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內容簡介

　　《單闆級JTAG測試技術》是一本係統論述單闆級JTAG測試技術的專著。內容包括：基於IEEEl149．1標準的邊界掃描測試、可測性設計和測試功能及串行測試矢量；內建自測試和仿真測試；基於IEEEl687標準的集成電路測試技術發展趨勢。
　　《單闆級JTAG測試技術》適閤於從事集成電路開發的工程技術人員閱讀，對於電子測量、通信工程和電路係統學科的學生，也有一定的參考作用。

作者簡介

　　王承，1976生，江蘇揚州人，博士。現任職於中興通訊股份有限公司，主要從事單闆級JTAG測試技術的研發、推廣和生産應用工作。研究方嚮：集成電路測試、模式識彆、人工智能和故障診斷等。
　　
　　劉治國，1977生，湖南益陽人，碩士。現任職於工業和信息化部電子第五研究所，主要從事元器件檢測和試驗工作。研究方嚮：集成電路可靠性評價和電子元器件檢測技術。

目錄

第1章 測試的基本概念
1.1 數字電路測試
1.1.1 測試
1.1.2 測試分類
1.1.3 數字電路分類
1.2 故障及故障模型
1.3 算法
1.4 測試覆蓋率和故障檢齣率
1.5 測試矢量
1.5.1 組閤電路的測試矢量生成
1.5.2 時序電路的測試矢量生成
1.6 可測性
1.6.1 可控性
1.6.2 可觀性
1.6.3 可測性設計方法

第2章 單闆級.ITAG測試
2.1 背景介紹
2.2 傳統單闆測試方法的睏難
2.2.1 在綫測試
2.2.2 光學測試
2.2.3 功能測試
2.3 生産製造應用
2.4 JTAG測試技術
2.5 單闆級JTAG測試
……

第3章 IEEE1149.X標準
第4章 單闆級邊界掃描可測性設計
第5章 邊界掃描測試技術應用
第6章 串行矢量格式
第7章 內建自測試技術
第8章 片上仿真測試
第9章 嵌入測試
參考文獻

精彩書摘

　　《單闆級JTAG測試技術》：
　　9）Exit2-DR（第二次數據退齣）
　　這是一個暫態過程。在該狀態下，如果TMS為“1”，當TCK上升沿時，掃描過程結束，TAPC進人數據更新（Update-DR）狀態；如果TMS為“0”，當TCK上升沿時，TAPC進入數據移位（Shift-DR）狀態。
　　所有選定的測試數據寄存器，保持原先的狀態不變。在該狀態下，測試指令也不會變化。
　　10）Update-DR（數據更新）
　　一些測試數據寄存器帶有鎖存並行輸齣，針對特定測試指令響應（如EXTEST、INTEST、RUNBIST），當數據移入到相連的移位寄存器路徑時，可防止在並行輸齣端的變化。當進入到數據更新（Update-DR）狀態，在TCK下降沿，來自於移位寄存器路徑的數據，被鎖存到這些測試數據寄存器的並行輸齣端。除瞭數據更新（Update-DR）狀態，即在狀態機的其他狀態時，鎖存在並行輸齣端的數據應該一直保持不變，除非是執行瞭自測試操作（如：在測試／空閑態對於特定設計測試指令的響應）。
　　所有選定的測試數據寄存器，保持原先的狀態不變。在該狀態下，測試指令也不會變化。如果TMS為“1”，當TCK上升沿時，TAPC進入選擇數據掃描寄存器（Select-DR-Scan）狀態；如果TMS為“0”，當TCK上升沿時，TAPC進入測試／空閑（Run-Test／Idle）狀態。
　　……

前言/序言

單闆級JTAG測試技術 下載 mobi epub pdf txt 電子書

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