基本信息

书名：数字逻辑电路实验

定价：29.00元

作者：侯传教

出版社：电子工业出版社

出版日期：2009-07-01

ISBN：9787121089824

字数：409.6000

页码：246

版次：1

装帧：平装

开本：16开

商品重量：0.459kg

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内容提要

本书根据教育部教学指导委员会的教学基础要求编写，详细介绍了数字逻辑电路的类型及使用常识，典型芯片的功能，常见数字电路的逻辑仿真，给出了基于可编程器件实现常见电路的VHDL程序及仿真，以及电路故障诊断方法。为便于双语学习，部分实验内容用英语编写。在实验安排上考虑与理论教学的同步，注重学生实际工程设计能力的培养，减少验证性实验，增加设计和综合性实验。
本书可作为高等院校电子信息类、计算机科学与技术、自动控制等专业本科生、专科生的实验教材，也可供从事电路设计和研发的工程技术人员阅读或参考。
本书配有教学课件（电子版），任课教师可从华信教育资源网（教育网：．huaxin．edu．或公共网：．hxedu．．）E免费注册后下载。

目录

章　数字电路实验基础
　1.1 概述
　1.2　实验的基本过程
　　1.2.1　实验预习
　　1.2.2　实验中的EDA仿真
　　1.2.3　实验中的操作规范
　　1.2.4　布线原则
　　1.2.5　数字电路测试
　　1.2.6　数字电路的故障查找和排除
　　1.2.7　实验记录和实验报告
　1.3　数字集成电路简介
　　1.3.1　概述
　　1.3.2　TTL器件的特点和工作条件
　　1.3.3　TTL器件使用须知
　　1.3.4　CMOS数字集成电路的特点
　　1.3.5　CMOS器件使用须知
　　1.3.6　数字IC器件的封装
　　1.3.7　数字电路逻辑状态
　1.4　数字实验箱简介
第2章　集成逻辑门电路
　2.1　集成逻辑门电路实验目的与要求
　2.2　集成逻辑门电路基础知识
　　2.2.1　集成逻辑门电路的类型及特点
　　2.2.2　典型门电路芯片
　　2.2.3　TTL门电路的主要参数
　　2.2.4　集成门电路的使用规则
　2.3　门电路的EDA仿真
　2.4　集成逻辑门功能测试
　2.5 门电路故障的分析及诊断
　2.6　实验报告及思考题
第3章　组合逻辑电路
　3.1　全加器
　　3.1.1　全加器实验目的与要求
　　3.1.2　全加器基础知识
　　3.1.3　全加器的EDA仿真
　　3.1.4　全加器电路
　　3.1.5　基于VHDL实现l位全加器
　　3.1.6　组合逻辑电路故障检测
　　3.1.7　实验报告及思考题
　3.2　译码器
　　3.2.1　译码器实验目的与要求
　　3.2.2　译码器基础知识
　　3.2.3　译码器的EDA仿真
　　3.2.4　译码器电路
　　3.2.5　基于VHDL实现的3.8线译码器
　　3.2.6　组合逻辑电路故障判断方法
　　3.2.7　实验报告及思考题
3.3　数据选择器
　　3.3.1　数据选择器实验目的与要求
　　3.3.2　数据选择器基础知识
　　3.3.3　数据选择器的EDA仿真
　　3.3.4　数据选择器电路
　　3.3.5　基于VHDL实现的8选1数据选择器
　　3.3.6　实验报告及思考题
第4章　时序逻辑电路
4.1 触发器
　　4.1.1　触发器实验目的与要求
　　4.1.2　触发器基础知识
　　4.1.3　触发器的EDA仿真
　　4.1.4　基本触发器电路
　　4.1.5　基于VHDL实现的JK触发器
　　4.1.6　触发器常见故障分析及诊断
　　4.1.7　实验报告及思考题
4.2　移位寄存器
　　4.2.1　移位寄存器实验目的与要求
　　4.2.2　移位寄存器基础知识
　　4.2.3　移位寄存器的EDA仿真
　　4.2.4　移位寄存器电路
　　4.2.5　基于VHDL实现的8位移位寄存器
　　4.2.6　移位寄存器常见故障分析及诊断
……
第5章　混合电路
Chapter 6 Experiments of Digital Circuits
第7章　数字电路应用设计
第8章　数字电路实验参考资料
参考文献

作者介绍

文摘

序言