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李晓维著

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发表于2025-02-24

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店铺：典则俊雅图书专营店

出版社：科学出版社

ISBN：9787030278944

商品编码：29839548148

包装：精装

出版时间：2010-06-01

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具体描述

图书基本信息,请以下列介绍为准
书名	数字集成电路测试优化
作者	李晓维
定价	58.00元
ISBN号	9787030278944
出版社	科学出版社
出版日期	206-01
版次	1

其他参考信息（以实物为准）
装帧：精装	开本：16开	重量：0.740
版次：1	字数：	页码：

插图

目录

内容提要

本书内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面：测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理，激励压缩的有效方法，测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理，静态测试功耗优化方法，动态测试功耗优化；测试压缩与测试功耗协同优化方法；测试压缩与测试调度协同优化方法；并以产64位高性能处理器(龙芯2E和2F)为例介绍了相关成果的应用。
全书阐述了作者及其科研团队自主创新的研究成果和结论，对致力于数字集成电路测试与设计研究的科研人员(尤其是在读研究生)具有较大的学术参考价值，也可用作集成电路专业的高等院校教师、研究生和高年级本科生的教学参考书。