“保护壳”,而是集成了信号传输、散热、机械支撑、以及能量供给等多重功能的复杂系统。随着器件尺寸的不断缩小和功能的多样化,传统的封装方法已逐渐显露出其局限性,催生了对更精细、更高效、更可靠的封装技术的需求。 本书将深入探讨微电子封装的多个维度,旨在为读者提供一个全面而深入的认知框架。我们将从宏观视角出发,首先概述微电子封装技术的发展历程及其在现代电子产业中的战略地位。理解封装技术如何从早期的简单引线框架发展到如今高度集成的三维封装,对于把握行业脉搏至关重要。随后,我们将聚焦于当前备受瞩目的先进封装技术,例如扇出型封装(Fan-Out)、硅中介层封装(Silicon Interposer)、3D封装(3D Packaging)等,分析它们各自的特点、优势以及适用的应用场景。这些技术代表了微电子封装领域的前沿方向,是实现高性能计算、移动通信、人工智能等新兴技术发展的基石。 在微电子封装的核心环节中,材料科学扮演着至关重要的角色。本书将详细阐述用于先进封装的各类关键材料,包括但不限于:高分子材料(如环氧树脂、聚酰亚胺等)在介电层、填充层、以及应力缓冲层中的应用;金属材料(如铜、金、焊料等)在互连、导电路径以及散热路径中的作用;陶瓷材料(如氧化铝、氮化铝等)在基板、绝缘层以及散热组件中的性能;以及新型纳米材料(如碳纳米管、石墨烯等)在提升导电性、导热性以及机械强度方面的潜力。我们将深入分析这些材料的物理化学性质,探讨它们如何影响封装器件的性能、可靠性和寿命。同时,针对不同材料体系之间的界面兼容性、热膨胀匹配以及可靠性评估,也将进行深入的讨论。 此外,本书还将重点关注微电子封装过程中的关键制造工艺。精密加工技术是实现高密度、高集成度封装的根本保障。我们将探讨光刻(Photolithography)、蚀刻(Etching)、薄膜沉积(Thin Film Deposition)等微细加工技术在构建复杂封装结构中的应用。例如,在硅中介层封装中,如何利用光刻和蚀刻技术在硅片上制造出微细的通孔(TSV)和金属导线,对于实现芯片与芯片之间的高速、低损耗互连至关重要。同时,我们将深入解析半导体键合(Bonding)技术,包括引线键合(Wire Bonding)、倒装芯片键合(Flip-Chip Bonding)、以及铜柱键合(Copper Pillar Bonding)等,分析不同键合方式的原理、工艺流程、优缺点以及在特定封装应用中的选择依据。针对高密度互连的需求,我们将重点介绍微凸块(Micro-bumps)和纳米线(Nanowires)等超微细互连结构的形成机理与技术挑战。 可靠性是微电子封装技术生命线。本书将投入相当篇幅探讨影响封装器件可靠性的各种因素,并介绍相应的评估方法。我们将分析热应力(Thermal Stress)、机械应力(Mechanical Stress)、湿气渗透(Moisture Ingress)、电化学迁移(Electromigration)等在封装器件内部可能发生的失效机理。针对这些失效机理,我们将介绍相应的加速寿命试验(Accelerated Life Testing)和失效分析(Failure Analysis)技术,例如温度循环试验(Temperature Cycling)、恒定湿热试验(Damp Heat Test)、以及扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)等分析工具的应用。此外,还将探讨如何通过优化材料选择、设计结构以及改进工艺流程来提升封装器件的整体可靠性,以满足不同应用场景下严苛的可靠性要求。 在数字经济和智能化时代,高性能计算、人工智能、5G通信、物联网以及自动驾驶等前沿技术的发展,对微电子封装提出了前所未有的挑战和机遇。本书将结合这些新兴技术的需求,探讨先进封装技术如何赋能这些领域的创新。例如,在人工智能领域,高性能AI芯片的功耗和散热问题是制约其性能提升的关键瓶颈,而先进的散热封装技术,如均热板(Vapor Chamber)、热管(Heat Pipe)等,将发挥关键作用。在5G通信领域,射频前端模块(RF Front-end Module)的集成化和小型化,以及对高频信号传输的要求,都依赖于精密的封装技术。在自动驾驶领域,对传感器(如激光雷达、摄像头)的可靠性和小型化需求,也促使封装技术不断创新。 本书还将关注微电子封装领域的可持续发展和绿色制造。随着对环境保护意识的提高,如何减少封装过程中对环境的影响,例如采用环保型材料、优化能源消耗、以及实现封装材料的回收利用,已成为重要的研究方向。我们将探讨绿色封装技术的发展趋势,以及如何在追求高性能的同时,实现环境友好的制造过程。 总而言之,本书旨在为从事微电子器件设计、制造、封装、以及相关领域研究的科研人员、工程师和学生提供一个全面、深入、实用的技术指南。通过对微电子封装基础理论、关键材料、先进工艺、可靠性评估以及未来发展趋势的系统阐述,本书希望能帮助读者更好地理解和掌握微电子封装技术,为推动微电子产业的持续进步贡献力量。

用户评价

评分

这本书的书名《微电子封装超声键合机理与技术》一下子就勾起了我的好奇心,尤其是在看到那串9787030412140的ISBN号时,我便确信这一定是一本内容厚重、条理清晰的专业书籍。作为一名在微电子制造领域工作多年的技术工人,我对超声键合工艺并不陌生,每天的工作都离不开它。我们使用的超声键合机,操作相对简单,但说实话,很多时候我们只是按照既定的流程和参数进行操作,对于超声波究竟是如何在极短的时间内、极小的空间内完成金属连接的,以及为什么特定的参数组合才能获得最佳的键合效果,我并没有一个深入的理解。我常常在想,如果我能更清楚地知道超声波在金属界面是如何“工作”的,比如它如何打破金属表面的氧化层,如何让金属丝和焊盘发生形变并“咬合”在一起,那么在遇到一些生产中的疑难杂症时,我们就能更有针对性地去排查问题,而不是盲目地调整参数。我特别希望这本书能够用一种非常直观、易懂的方式来解释超声键合的物理过程。我设想书中会有大量的图解,比如金属丝在超声作用下的变形过程,键合界面微观形貌的变化,甚至是原子级别的相互作用示意图。我也期待书中能够详细介绍不同种类的超声键合,比如引线键合、芯片键合,以及它们各自的机理和适用范围。此外,对于超声键合过程中常见的材料问题,比如金线、铜线、铝线在超声作用下的差异,焊盘材料的特性对键合质量的影响,以及如何处理表面氧化和污染等,书中是否会有具体的指导?我也想了解一下,现在最先进的超声键合技术有哪些新的发展,比如如何实现更精细的键合,如何提高键合的可靠性和耐久性,如何与自动化生产线更好地集成等等。这本书的名字让我觉得它不仅能告诉我“怎么做”,更能让我明白“为什么这么做”,这对于提升我的操作技能和解决问题的能力,无疑是极有帮助的。

评分

当我看到《微电子封装超声键合机理与技术》这本书的封面时,一种专业而严谨的学术氛围扑面而来。我是一名在半导体设备行业工作的技术支持工程师,我所负责的超声键合设备,是客户生产线上不可或缺的关键设备。我每天都在与这些设备打交道,解决客户在使用过程中遇到的各种技术难题,但坦白说,很多时候,我们更多的是依靠经验和软件的诊断来处理问题,对于超声键合过程的深层机理,我一直觉得了解得不够深入。我希望这本书能够成为我手中的“秘籍”,帮助我从根源上理解超声键合。我非常期待书中能够详细阐述超声波在金属界面是如何“工作”的,比如,超声波能量是如何被耦合到键合界面,并引发金属的塑性变形和微观焊接的。我希望书中能提供关于超声波诱导界面形变和结合的物理模型,以及不同工艺参数,如超声功率、键合时间和压力,是如何影响键合界面的微观结构和性能的。例如,当键合强度不足时,是由于超声能量不够,还是由于界面氧化层太厚,亦或是金属塑性变形不足?这些问题的根源,我想从这本书的“机理”部分找到答案。我也对不同材料的超声键合特性很感兴趣,比如金线、铜线、铝线在超声作用下的差异,以及与不同焊盘材料的相互作用。书中是否会介绍一些关于如何选择合适的键合材料和工艺参数,以获得最佳键合效果的方法?此外,我还想了解一下,在实际的生产环境中,有哪些因素会影响超声键合的质量,比如环境温度、湿度、材料表面的污染等等,这些因素又是如何通过影响机理来导致问题的?我也希望能从书中学习到一些关于如何有效地诊断和排除超声键合设备故障的思路,例如,根据客户描述的现象,结合对机理的理解,来推测可能的原因,并给出相应的解决方案。总而言之,我希望这本书能够让我从一个“操作者”转变为一个更深刻的“理解者”,为我提供解决复杂技术问题的有力武器。

评分

拿到《微电子封装超声键合机理与技术》这本书,我第一时间就被它厚重的书脊和严谨的排版所吸引,这预示着它内容丰富且结构清晰。我是一名在电子制造企业从事质量控制工作的工程师,日常工作中需要接触大量的微电子封装产品,其中超声键合是一种非常关键的连接技术。虽然我不是直接操作超声键合机的技术人员,但对于键合质量的评估和问题的分析,我需要具备一定的专业知识。目前,我们主要依靠力学性能测试,比如拉力测试和剪切测试,来判断键合的优劣。然而,在遇到一些批次性的质量问题时,我们常常需要追溯到工艺源头,去理解为什么会出现这样的问题。这本书的书名“机理与技术”正好满足了我的需求,我希望它能够深入浅出地解释超声键合的原理,让我能够从更深层次理解键合过程。我特别希望能从书中了解,超声波是如何在金属界面产生剪切力和法向力,以及这些力是如何导致金属发生塑性变形,最终形成牢固键合的。例如,不同的超声波参数,如功率、时间、压力,是如何影响键合点的微观形貌、金属的变形程度以及界面氧化层的破裂情况的。我也很想知道,在进行拉力测试或剪切测试时,断点出现在哪里,代表着什么样的键合状态?是线材断裂、界面断裂,还是焊盘脱落?这些不同的断裂模式,又分别意味着什么样的工艺问题?此外,书中是否会介绍一些在线监测技术,用于实时评估超声键合过程的质量,比如利用声发射信号、振动监测等方式来判断键合是否成功?对于高密度封装和细线径键合,超声键合技术又面临哪些挑战,比如线材的翘曲、焊盘的微小形变等,书中是否会提供相应的技术解决方案和质量控制策略?我期待这本书能够帮助我建立起更全面的质量评估体系,能够更准确地分析和判断超声键合过程中出现的各种质量问题,为提升产品可靠性提供科学依据。

评分

拿到这本书《微电子封装超声键合机理与技术》,我首先被其沉甸甸的份量和严谨的装帧所吸引,这通常预示着其内容是相当有料的。作为一名在半导体器件制造领域具有多年从业经验的工艺工程师,我与超声键合打交道的日子比我预期的要长得多。从早期的引线键合到如今更复杂的芯片级封装,超声键合始终扮演着至关重要的角色。然而,在实际工作中,很多时候我们更多的是依靠经验和供应商提供的参数指导来操作,对于其背后深邃的物理学原理,比如超声波能量如何有效地转化为界面能量,如何诱导金属发生塑性变形并形成牢固的连接,以及在不同材料体系下,这种能量转化和形变过程的微妙差异,我一直觉得了解得不够透彻。我非常期待这本书能够深入剖析超声键合过程中最核心的“机理”部分,例如,超声振动如何在探针和材料界面之间传递,如何克服材料表面的氧化层和污染物,如何引发金属的局部塑性流动,最终形成冶金键。我希望书中能够提供关于超声波诱导界面形变的微观模型,甚至可以涉及一些损伤力学或界面物理学的相关理论,来解释键合强度的形成机制。此外,对于材料方面的考量,比如不同金属(金、铜、铝)在超声作用下的变形行为、硬度变化、以及与不同焊盘材料(如铝、铜、金)的相互作用,书中是否会有详细的对比分析?特别是随着铜线键合的普及,铜线氧化层处理的挑战,以及其与金焊盘之间的键合特性,这方面的内容我尤为关注。我也希望这本书能提供一些关于超声键合在极端条件下的应用,比如在高温环境下的键合,或者对敏感器件的键合,这些应用场景对机理的理解提出了更高的要求。总的来说,我希望这本书能够提供一个坚实的理论框架,帮助我们理解“为什么”超声键合有效,以及如何通过对机理的深刻理解来优化工艺,解决实际生产中的难题,从而进一步提升微电子封装的可靠性和性能。

评分

拿到《微电子封装超声键合机理与技术》这本书,我第一眼就被它沉甸甸的专业感所吸引。我是一位电子封装领域的研发人员,从事这个行业已经有七八年的时间了,对于各种封装技术都有一定的了解和实践经验。超声键合作为其中一种基础且核心的连接技术,我每天都在与它打交道。然而,随着技术的发展和产品要求的不断提高,我越来越意识到,仅仅停留在掌握操作层面是远远不够的。我需要更深入地理解其背后的物理原理,这样才能在遇到瓶颈时,找到突破的方向,或者在开发新工艺、新材料时,做出更科学的决策。这本书的书名“机理与技术”恰好戳中了我的痛点。我非常渴望书中能够详细阐述超声键合过程中能量的转化和传递机制,特别是超声波在金属导体和金属焊盘表面之间如何产生作用力,以及这种作用力如何导致金属塑性变形,从而形成冶金键。我希望书中能够提供关于超声波在界面产生局部高温和塑性流动的具体微观模型,并解释不同频率、功率、时间和压力等工艺参数对键合界面微观结构的影响。例如,金属塑性变形的程度如何影响键合强度,界面氧化层在超声作用下是如何被破坏的,以及键合过程中是否会发生金属原子间的扩散?此外,对于超声键合过程中可能出现的各种缺陷,比如假键、搭接、探针划伤、焊线断裂等,书中是否会从机理层面进行深入分析,并提供相应的预防和解决措施?例如,假键是如何形成的,其微观结构有什么特点?探针的磨损和损伤是如何影响键合质量的?在高密度互连和细线径键合的趋势下,超声键合技术又面临哪些新的挑战,书中是否会有相关的探讨和解决方案?我期待这本书能够提供丰富的实验数据和仿真结果来支撑其理论分析,使我们能够更直观地理解这些复杂的物理过程。

评分

这本书的名字《微电子封装超声键合机理与技术》立刻吸引了我,特别是“机理”二字,让我觉得它绝不仅仅是一本操作手册,而是一本能解答“为什么”的深度读物。我是一名在大学里攻读微电子学的研究生,目前正在进行一项关于新型封装互连技术的研究,超声键合是我课题中一个重要的组成部分。我目前所接触的文献,大多集中在工艺参数的优化和实验结果的呈现,但对于超声波能量是如何具体作用于金属界面,引起微观形变并最终形成键合的,我始终觉得缺乏一个清晰、系统的物理模型。我非常期待这本书能够填补我在这方面的知识空白。我希望书中能够详细阐述超声键合过程中的能量传递和转化机制,例如,超声波振动如何通过探针传递到金属线和焊盘表面,如何在其交界处产生高频次的微观冲击和摩擦,从而局部软化金属,打破表面的氧化层和污染物。我特别关注书中是否会涉及一些现代物理学和材料科学的理论,比如晶体塑性理论、界面摩擦学、以及微观形变动力学等,来解释键合过程的微观本质。此外,对于不同材料体系的键合特性,比如金线与金焊盘、铜线与铜焊盘、金线与铝焊盘等,其键合机理有何差异?超声波的频率、功率、时间和压力等参数是如何影响键合界面的微观结构和性能的?我也希望书中能提供一些关于新型超声键合技术的研究进展,例如,如何实现更精细、更可靠的键合,如何应对高密度互连带来的挑战,以及超声键合与其他互连技术(如焊料回流、热压键合)的比较和互补性。我希望能通过阅读这本书,能够建立起一个对超声键合机理的完整认知,为我未来的研究提供坚实的理论支撑,并可能启发我设计出新的、更优化的键合工艺。

评分

我刚拿到这本《微电子封装超声键合机理与技术》,第一感觉就是它的内容一定相当专业和深入。作为一名在半导体行业摸爬滚打多年的工程师,我深知封装技术的重要性,尤其是在追求高性能、高可靠性的今天,超声键合作为一种成熟且广泛应用的互连技术,其原理和工艺的精细化程度直接影响着产品的最终表现。我平时工作中接触的超声键合设备型号不少,也积累了一些实践经验,但坦白说,很多时候我们更多的是按照供应商提供的参数手册进行操作,或者根据经验进行微调,对于深层次的机理理解,特别是不同材料组合下超声波能量如何转化为界面结合力的过程,以及微观形变和界面氧化层破裂的机理,我一直觉得还有很多空白。这本书的书名就非常直接地点明了这一点,它不仅仅是介绍“如何做”,更强调“为什么这么做”,这正是我所需要的。我非常期待书中能够对超声键合过程中的能量传递、界面摩擦、金属塑性变形、以及键合区域微观结构的形成等关键环节进行详尽的解析。例如,超声波振动是如何被传递到键合界面,并在界面上产生瞬态的高温和高压,从而软化金属,打破氧化层,实现金属间的相互扩散和结合,这个过程的物理模型是什么样的?不同的超声波频率、功率和振幅对键合质量有什么样的定量影响?还有,键合工具(如探针)的设计和材料选择,以及它们与键合线和焊盘的相互作用,是否也会有深入的讨论?对于超声键合过程中常见的工艺问题,比如表面污染、氧化层厚度变化、材料硬度差异等,书中是否会给出基于机理的分析和解决方案?例如,如何有效清除氧化层,如何补偿材料性能的差异,如何避免虚键和拉断等。我希望这本书能够提供扎实的理论基础,同时又不失工程应用的指导意义,能够帮助我们这些一线工程师在面对复杂问题时,能够从更根本的层面去理解和解决,而不是停留在表面现象的处理。

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我手中这本《微电子封装超声键合机理与技术》,ISBN号9787030412140,封面上那种科技感十足的设计,让我在第一眼看到它的时候就觉得这是一本值得深入研读的书。我是一名在电子产品设计领域工作的工程师,虽然不直接操作超声键合设备,但对于封装技术,尤其是互连技术的选择和评估,却是我工作中不可或缺的一环。随着电子产品朝着更小、更快、更强的方向发展,对封装的可靠性和性能要求也越来越高。超声键合作为一种重要的微电子互连技术,其优劣直接关系到产品的整体表现。我一直对超声键合的“软连接”特性以及它在低温、无助焊剂条件下实现连接的能力非常感兴趣,但也深感在理论层面对其理解不够深入。我希望能通过这本书,能够更系统地掌握超声键合的物理机理,比如超声波在金属界面是如何引发塑性变形和微观焊接的,不同的超声波能量输入如何影响键合点的微观结构,以及键合过程中金属间可能发生的相变或合金化过程。我尤其关注书中是否会对不同材料体系的超声键合进行深入分析,例如金、铜、铝等不同金属导线与硅、陶瓷、金属焊盘之间的键合特性,以及在这些不同组合下,超声波能量的耦合、界面变形和结合机制有何差异。此外,我也对超声键合的可靠性评估方法很感兴趣,书中是否会详细介绍如何通过各种力学测试、电学测试、以及环境应力测试来评估键合的质量和寿命?例如,拉力测试、剪切测试的原理和结果解读,以及在高温、高湿、温度循环等应力下的失效模式分析。对于日益复杂的封装结构,比如三维堆叠封装,超声键合技术在其中扮演着怎样的角色,又面临着哪些技术挑战,书中是否有相关的探讨和前瞻性的分析?我希望这本书能够提供扎实的理论基础,辅以充分的实验证据和案例分析,帮助我更全面地理解超声键合技术的优势、局限性以及未来的发展方向,从而在产品设计中做出更优化的选择。

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这本书的书名是《微电子封装超声键合机理与技术》,ISBN号是9787030412140。 这本书我拿在手里,厚度适中,封面设计相当有科技感,深邃的蓝色背景下,金色的线条勾勒出精密仪器和微观世界的图景,一下子就吸引了我。我是一名电子工程专业的学生,对微电子封装这个领域一直抱有浓厚的兴趣,尤其是在学习了半导体器件的制造过程后,更是觉得封装环节是连接芯片功能与实际应用的关键桥梁。在接触到这本书之前,我对超声键合的了解主要停留在理论层面,知道它是一种利用超声波能量将金属线与芯片焊盘或引线架连接起来的工艺,具有无需加热、对材料损伤小等优点。然而,对于其背后的物理机理,比如超声波如何在金属界面产生剪切力,如何形成牢固的键合,以及在实际操作中会遇到哪些具体的参数设置和工艺挑战,我一直感到知之甚少。我希望这本书能够深入浅出地阐释这些复杂的原理,用清晰的图示和具体的案例来解释,而不是仅仅罗列公式和概念。我特别期待书中能够详细介绍不同材料体系下的超声键合特性,比如金丝键合、铜丝键合、铝丝键合等,它们在工艺参数、键合强度、可靠性等方面会有哪些差异。同时,我也对超声键合设备的最新发展趋势很感兴趣,例如自动化程度的提高、视觉系统的应用、在线检测技术的集成等,这些都直接关系到生产效率和产品质量。这本书的名字就点出了“机理与技术”这两个关键词,这让我觉得它不仅仅是停留在理论的探讨,更会结合实际的应用,给出解决问题的思路和方法。我设想书中可能会有一部分专门讲解如何优化超声键合的工艺参数,比如超声功率、键合时间和压力,以及如何评估键合质量,比如拉力测试、剪切测试、显微镜观察等。此外,对于封装过程中可能出现的缺陷,如虚焊、搭接、打滑等,书中是否会提供相应的诊断和预防措施,这也是我非常关注的。总的来说,我抱着极大的期待,希望这本书能够成为我学习和研究微电子封装超声键合领域的宝贵资源,帮助我建立起系统、深入的知识体系,并为我未来的学习和工作打下坚实的基础。

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我的目光被《微电子封装超声键合机理与技术》(ISBN 9787030412140)这本书深深吸引。我是一名在电子信息领域从事教学工作的教师,平时的工作就是为学生传道授业解惑。在讲解微电子封装技术时,超声键合是一个绕不开的重要环节。虽然我能够介绍其基本原理和操作流程,但要深入地解答学生关于“为什么”的疑问,尤其是在微观层面,我常常感到力不从心。因此,我迫切需要一本能够提供扎实理论基础和前沿技术进展的教材。我希望这本书能够系统地阐述超声键合的物理学机理,用严谨的数学模型和清晰的图示来解释超声波能量是如何转化为机械能,并在金属界面引发塑性变形和形成牢固键合的。我期待书中能够详细介绍超声波的发生、传递和作用过程,以及不同频率、功率、时间、压力等参数对键合质量的影响。例如,超声波的振幅和频率如何影响界面的应力分布和形变模式?界面氧化层在超声作用下是如何被破坏的?金属的塑性变形和扩散是如何发生的?我也对不同材料体系下的超声键合特性非常感兴趣,例如金、铜、铝等不同金属导线与不同焊盘材料之间的键合机理有什么区别?书中是否会提供不同材料组合下的键合强度、可靠性数据以及失效模式分析?此外,我希望这本书能够介绍超声键合技术的最新发展动态,包括新型键合工具的设计、先进的视觉检测系统、以及在微小化、高密度封装应用中的挑战和解决方案。例如,如何实现更精细、更牢固的键合,如何应对三维堆叠封装带来的新问题,以及超声键合在柔性电子、功率器件等领域的应用前景。我相信,通过阅读这本书,我能够更好地掌握超声键合的核心知识,从而更有效地指导我的教学和科研工作,为培养下一代微电子人才提供更优质的资源。

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