微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷

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中国标准出版社第四编辑室 著
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出版社: 中国标准出版社
ISBN:9787506648011
商品编码:29864477705
包装:平装
出版时间:2008-02-01

具体描述

基本信息

书名:微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷

定价:190.00元

作者:中国标准出版社第四编辑室

出版社:中国标准出版社

出版日期:2008-02-01

ISBN:9787506648011

字数:

页码:

版次:1

装帧:平装

开本:大16开

商品重量:1.162kg

编辑推荐


内容提要


为便于广大读者查阅和使用微电路国家标准,我社编辑出版《微电路国家标准汇编》,汇编收入截至2007年底前发布实施的国家标准,分两卷出版。本汇编为《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》,共收集有关国家标准23项。
  本汇编在使用时应读者注意以下两点:
  1.收入标准的出版年代不尽相同,对于其中的量和单位不统一之处及各标准格式不一致之处未做改动。
  2.本汇编收集的国家标准的属性已在本目录上标明(GB或GB/T),标准年号用四拉数字表示。鉴于部分标准是在清理整顿前出版的,现尚未修订,故正文部分保留原样。

目录


作者介绍


文摘


序言



《微电路国家标准汇编:基础及测试方法卷》 内容简介 本书是“微电路国家标准汇编”系列中的基础性与实践性并重的一卷,旨在全面、系统地梳理和呈现我国微电路领域的核心国家标准,重点聚焦于基础理论、关键参数定义、通用技术要求以及各类测试方法。本卷不仅是微电路设计、制造、测试、应用及质量管控等环节从业人员的必备参考,更是科研机构、高等院校师生深入理解微电路技术体系、掌握行业权威规范的权威指南。 一、 概述与重要性 在当今数字化浪潮席卷全球的背景下,微电路(集成电路)作为信息技术产业的“粮食”,其重要性不言而喻。从智能手机、个人电脑到人工智能、物联网,再到航空航天、医疗健康等尖端领域,微电路都扮演着核心驱动力的角色。国家标准作为指导行业发展、规范市场行为、保障产品质量的基石,在微电路领域尤为关键。 本书汇集了当前在微电路基础理论、元器件特性、封装技术、可靠性评估以及各种测试验证方法等方面具有广泛指导意义的国家标准。这些标准凝聚了我国在微电路领域多年的研究成果和实践经验,代表了我国在微电路技术发展方向上的共识和权威性。通过对本卷内容的学习和掌握,读者能够: 1. 建立扎实的理论基础: 深入理解微电路设计的核心概念,包括半导体物理、器件模型、电路理论等,为后续的深入学习和研究奠定坚实基础。 2. 规范行业实践: 遵循国家标准的要求,确保微电路的设计、制造、封装、测试等过程的规范性和一致性,提高产品质量和可靠性。 3. 提升测试验证能力: 掌握各类微电路的测试方法和评价指标,能够有效地对微电路的性能、功能、可靠性进行全面评估。 4. 促进技术交流与合作: 统一的技术语言和标准,为国内外的技术交流、成果转化和产业合作提供了便利。 5. 推动产业健康发展: 通过标准的引领和约束,促使产业向更高质量、更高效率、更可持续的方向发展。 二、 核心内容板块解析 本卷内容丰富,覆盖面广,主要可分为以下几个核心板块: 1. 微电路基础理论与术语标准 微电路基本概念与分类: 详细阐述了微电路的定义、分类(如模拟集成电路、数字集成电路、混合信号集成电路、功率集成电路、射频集成电路等),以及不同类型微电路的特点和应用领域。 半导体器件模型与特性: 涵盖了构成微电路最基本单元——半导体器件(如MOSFET、BJT、二极管等)的标准模型、参数定义、电气特性描述及测量方法。这些标准为理解和仿真微电路的行为提供了必要的理论支撑。 电路理论与设计原则: 涉及微电路设计中普遍适用的电路理论,如信号传输、噪声分析、功耗管理、稳定性分析等。标准中可能包含对通用设计流程、设计规则(DRC)、版图规则(LVS)等方面的基础性规定。 关键术语定义: 统一和规范了微电路领域的核心术语,如阈值电压、跨导、结电容、漏电流、开关速度、逻辑延迟、驱动能力等,确保不同背景的从业人员能够使用同一套语言进行沟通和理解。 2. 通用技术要求与参数定义标准 材料与工艺通用要求: 针对微电路制造过程中涉及的关键材料(如硅片、光刻胶、介质层、金属互连材料等)以及基本工艺步骤(如外延生长、氧化、光刻、刻蚀、扩散、离子注入、薄膜沉积、金属化等),制定了通用的技术要求和性能指标。 封装技术标准: 详细规定了各类微电路封装(如DIP、SOP、QFP、BGA、CSP等)的尺寸、引脚定义、材料选择、结构设计、气密性、热性能等方面的通用技术要求。封装是微电路与外部电路连接的关键,直接影响其可靠性和性能。 关键电气参数定义与测量: 针对不同类型微电路,定义了一系列关键的电气参数,例如: 数字电路: 逻辑电平(高低电平阈值)、扇出能力、上升/下降时间、传播延迟、工作电压范围、功耗等。 模拟电路: 增益、带宽、输入/输出阻抗、共模抑制比(CMRR)、电源抑制比(PSRR)、噪声系数、线性度(如IP3, P1dB)、失调电压等。 混合信号电路: 转换速率、量化噪声、信噪比(SNR)、无杂散响应(SFDR)、采样速率、时钟抖动等。 射频电路: 增益、噪声系数、线性度、阻抗匹配、S参数、驻波比(VSWR)等。 功率器件: 击穿电压、导通电阻、阈值电压、最大电流、热阻等。 这些标准的制定,为微电路的性能评价和选型提供了客观依据。 3. 微电路测试方法与可靠性评估标准 通用测试方法: 涵盖了对微电路进行功能、电气特性、性能参数测试的通用方法和流程。这包括测试环境要求(温度、湿度、电源)、测试仪器配置、测试信号生成、数据采集与分析等。 功能测试: 规定了如何验证微电路是否按照设计规格实现其预期的逻辑功能,包括激励向量的生成、通过/失败判据等。 参数测试: 详细描述了如何测量上述“关键电气参数”的标准测试方法,以确保测试结果的准确性和可比性。例如,对于传播延迟,标准会规定使用特定的测试电路、激励信号和测量点。 环境与可靠性测试: 这是保障微电路在各种工作条件下稳定可靠运行的核心内容。本卷可能包含以下方面的标准: 温度循环试验: 评估微电路在温度剧烈变化下的耐久性。 高低温储存试验: 评估微电路在极端温度下的长期储存稳定性。 湿热试验: 评估微电路在高温高湿环境下的性能衰减和失效风险。 振动与冲击试验: 评估微电路对机械应力的抵抗能力。 电迁移试验: 评估金属互连在电流驱动下的可靠性。 加速寿命试验(ALT): 通过提高工作应力(如电压、温度)来预测微电路的长期寿命。 ESD(静电放电)测试: 评估微电路对静电放电的耐受能力,是保护微电路免受损坏的关键。 Latch-up(闩锁效应)测试: 尤其针对CMOS电路,评估其在特定条件下发生闩锁效应的风险。 故障分析与失效模式: 提供对微电路失效进行分析的标准方法和指导,帮助识别失效原因,总结失效模式,并用于改进设计和制造工艺。 三、 本卷的特点与价值 权威性: 本卷收录的均为国家标准,具有最高级别的权威性和法律效力,是理解和遵循我国微电路行业规范的直接依据。 系统性: 旨在构建一个全面、系统的微电路基础和测试方法知识体系,从理论到实践,从宏观到微观,力求覆盖微电路生命周期的关键环节。 实践性: 特别侧重于测试方法和可靠性评估,为工程实践提供了可操作的指南和具体的测量手段,有助于解决实际生产和研发中遇到的问题。 前瞻性: 国家标准的制定往往会参考最新的技术发展趋势,因此本卷所汇集的标准也蕴含着我国在微电路领域的技术导向。 易用性: 通过清晰的结构和专业的语言,方便读者快速定位所需信息,提高查阅效率。 四、 适用读者群体 微电路设计工程师: 了解设计规则、器件模型、关键参数定义,为高效、高质量的设计提供指导。 工艺与制造工程师: 掌握材料、工艺流程和关键工艺参数的标准要求,优化生产过程。 测试工程师: 学习和应用各类测试方法,进行产品性能验证和质量把控。 可靠性工程师: 依据标准进行可靠性评估和寿命预测,保障产品在苛刻环境下的可靠性。 质量管理与体系认证人员: 依据标准建立和完善质量管理体系,进行产品合规性审查。 科研人员与高等院校师生: 深入研究微电路理论,开展技术创新,培养专业人才。 产品经理与采购人员: 理解微电路的性能指标和质量要求,进行产品选型和供应商评估。 行业监管与标准化机构: 作为行业管理和政策制定的重要参考。 总结 《微电路国家标准汇编:基础及测试方法卷》不仅是一部标准汇编,更是微电路技术发展的“路线图”和行业规范的“度量衡”。通过对本卷内容的深入学习和理解,读者将能够更好地把握微电路领域的技术脉络,提升专业技能,推动我国微电路产业的持续创新与高质量发展。本书的出版,对于加速我国从微电路设计、制造到应用的整体技术实力提升,保障国家信息安全,以及在全球半导体竞争格局中占据有利地位,都具有深远的意义。

用户评价

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这套《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》在我看来,更像是一本“字典”与“工具箱”的结合体。作为一名刚入行不久的微电子设计助理,我常常被各种专业术语和测试报告弄得晕头转向。很多时候,前辈们在讨论问题时,提到的某些标准我根本不熟悉,只能尴尬地附和。而这本书,就像一个万能的解释器,为我提供了坚实的基础。它并没有上来就讲高深的理论,而是先从最基本的半导体物理特性、PN结的形成、MOSFET的工作原理等讲起,这些内容虽然看似基础,但却是理解整个微电子世界运转的关键。我过去在学校里学到的很多知识,在这本书里得到了更系统、更深入的梳理。更让我兴奋的是,它在基础理论之上,详细地阐述了各种微电路的测试方法。我一直觉得,理论再好,最终还是要落到实处。这本书在这方面做得非常出色,它不仅仅列出了各种测试的名称,还对测试的原理、步骤、所需的仪器设备、以及如何解读测试结果都进行了详细的说明。比如,在测试器件的直流参数时,它会告诉你如何正确连接测试仪器,如何设置电流和电压的范围,以及如何根据I-V曲线来判断器件的性能。在进行交流参数的测试时,它会详细介绍S参数的测量和应用,以及如何通过网络分析仪来获取这些数据。更重要的是,它还针对不同的微电路类型,例如模拟电路、数字电路、射频电路等,提出了不同的测试策略和注意事项。这让我明白,没有一种放之四海而皆准的测试方法,需要根据具体情况灵活运用。这本书让我能够更自信地参与到团队的讨论中,也让我能够独立完成一些基础的测试任务,为我未来的职业发展打下了坚实的基础。

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刚拿到这本《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》的时候,我抱着一种试试看的心态。毕竟,国家标准这类东西,很多人都觉得枯燥乏味,而且晦涩难懂。然而,当我翻开第一页,我就被它所吸引了。这本书的编写风格非常务实,它不是那种为了写而写的教科书,而是真正从实际工程应用出发,为我们这些一线操作人员提供了切实可行的指导。我是一名芯片测试工程师,每天的工作就是和各种测试设备打交道,确保生产出来的芯片符合设计要求。在这之前,我们团队内部的测试方法很多都是基于经验传承,或者根据客户提供的零散资料来摸索。这种方式效率不高,而且一旦遇到新器件或者新工艺,就容易出现瓶颈。这本书的出现,就像给我们的工作注入了新的活力。它系统地整理了微电路的基础知识,让我对各种器件的内部结构和工作原理有了更深刻的理解,这对于我准确理解测试报告、排查故障非常有帮助。更重要的是,书中关于测试方法的介绍,简直是量身定制。它详细介绍了各种测试仪器(如示波器、逻辑分析仪、频谱分析仪等)的使用方法和注意事项,以及如何设置测试参数以获得最准确的结果。它还提供了很多典型的测试案例,让我能够对照着书中的方法去验证我们的测试流程。比如,对于数字信号的眼图测试,过去我们只是知道怎么做,但不知道为什么这么做,以及眼图的哪些参数对信号质量影响最大。这本书就详细解释了眼高、眼宽、抖动等关键参数的含义,以及它们与误码率的关系。这让我能够更深入地理解测试的意义,而不仅仅是机械地执行操作。这本书已经成为了我工作台上的必备参考书,我把它放在手边,随时翻阅。

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这本书,我感觉它更像是一本“百科全书”,一本关于微电路世界的“百科全书”。作为一名在电子产品设计领域工作了十多年的工程师,我一直深信,扎实的基础知识是解决一切技术难题的基石。而《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》,恰恰提供了一个极其扎实的基础。它并没有局限于某个特定的器件或者某个特定的应用,而是从最根本的物理原理出发,逐步深入到各种复杂的微电路的构成和工作机制。我特别喜欢它在基础理论方面的阐述,比如对半导体材料的特性、PN结的形成机制、MOSFET等关键器件的工作原理的讲解,都非常透彻和细致。这让我能够更好地理解为什么某些电路会这样工作,为什么会出现这样的现象。然后,这本书在讲解完基础理论之后,就开始深入到各种测试方法。这一点非常重要,因为理论的验证离不开实际的测试。它详细介绍了各种测量仪器(如万用表、示波器、逻辑分析仪、信号发生器等)的使用方法,以及如何根据不同的测试目的来设置仪器的参数。它还提供了一些非常实用的测试技巧,例如如何避免测量误差,如何选择合适的测试点,如何对测试结果进行分析和解读等等。这些内容,对于我们在实际工作中进行电路设计、故障排查和性能优化,都提供了宝贵的指导。这本书让我感觉,我不仅仅是在学习一个技术,而是在构建一个完整的知识体系,一个能够让我应对各种挑战的强大武器。

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读完这本《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》,我最大的感受就是“专业”二字。我是一名微电子研究所的研究员,主要的研究方向是新材料在微电子器件中的应用。在我们这个领域,理论研究固然重要,但最终的成果能否转化为实际产品,测试是必不可少的一环。而国家标准,更是衡量一个产品是否合格的硬性指标。过去,我们在进行器件性能评估时,往往需要花费大量的时间去查找相关的国家标准,有时候还会因为对标准的理解不准确而导致测试结果出现偏差。这本书的出现,就像是把所有相关的国家标准都汇编到了一起,并且进行了系统化的整理和阐述。它首先从微电路的基础理论讲起,包括材料特性、器件物理、电路设计等,这些内容为理解后续的测试方法奠定了坚实的基础。让我印象深刻的是,书中对各种测试方法的介绍,不仅仅是简单的描述,而是深入剖析了测试的原理,分析了不同测试方法在不同应用场景下的优缺点,以及如何根据实际需求来选择最合适的测试方法。比如,对于一些微弱信号的检测,书中就详细介绍了不同类型放大器的使用方法,以及如何通过信号处理技术来提高信噪比。在进行器件可靠性测试时,书中也提供了详细的测试流程和加速寿命试验的理论基础。这本书最大的价值在于,它将复杂的国家标准转化为易于理解和操作的指南,为我们这些研究人员提供了强大的支持。它让我们能够更快速、更准确地进行器件的性能评估和可靠性验证,加速了我们的研究进程。

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我对这本《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》的评价,可以用“如获至宝”来形容。我是一名在一家小型电子设备制造公司担任研发工程师的年轻人,公司规模不大,很多技术支持和标准都是自己摸索。在研发过程中,我们常常会遇到一些关于元器件性能、电路可靠性等方面的问题,但由于缺乏系统性的指导,常常会走很多弯路。这本书的出现,就像为我们打开了一扇新世界的大门。它不仅仅是罗列了各种国家标准,更重要的是,它将这些标准背后的科学原理和工程实践进行了深入浅出的阐述。我特别喜欢书中关于基础理论的部分,它将那些抽象的物理概念和数学公式,用通俗易懂的语言和生动的图示进行了解释,让我这个非理论出身的工程师也能轻松理解。而在测试方法方面,这本书更是给了我巨大的帮助。我们公司之前在进行产品测试时,很多标准都是自己制定的,不够规范,也容易产生争议。这本书则提供了一套完整的、符合国家标准的测试流程和方法。例如,在进行功耗测试时,书中详细介绍了不同工作模式下的功耗测量方法,以及如何通过优化电路设计来降低功耗。在进行电磁兼容性(EMC)测试时,书中也详细解释了传导发射、辐射发射、抗扰度等测试项目,并给出了相应的测试设备和方法。这本书的实用性非常强,我能够直接将书中的内容应用到我们的研发和生产过程中,大大提高了我们的工作效率和产品质量。

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这本书的出现,简直就是给所有从事微电子领域的朋友们带来了福音。我是一名在自动化设备行业摸爬滚打了十几年的工程师,平时的工作内容就是围绕着各种元器件进行开发、测试和故障排查。坦白说,以前在工作中遇到一些疑难杂症,往往需要翻阅大量的技术资料,有时候甚至要自己一点点摸索,效率低下且容易走弯路。直到我偶然间看到了这本《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》,我才意识到,原来一直以来我都在“闭门造车”。这本书的结构非常清晰,从最基础的微电路原理讲起,深入浅出,一点点地铺垫,让你能够理解那些看似复杂的概念。然后,它就开始详细介绍各种测试方法,这部分是我最看重的。要知道,一个微电路的性能优劣,测试是至关重要的环节。书中列举的测试标准,很多都是我之前从未接触过的,但当我按照书中的指导去实践时,我惊喜地发现,很多之前困扰我的问题都迎刃而解了。比如说,对于一些高频信号的测量,过去我总是依赖经验,很难做到精确。但书中详细介绍了关于时域和频域分析的多种测试方法,包括S参数的测试、阻抗匹配的校准等等,让我对测试的理解提升到了一个新的高度。而且,这本书不仅仅是罗列标准,它还会结合实际的应用场景,分析不同测试方法在不同情况下的适用性,以及可能出现的误差和规避方法。这种“授人以渔”的教学方式,让我受益匪浅。我甚至觉得,这本书的价值远不止于此,它更像是一本“武功秘籍”,帮助我们这些江湖人士提升内功,在微电子的江湖中行走得更稳健。我强烈推荐给所有在这个领域奋斗的同仁们,无论是初学者还是资深专家,都能从中获得宝贵的知识和启示。

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这本《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》,是一本我用了很久,但依然觉得有价值的书。我是一名从事了二十多年电子产品验证的老兵,可以说,我的人生大部分时间都和各种电子元器件、电路板打交道。在这个过程中,我见过无数的技术书籍,但真正能让我觉得“实用”并反复翻阅的,并不多。这本书就是其中之一。它没有花哨的语言,没有空洞的理论,而是实实在在地讲解了微电路的基础知识和测试方法。我喜欢它循序渐进的讲解方式,从最基本的半导体物理原理,到各种晶体管、二极管的特性,再到复杂的集成电路的构成和工作方式。这些内容,对于我这样有一定经验的人来说,更像是一种“知识梳理”和“经验印证”。而书中关于测试方法的介绍,更是让我赞不绝口。它详细地描述了各种测试仪器(如逻辑分析仪、示波器、信号发生器等)的原理和使用方法,以及如何进行参数设置以获得准确的测量结果。它还提供了一些非常实用的测试技巧,例如如何对示波器的触发进行优化,如何对采集到的数据进行后处理,如何利用软件工具来辅助测试等等。这些技巧,往往是在实际工作中才能体会到的,而这本书就把它系统地总结了出来。我尤其喜欢书中关于“测试不确定度”的讨论,这在很多技术书籍中是被忽略的,但对于我们做验证的人来说,却至关重要。这本书让我更加理解了“准确”和“可靠”的含义,也让我在工作中更加自信。

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这本《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》,可以说是一本“工具书”,更是一本“指南针”。我是一名在高校从事微电子学教学多年的老师,一直致力于将最新的技术和理论传授给我的学生。然而,微电子领域发展迅速,各种新技术、新材料层出不穷,如何将这些内容系统地、科学地呈现给学生,一直是我思考的问题。这本书的出版,恰好解决了我的难题。它不仅系统地梳理了微电子学的基本原理,还详细介绍了与国家标准相关的测试方法。这对于教学来说,是极其宝贵的资源。在课程设计中,我可以将书中的基础理论部分作为学生的必读书目,让他们扎实掌握微电子学的根基。然后,在实验教学环节,我就可以借鉴书中介绍的各种测试方法,设计出更具实践意义的实验。例如,书中关于半导体材料参数(如载流子浓度、迁移率等)的测量方法,就可以设计成一个具体的实验,让学生亲手操作,加深对理论知识的理解。此外,书中对于不同类型微电路的测试方法,例如模拟集成电路的参数测试、数字集成电路的功能测试、射频微电路的性能测试等,都提供了详细的指导。这让我可以根据不同的课程模块,选择性地教授相关的测试技术,让学生的知识体系更加完整。更重要的是,这本书强调了国家标准的重要性,能够引导学生在未来的职业生涯中,养成严谨、规范的科学研究和工程实践的习惯。这本书为我的教学工作提供了强有力的支撑,也为我的学生们指明了学习的方向。

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在我看来,《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》是一本“技术手册”,更是一本“标准指南”。我是一名在一家大型通信设备公司担任高级工程师的资深从业者,参与过多个国家级通信项目。在这个行业,对技术的要求极高,而且必须遵循国家和行业的各项标准。在这之前,我们团队在进行一些技术评估和产品认证时,往往需要花费大量的时间去查阅、理解和执行各种国家标准,过程非常繁琐,而且容易出现理解偏差。这本书的出现,简直是为我们量身打造的。它系统地汇编了与微电路相关的国家标准,并对这些标准进行了清晰的梳理和解读。我特别欣赏书中对基础理论的讲解,它将那些复杂的半导体物理和电路理论,用一种清晰、逻辑性强的方式呈现出来,让我们可以快速地回顾和巩固基础知识。而关于测试方法的部分,更是让我印象深刻。书中详细介绍了各种测试的原理、流程、仪器设备要求,以及如何进行数据分析和结果评定。例如,对于通信设备中的射频模块,书中就详细阐述了关于信号质量、功率、失真、杂散发射等关键参数的测试方法,以及相关的国家标准。这极大地提高了我们进行产品评估和认证的效率,也确保了我们的产品符合国家标准的要求。这本书已经成为了我们团队的“案头必备”,它不仅为我们提供了坚实的理论基础,更为我们的工程实践提供了权威的指导。

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当我第一次接触到《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》这本书时,我并没有抱太大的期望。毕竟,“国家标准”四个字听起来总是那么严肃和遥远。然而,当我真正阅读这本书时,我才发现,它远远超出了我的想象。我是一名在电子产品售后服务领域工作多年的技术人员,每天都要面对各种各样的电子故障。很多时候,故障的原因非常隐蔽,需要我们对电路的性能有非常深入的理解,并且能够进行精确的测量和分析。这本书,就像一位经验丰富的老师傅,把所有我需要知道的知识都细致地讲解了一遍。它从最基础的半导体元器件的特性开始,一路讲到复杂的集成电路设计和测试。让我感到惊喜的是,书中对各种测试方法的描述,不仅仅是“是什么”,更是“为什么”和“怎么做”。比如,在处理一些信号失真的问题时,我过去总是靠经验判断,但这本书详细讲解了信号失真的各种表现形式,以及如何通过示波器等仪器来识别和量化这些失真。它还介绍了各种滤波器的原理和应用,让我能够更好地理解电路的信号处理过程。更让我觉得实用的是,书中还提供了一些故障诊断的思路和方法,这些都是我在日常工作中经常会遇到的情况。例如,如何通过测量关键节点的电压和电流来判断电路的工作状态,如何使用万用表和逻辑分析仪来排查数字电路的故障等等。这本书已经成为了我随身的“故障诊断手册”,我经常在处理疑难杂症的时候翻阅它,它总能给我一些新的启发和解决方案。

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