基本信息

书名:电子系统测试原理

定价：39.00元

售价：26.5元,便宜12.5元,折扣67

作者:(美)莫瑞达,(美)佐瑞安,张威,王仲

出版社：机械工业出版社

出版日期：2007-01-01

ISBN：9787111198086

字数：

页码：296

版次：1

装帧：平装

开本：

商品重量：0.459kg

编辑推荐

内容提要

随着电子技术的不断发展，电子系统测试面临越来越大的挑战：研究更的故障模型，在高层设计上检查易测试性，在综合过程中嵌入更有效的测试结构等。本书详细介绍了测试的基本原理和很多必需的基础知识，来面对这些挑战。
本书涉及开发可靠电子产品的非常实用的设计和测试知识，讲解设计验证的主要手段，有助于测试的设计检查；研究了如何将测试应用于*逻辑、存储器、FPGA和微处理器。后，提供了针对深亚微型设计的高级测试解决方案。读者可以通过本书深入理解测试的基本原理，并掌握众多解决方案。本书的主要内容包括：
●解释了测试在设计中的作用。
●详细讨论了扫描路径和扫描链的次序。
●针对嵌入式逻辑和存储器块的BIST解决方案。
●针对FPGA的测试方法。
●芯片系统的测试。

目录

作者介绍

Samiha Mourad博士是加利福尼亚圣克拉拉大学电子工程系教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亚圣何塞Logic Vision公司的首席技术顾问。

文摘

序言