电子元器件的检测与选用 9787030229441

电子元器件的检测与选用 9787030229441 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

李钟灵,刘南平 著
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店铺: 广影图书专营店
出版社: 科学出版社
ISBN:9787030229441
商品编码:29672633431
包装:平装
出版时间:2009-01-01

具体描述

基本信息

书名:电子元器件的检测与选用

定价:38.00元

售价:25.8元,便宜12.2元,折扣67

作者:李钟灵,刘南平

出版社:科学出版社

出版日期:2009-01-01

ISBN:9787030229441

字数

页码

版次:1

装帧:平装

开本:16开

商品重量:0.499kg

编辑推荐

内容全面,通俗易懂,图文并茂,实践性强。

内容提要

本书以常用的电子元器件为核心,介绍它们的基础知识、工作原理、性能特点、识别、检测与选用的方法。全书共13章,内容包括:电阻器的检测与选用;电容器的检测与选用;电感器的检测与选用;变压器的检测与选用;二极管的检测与选用;三极管的检测与选用;场效应管的检测与选用;晶闸管的检测与选用;石英晶体与滤波器的检测与选用;继电器、开关的检测与选用;电声器件的检测与选用;集成电路的检测与选用;传感器的检测与选用。
全书内容全面、讲述透彻,实用性强,配有大量的元器件实物图,大大提高了本书的参考阅读价值。本书可供广大电子初学者、电子爱好者、电子工程技术人员、维修人员学习、参考阅读。

目录

章 电阻器的检测与选用
1.1 电阻器的基础知识
1.2 固定电阻器
1.3 电位器
1.4 敏感电阻
第2章 电容器的检测与选用
2.1 电容器的基础知识
2.2 固定电容器
2.3 可调电容器
第3章 电感器的检测与选用
3.1 电感器的基础知识
3.2 固定电感器
3.3 可调电感器
3.4 电感器的选用
第4章 变压器的检测与选用
4.1 变压器的基础知识
4.2 变压器的主要参数
4.3 变压器的测量
4.4 变压器的选用
第5章 二极管类的检测与选用
5.1 晶体二极管基本知识
5.2 晶体二级管的主要参数
5.3 晶体二极管的分类
5.4 晶体二极管的测量
5.5 晶体二极管的选用
5.6 二极管的代换
第6章 三极管类的检测与选用
6.1 三极管的基础知识
6.2 三极管的主要参数
6.3 三极管的分类
6.4 三极管的管型判别与测量
6.5 晶体三极管的选用
第7章 场效应管的检测与选用
第8章 晶闸管类的检测与选用
第9章 石英晶体与滤波器的检测与选用
0章 继电器、开关的检测与选用
1章 电声器件的检测与选用
2章 集成电路的检测与选用
3章 传感器的检测与选用

作者介绍


文摘


序言



《电子元器件的检测与选用》 内容简介 本书深入浅出地阐述了电子元器件的检测方法和选用原则,旨在为电子工程技术人员、高校学生及电子爱好者提供一本全面、实用的技术参考。本书内容涵盖了电子元器件领域最常用、最重要的各类元件,从基本概念到实际应用,层层递进,条理清晰。 第一部分:电子元器件基础知识与检测方法 本部分将系统性地介绍各类电子元器件的物理原理、结构特点、电气参数及关键性能指标。 电阻器: 分类与特性: 详细介绍固定电阻(碳膜、金属膜、氧化膜、线绕等)和可变电阻(电位器、滑动变阻器)的构造、材料、功率、精度、温度系数、噪声等重要参数。 检测方法: 讲解如何使用万用表(电阻档、欧姆档)测量电阻值,判断是否短路、开路或阻值漂移。重点讲解如何检测精密电阻的精度,以及如何通过外观和通电试验判断碳膜电阻的稳定性和可靠性。 失效分析: 分析电阻器常见的失效模式,如过载烧毁、受潮氧化、机械损伤等,并提供相应的检测和判断技巧。 电容器: 分类与特性: 详述固定电容器(电解电容、陶瓷电容、薄膜电容、钽电容、云母电容等)和可变电容器(微调电容)的电容量、耐压、漏电流、损耗角正切(ESR)、温度特性、频率特性等关键参数。 检测方法: 演示如何用万用表(电阻档、电容档)检测电容器的容量、判断是否存在漏电、短路或开路。重点介绍如何使用LCR数字电桥进行精确测量,分析ESR值对电解电容性能的影响,以及如何通过充放电特性判断电解电容的老化程度。 失效分析: 探讨电解电容鼓包、漏液,陶瓷电容击穿,薄膜电容损耗增大等常见失效原因,并指导读者如何进行初步判断。 电感器: 分类与特性: 介绍电感线圈(空心、铁芯、磁芯)、变压器、扼流圈的电感量、品质因数(Q值)、直流电阻、饱和电流、分布电容等参数。 检测方法: 说明如何使用万用表(电阻档)检测线圈是否断路,以及使用LCR数字电桥测量电感量和Q值。讲解如何通过音频信号或示波器检测变压器的匝数比和隔离性能。 失效分析: 分析电感器常见的失效模式,如线圈烧毁、磁芯损坏、绕组短路等,并提供检测方法。 二极管: 分类与特性: 详述整流二极管、稳压二极管、肖特基二极管、发光二极管(LED)、光电二极管、变容二极管等的正向压降、反向击穿电压、漏电流、载流子类型、开关速度等参数。 检测方法: 讲解如何使用万用表(二极管档)检测二极管的正反向导通特性,判断是否击穿或开路。重点介绍如何检测稳压二极管的稳压值,以及LED的发光亮度与颜色。 失效分析: 讨论二极管因过载、过压、反向漏电等原因造成的损坏,以及检测技巧。 三极管(晶体管): 分类与特性: 详细介绍NPN型和PNP型双极性晶体管(BJT)以及场效应管(FET,包括JFET和MOSFET)的电流放大系数(β)、结电容、输入电阻、输出电阻、开启电压(Vth)、跨导(gm)等关键参数。 检测方法: 演示如何使用万用表(二极管档)检测BJT的基极、发射极、集电极的PN结特性,判断管子的型号和好坏。讲解如何通过测量静态参数(如Ib、Ic)来初步评估其放大能力。介绍场效应管的栅极、源极、漏极特性检测。 失效分析: 分析三极管因过流、过压、过温、静电等原因造成的损坏,并提供检测和判断方法。 集成电路(IC): 分类与特性: 介绍数字集成电路(逻辑门、微处理器、存储器等)和模拟集成电路(运算放大器、定时器、电压调节器等)的基本工作原理、引脚功能、电源要求、输入输出特性等。 检测方法: 强调集成电路的检测通常需要特定的测试设备,如逻辑分析仪、示波器、专用IC测试仪。讲解如何通过查阅数据手册(Datasheet)来理解IC的各项参数和工作条件。介绍一些简单的通用IC(如555定时器、74系列逻辑门)的外部简单测试方法,例如通过电源电压、时钟信号、输入输出波形来判断其基本功能是否正常。 失效分析: 探讨集成电路常见的失效原因,如过压、过流、静电损伤、焊接不良、散热不良等,并强调对于复杂的IC,失效分析需要专业设备和经验。 其他常用元器件: 传感器: 简单介绍温度传感器、光敏传感器、压力传感器、霍尔传感器等的工作原理和基本检测思路,强调不同传感器的检测方法差异较大,需查阅具体数据手册。 晶体振荡器: 介绍晶振的频率、精度、负载电容等参数,以及如何通过示波器观察其输出波形判断工作状态。 压电陶瓷器件: 介绍蜂鸣器、扬声器、麦克风等压电器件的声电转换特性,以及简单的导通性测试。 第二部分:电子元器件的选用原则与技巧 本部分将指导读者如何根据电路需求,选择最适合的电子元器件,并提供一些实用的选用技巧。 明确电路需求: 电气参数匹配: 强调根据电路的工作电压、电流、频率、功率、精度等要求,选择参数相符的元器件。例如,电源部分的电解电容需要足够的耐压和纹波电流能力;放大电路中的晶体管需要合适的电流放大系数和频率响应。 环境适应性: 考虑元器件的工作温度范围、湿度、振动、电磁干扰等环境因素。高可靠性应用(如医疗、航空)需要选用耐高温、耐湿、高可靠性的特种元器件。 成本与可获得性: 在满足技术要求的前提下,权衡元器件的成本和市场可获得性。对于批量生产,标准化、易于采购的元器件是首选。 关键元器件的选用指南: 电源类元器件: 如何选择稳压二极管、电压调节器、功率三极管/MOSFET,以满足电源的稳定性和功率需求。 信号处理类元器件: 如何选择运算放大器、滤波器元件,以实现精确的信号放大、滤波和调理。 控制类元器件: 如何选择微控制器(MCU)、可编程逻辑器件(PLD)、逻辑门等,以实现复杂的数字控制功能。 通信类元器件: 如何选择射频IC、滤波器、匹配网络元件,以满足通信系统的信号传输要求。 数据手册(Datasheet)的解读与应用: 重要参数的识别: 教授读者如何从纷繁的数据手册中快速找到关键的电气参数、封装信息、引脚定义、工作极限(Absolute Maximum Ratings)和推荐工作条件(Recommended Operating Conditions)。 特性曲线的理解: 讲解如何分析各种特性曲线(如V-I特性曲线、频率响应曲线、温度特性曲线),以深入了解元器件的实际性能。 应用示例与建议: 强调参考数据手册中的应用示例和设计建议,可以有效避免潜在的设计问题。 替代元件的选择: 同类替代: 在原元件停产或缺货时,如何寻找参数相近、功能兼容的替代元件。 跨系列替代: 探讨在某些情况下,可以通过电路设计调整,使用不同系列但性能优越的元件进行替代。 注意事项: 提醒读者在选择替代元件时,务必仔细比对所有关键参数,并可能需要进行实际电路测试验证。 可靠性与寿命的考量: MTBF(平均无故障时间): 解释MTBF的含义及其在元器件可靠性评估中的作用。 工作裕量: 强调在设计中留有足够的工作裕量,避免元器件在极限条件下工作,以延长其使用寿命。 失效模式分析: 结合第一部分的失效分析,指导读者在选用时规避已知容易失效的元器件类型或工作模式。 新元器件的认知与应用: 前沿技术动态: 简要介绍半导体行业的新技术、新工艺,如GaN、SiC功率器件,MEMS传感器,AI加速芯片等,以及它们在未来电子产品中的应用前景。 学习与探索: 鼓励读者保持学习热情,关注行业动态,积极探索和应用新型电子元器件。 本书特点: 内容全面: 涵盖了电子元器件领域的大部分常用元件。 体系化: 从基础理论到实践应用,结构清晰,逻辑严谨。 图文并茂: 辅以大量示意图、实物图和电路图,便于理解。 强调实践: 注重检测方法和选用技巧的讲解,实用性强。 语言通俗: 避免过于专业和晦涩的术语,力求让读者易于掌握。 通过阅读本书,读者将能够熟练掌握各类电子元器件的检测方法,并能在实际电路设计和维修工作中,更加科学、高效地进行元器件的选用,从而提升电子产品设计的质量和可靠性。

用户评价

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坦白讲,我是一个刚刚接触电路设计的新手,面对市面上琳琅满目的元器件型号,我的第一反应就是——晕。打开任何一个主流分销商的网站,那成千上万的料号和规格简直能把人逼疯。我买过一些基础的电路原理书,但它们大多集中在“如何设计电路”上,而很少有书籍能像这本书一样,将焦点放在“如何确定你设计的东西能被可靠实现”这一关键环节。这本书的结构非常清晰,它不像一本纯粹的参考手册,更像是一位耐心的导师,引导你逐步理解不同元器件的“脾气秉性”。我特别喜欢它对“封装”(Package)的讲解,过去我总觉得封装只是为了PCB布局方便,但书中详细说明了不同封装对散热能力和信号完整性的影响,这对于设计高功率密度电路至关重要。比如,同样是MOSFET,SOP封装和TO-220封装在相同电流下,其长期可靠性是完全不同的。这本书教会了我一个核心理念:元器件的选择,绝不仅仅是参数的匹配,更是一个关于热力学、机械应力和电化学综合作用的工程决策。它让我从一个只会“填空”的设计者,变成了一个懂得“权衡”的工程师。

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这本《电子元器件的检测与选用》简直是我的“救星”!我是一名电子工程系的大三学生,平时实验课和课程设计时,面对五花八门的电阻、电容、电感乃至更复杂的集成电路,总感觉心里没底。教材上的理论知识是有了,但一到实操层面,那感觉就像是拿着一把高级的瑞士军刀,却不知道哪个小工具该用在什么地方。这本书的厉害之处在于,它真的把“理论”和“实践”这座大山给架起了桥梁。书中对每种常见元器件的参数解读,绝不是那种冷冰冰的参数表罗列,而是深入浅出地解释了这些参数在实际电路工作时意味着什么。比如,讲解电容的等效串联电阻(ESR)时,它不仅给出了测试方法,还结合了开关电源纹波抑制的案例,让我瞬间明白为什么有些看似参数一致的电容,用在高速电路里效果天差地别。更难能可贵的是,它似乎洞察了我们这些新手最容易犯的错误——“瞎猜”和“乱试”。书中针对性的列举了很多因误选或检测不当导致的故障案例,那种“啊,原来是这么回事!”的恍然大悟感,是单纯看数据手册永远无法给予的。它让我对“选用”这件事有了更深的敬畏感,不再是单纯地按图纸上的型号去采购,而是理解了背后的设计逻辑和可靠性考量。这本书绝对是工科生书架上不可或缺的“工具书”与“导师”的结合体。

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我是一名电子爱好者,主要在玩复古音频放大器和DIY一些小型无线电接收器。对于我们这类发烧友来说,元器件的选择常常带有强烈的“玄学”色彩,但说实话,很多时候我们只是凭感觉或听信论坛传言,缺乏科学依据。这本书的出现,就像是给那些虚无缥缈的“听感”提供了一个坚实的物理基础。举个例子,关于电容的“声音表现”,过去我总是纠结于钽电容还是聚丙烯电容。这本书用清晰的图形和数据对比,解释了介电常数、损耗角正切等参数如何直接影响信号的瞬态响应和失真度。它没有直接说哪个“更好”,而是明确指出,在特定的电路拓扑和频率范围内,哪种材料的物理特性更符合我们追求的“目标声音”。此外,书中关于晶体管参数匹配和二极管正向压降一致性的检测方法,也让我能更精确地配对老式功放管,使得左右声道之间的平衡性得到了极大的改善,这在以前几乎是靠反复试错才能勉强达到的效果。它将高深的工业检测标准,转化成了我们业余爱好者也能理解并实际操作的流程,极大地提升了DIY作品的专业度和可靠性,让我不再迷信“传说中的老元件”,而是相信科学测量的力量。

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作为一个在小型电子产品维修行业摸爬滚打了快十年的老手,我接触到的“奇葩”故障比教科书上的案例要复杂得多。很多时候,客户送来的设备,故障点并非是明显的元件烧毁,而是时有时无的漂移、过热或者性能衰减,这些问题往往指向了那些被我们过度信任的“标准件”。我买了市面上不少号称“维修宝典”的书籍,但大多华而不实,要么讲得太偏理论,要么就是只针对某一特定品牌或领域的维修手册。这本书《电子元器件的检测与选用》却给了我一个全新的视角——从源头上把控质量。我尤其欣赏其中关于元器件老化和失效模式的分析部分。那些关于半导体器件在不同温度、湿度和电压应力下的寿命预测和降额设计(Derating)的探讨,对我日常维修中的“预防性替换”策略起到了极大的指导作用。比如,我们以前常犯的错误是,只要电阻值对就认为它没问题,但这本书强调了功率型电阻在长期过载后阻值漂移的风险,这直接解释了我们组装的一些小型加热设备在运行半年后功率不稳的现象。它不仅仅是教你怎么“测”,更是在教你如何“想”——思考元器件在它将被放置的环境中,它的“性格”会不会变坏。对于我们这些需要保证产品长期稳定性的从业者来说,这种底层逻辑的梳理,比一万个具体电路图都来得有价值。

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从一个质量控制(QC)的角度来看,这本《电子元器件的检测与选用》堪称一本标准的工业检验规范指南的“民间普及版”。我们部门每年都要处理大量的来料检验报告,很多供应商提供的测试数据总有些含糊不清的地方。这本书里详尽描述的各种检测方法,无论是静态参数的测量,还是动态特性的分析,都给出了非常明确的操作步骤和判定标准。我尤其赞赏它对“抽样检验”和“失效分析”流程的介绍。它不仅仅停留在如何用万用表或示波器测量电阻和电容,而是深入到了如何使用LCR测试仪进行高精度电感值和损耗因子(Df)的测量,以及如何通过曲线拟合来判断器件是否在工作寿命的衰减期。对于我们这些需要对整批材料负责的人来说,这种“可追溯性”和“标准化”的视角极为重要。它帮助我们的QC团队建立了一套更严格、更科学的入厂检验标准,有效减少了因前期元器件质量问题导致的生产线停工和客户投诉。这本书的价值,在于它将晦涩的行业标准,转化成了可以直接应用于生产一线的实战手册,是提升整体产品可靠性的关键一环。

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