具体描述
| 图书基本信息 | |
| 书名： | 数字芯核电路版权保护技术与应用 |
| 丛书名： | |
| 作者/主编： | 梁伟 |
| 出版社： | 东南大学出版社 |
| ISBN号： | 9787564155858 |
| 出版年份： | 2015年4月1日 |
| 版次： | 第1 版 |
| 总页数： | 211页 |
| 开本： | 32 |
| 图书定价： | 32元 |
| 实际重量： | 358g |
| 新旧程度： | 正版全新 |
梁伟，男，1978年P2月生，博士，副教授，硕士研究生导师。中国计算机学会高级会员，湖南科技大学计算机网络与嵌入式研究所副所长，近年来一直从事集成电路知识产权保护、信息隐藏以及集成电路设计等理论与工程应用方面的研究工作，主持和参与完成包括国家自然科学基金项目、973子项、863项目、湖南省自然科学基金项目等研究项目12项。获得国家授权发明专利5项与软件著作登记权5项，在国内外发表学术论文50余篇，其中SC0／E0收录的期刊论文15篇。
第一篇芯核水印技术基础
1绪论
1.1研究意义
1.2研究背景
1.3研究现状
1.3.1FPGA芯核水印技术
1.3.2FSM芯核水印技术
1.3.3可测试芯核水印技术
1.4本书主要工作及结构
2Ip水印技术概述
2.1数字IP设计基础
2.1.1IP的定义和分类
2.2.2FPGA概述
2.2.3FPGA内部结构
2.2.4FPGA的基本开发流程
2.2数字IP水印概念
2.2.1数字芯核水印特点
2.2.2面临的困难和挑战
2.3数字芯核版权保护技术
2.3.1芯片标签加密技术
2.3.2PUF物理版权保护技术
2.4数字芯核水印检测技术
数字芯核水印技术通常也称为lP水印技术，它是一门运用芯核电路载体的冗余信息来隐藏秘密信息的新技术。目前在数字芯核水印系统没计中，合法lP模块的复用设计可以保证lP设计更高的研发效率和减少上市周期。《数字芯核电路版权保护技术与应用》重点关注数字IP设计中的lP知识产权保护问题。芯核水印技术是最直接的解决方法，它能从电子产品中有效地提取出电路的原始版权信息。数字芯核水印技术的研究在电子信息技术领域中具有若非常广泛的应用前景。《数字芯核电路版权保护技术与应用》不仅能为该领域内的科研工作者在芯核安全保护理论研究方面做出参考，而且为推进集成电路芯核版权保护技术的应用起到积极作用。
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