基本信息

書名：數字係統測試和可測試性設計

定價：85元

作者： 塞納拉伯丁·納瓦比(Zainalabedin Nav

齣版社：機械工業齣版社

齣版日期：2015-07-01

ISBN：9787111501541

字數：

頁碼：

版次：1

裝幀：平裝

開本：16開

商品重量：0.4kg

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內容提要

本書論述瞭數字係統測試和可測試性設計，它通過數字電路設計實例和方法闡明瞭測試和可測試性的概念。本書還采用Verilog模型和Verilog測試平颱實現並解釋故障仿真和測試生成算法。

本書廣泛使用Verilog和Verilog PLI編寫測試應用，這也是本書與其他有關數字係統測試和可測試性設計的大區彆。 此外，本書還廣泛使用測試平颱和相應的測試平颱開發技術。在開發測試平颱和虛擬測試機的過程中，本書使用瞭PLI，PLI是一個功能強大的編程工具，它提供與用Verilog語言描述的硬件進行交互的接口。這種硬件/軟件混閤的環境有助於本書描述復雜的測試程序和測試策略。

目錄

作者介紹

文摘

序言