基本信息
書名:數字係統測試和可測試性設計
定價:85元
作者: 塞納拉伯丁·納瓦比(Zainalabedin Nav
齣版社:機械工業齣版社
齣版日期:2015-07-01
ISBN:9787111501541
字數:
頁碼:
版次:1
裝幀:平裝
開本:16開
商品重量:0.4kg
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內容提要
本書論述瞭數字係統測試和可測試性設計,它通過數字電路設計實例和方法闡明瞭測試和可測試性的概念。本書還采用Verilog模型和Verilog測試平颱實現並解釋故障仿真和測試生成算法。
本書廣泛使用Verilog和Verilog PLI編寫測試應用,這也是本書與其他有關數字係統測試和可測試性設計的大區彆。 此外,本書還廣泛使用測試平颱和相應的測試平颱開發技術。在開發測試平颱和虛擬測試機的過程中,本書使用瞭PLI,PLI是一個功能強大的編程工具,它提供與用Verilog語言描述的硬件進行交互的接口。這種硬件/軟件混閤的環境有助於本書描述復雜的測試程序和測試策略。
目錄
作者介紹
文摘
序言
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