《材料分析方法（第3版）》主要包括材料X射綫衍射分析和材料電子顯微分析兩大部分。書中介紹瞭用X射綫衍射和電子顯微技術分析材料微觀組織結構的原理、設備及試驗方法。其內容包括：X射綫物理學基礎、X射綫衍射方嚮與強度、多晶體分析方法、物相分析及點陣參數精確測定、宏觀殘餘應力的測定、多晶體織構的測定、電子光學基礎、透射電子顯微鏡、電子衍射、晶體薄膜衍襯成像分析、高分辨透射電子顯微術、掃描電子顯微鏡、電子背散射衍射分析技術、電子探針顯微分析、其他顯微結構分析方法及實驗指導。書中的實例分析注重引入瞭材料微觀組織結構分析方麵的新成果。
《材料分析方法（第3版）》可以作為材料科學與工程學科的本科生和研究生教材或教學參考書，也可供材料成形及控製工程等其他專業師生和從事材料研究及分析檢測方麵工作的技術人員學習參考。

作者簡介

周玉，1955年7月生。博士，教授，中國工程院院士。1982年1月～1989年3月獲哈爾濱工業大學金屬材料及工藝係學士、碩士和博士學位。曾留學於日本東京大學和英國利茲大學。現任哈爾濱工業大學教授、博士生導師、副校長。兼任中國機械工程學會理事；中國矽酸鹽學會特陶分會理事長；國傢自然基金委員會工程與材料學部專傢谘詢委員會委員；教育部學科發展與專業設置專傢委員會委員：教育部高等學校教學指導委員會委員；全國工程教育專業認證專傢委員會委員；中國高教學會常務理事等學術兼職。主要從事陶瓷的相變與韌化、陶瓷復閤材料製備、組織結構與性能錶徵、抗熱震與耐燒蝕性能及其在航天防熱部件上應用等研究。發明瞭新型防熱陶瓷復閤材料，並成功應用於航天型號。獲國傢技術發明二等奬1項，省部級科技一、二等奬7項；獲國傢發明專利5項；齣版專著及教材5部。獲全國高校優秀教材一等奬1項，獲國傢優秀教學成果二等奬1項；發錶SCI、EI收錄主要學術論文300餘篇。已培養博士、碩士各30餘名。曾獲國傢傑齣青年基金資助和國傢“有突齣貢獻的中青年專傢”、“中國青年科學傢奬”、航天總公司“航天奬”等榮譽稱號。
2009年當選為中國工程院院士。

第3版前言
第2版前言
第1版前言
緒論1

第一篇材料X射綫衍射分析3
第一章 X射綫物理學基礎5
第一節 X射綫的性質5
第二節 X射綫的産生及X射綫譜6
第三節 X射綫與物質的相互作用9
習題15

第二章 X射綫衍射方嚮17
第一節晶體幾何學簡介17
第二節布拉格方程22
第三節 X射綫衍射方法28
習題29

第三章 X射綫衍射強度31
第一節多晶體衍射圖相的形成31
第二節單位晶胞對X射綫的散射與結構因數32
第三節洛倫茲因數35
第四節影響衍射強度的其他因數36
第五節多晶體衍射的積分強度公式38
習題38

第四章多晶體分析方法40
第一節德拜�殘煥址�40
第二節其他照相法簡介45
第三節 X射綫衍射儀47
習題54

第五章物相分析及點陣參數精確測定55
第一節定性分析55
第二節定量分析59
第三節點陣參數的精確測定62
第四節非晶態物質及其晶化過程的X射綫衍射分析66
習題70

第六章宏觀殘餘應力的測定71
第一節物體內應力的産生與分類71
第二節 X射綫宏觀應力測定的基本原理72
第三節宏觀應力測定方法75
第四節 X射綫宏觀應力測定中的一些問題80
習題84

第七章多晶體織構的測定85
第一節極射赤麵投影法85
第二節織構的種類和錶示方法89
第三節絲織構指數的測定95
第四節極圖的測定96
第五節反極圖的測定100
習題102

第二篇材料電子顯微分析103
第八章電子光學基礎105
第一節電子波與電磁透鏡105
第二節電磁透鏡的像差與分辨率108
第三節電磁透鏡的景深和焦長111
習題112

第九章透射電子顯微鏡113
第一節透射電子顯微鏡的結構與成像原理113
第二節主要部件的結構與工作原理117
第三節透射電子顯微鏡分辨率和放大倍數的測定119
習題121

第十章電子衍射122
第一節概述122
第二節電子衍射原理123
第三節電子顯微鏡中的電子衍射131
第四節單晶體電子衍射花樣標定135
第五節復雜電子衍射花樣137
習題140

第十一章晶體薄膜衍襯成像分析141
第一節概述141
第二節薄膜樣品的製備方法141
第三節衍射襯度成像原理144
第四節消光距離146
第五節衍襯運動學147
第六節衍襯動力學簡介154
第七節晶體缺陷分析157
習題165

第十二章高分辨透射電子顯微術166
第一節高分辨透射電子顯微鏡的結構特徵166
第二節高分辨電子顯微像的原理167
第三節高分辨透射電子顯微鏡在材料科學中的應用176
習題183

第十三章掃描電子顯微鏡184
第一節電子束與固體樣品作用時産生的信號184
第二節掃描電子顯微鏡的構造和工作原理186
第三節掃描電子顯微鏡的主要性能189
第四節錶麵形貌襯度原理及其應用190
第五節原子序數襯度原理及其應用195
習題198

第十四章電子背散射衍射分析
技術199
第一節概述199
第二節電子背散射衍射技術相關晶體學取嚮基礎199
第三節電子背散射衍射技術硬件係統209
第四節電子背散射衍射技術原理及花樣標定211
第五節電子背散射衍射技術成像及分析215
第六節電子背散射衍射技術數據處理220
習題224

第十五章電子探針顯微分析225
第一節電子探針儀的結構與工作原理225
第二節電子探針儀的分析方法及應用229
習題231

第十六章其他顯微結構分析方法232
第一節離子探針顯微分析232
第二節低能電子衍射分析234
第三節俄歇電子能譜分析238
第四節場離子顯微鏡與原子探針243
第五節掃描隧道顯微鏡與原子力
顯微鏡248
第六節 X射綫光電子能譜分析254
第七節紅外光譜257
第八節激光拉曼光譜264
第九節紫外�部杉�吸收光譜268
第十節原子發射光譜272
第十一節原子吸收光譜276
第十二節核磁共振279
第十三節電子能量損失譜285
第十四節掃描透射電子顯微鏡288
習題289

實驗指導291
實驗一單相立方係物質X射綫粉末相計算291
實驗二用X射綫衍射儀進行多晶體物質的相分析292
實驗三宏觀殘餘應力的測定296
實驗四金屬闆織構的測定300
實驗五透射電子顯微鏡結構原理及明暗場成像303
實驗六選區電子衍射與晶體取嚮分析306
實驗七掃描電子顯微鏡的結構原理及圖像襯度觀察311
實驗八電子背散射衍射技術的工作原理與菊池花樣觀察及標定315
實驗九電子背散射衍射技術的數據處理及其分析應用318
實驗十電子探針結構原理及分析方法321
附錄324
附錄A 物理常數324
附錄B 質量吸收係數μl/ρ324
附錄C 原子散射因數f325
附錄D 各種點陣的結構因數F2HKL326
附錄E 粉末法的多重性因數Phkl326
附錄F 角因數1+cos22θsin2θcosθ327
附錄G 德拜函數��(x)x+14之值329
附錄H 某些物質的特徵溫度Θ329
附錄I 12cos2θsinθ+cos2θθ的數值330
附錄J 應力測定常數332
附錄K 立方係晶麵間夾角333
附錄L 常見晶體標準電子衍射花樣336
附錄M 立方與六方晶體可能齣現的反射340
附錄N 特徵X射綫的波長和能量錶341
參考文獻343