正版書籍 統計過程控製理論與實踐——SPC、Cpk、DOE、MSA、PPM技術 pdf epub mobi txt 電子書 下載 2024
圖書介紹
發表於2024-12-22
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店鋪： 金淵清亞圖書專營店
齣版社： 電子工業齣版社
ISBN：9787121329739
商品編碼：27923610245
包裝：平裝-膠訂
齣版時間：2017-11-01
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具體描述
| 圖書基本信息 | |
| 圖書名稱 | 統計過程控製理論與實踐——SPC、Cpk、DOE、MSA、PPM技術 |
| 作者 | 賈新章等 |
| 定價 | 69.00元 |
| 齣版社 | 電子工業齣版社 |
| ISBN | 9787121329739 |
| 齣版日期 | 2017-11-01 |
| 字數 | |
| 頁碼 | |
| 版次 | 1 |
| 裝幀 | 平裝-膠訂 |
| 開本 | 16開 |
| 商品重量 | 0.4Kg |
| 內容簡介 | |
| 本書是針對製造過程質量控製方麵的實用教材。全書以電子元器件為對象，基於質量可靠性的基本理念，全麵論述在製造過程中實施質量控製與評價的必要性、基本概念和原理,以及關鍵技術與應用。本書重點介紹SPC、Cpk、DOE、MSA和PPM技術的基本原理和應用方法，並結閤案例，剖析在實際應用過程中齣現的特殊問題和解決途徑，重點在於幫助讀者掌握如何解決實際應用中的問題。本書介紹的基本原理和應用技術也適用於各類製造過程的質量控製和評價。 本書可作為高等學校相關專業的教材、參考用書，同時對從事質量與可靠性工作的技術人員和管理人員也是一本實用的參考資料。 |
| 作者簡介 | |
| 1966年1月畢業於西安電子科技大學微電子專業後留校任教至今。其中1980年4月－1982年10月赴澳大利亞新南威爾士大學進修集成電路計算機輔助設計。__eol__1998年作為高級訪問學者赴英國愛丁堡大學訪問半年。 |
| 目錄 | |
| 第１章 概論 1.1 關於産品質量可靠性的基本理念 1.1.1 保證、評價産品質量可靠性常規方法存在的問題 1.1.2 關於質量可靠性的基本理念 1.1.3 保證和評價産品質量可靠性的相關技術 1.2 生産過程統計質量控製的技術流程 1.2.1 製造過程對參數一緻性和穩定性的影響 1.2.2 統計過程控製的目的和相關技術 1.2.3 實施質量控製的技術流程 1.2.4 實施SPC的基本條件 思考題與習題 第2章 工序能力指數與6σ設計 2.1 預備知識——工藝參數分布規律的定量描述 2.1.1 正態分布函數 2.1.2 正態分布特徵值的統計特性 2.2 工序能力的定量錶徵和工序能力指數 2.2.1 工藝參數一緻性與工序能力 2.2.2 工序能力指數（Cp） 2.2.3 實際工序能力指數(Cpk) 2.2.4 工業生産對工序能力指數的要求 2.3 工序能力指數的計算 2.3.1 均值(μ)和標準偏差(σ)的計算方法 2.3.2 工序能力指數計算實例 2.4 6σ設計與等效工序能力指數 2.4.1 從工序能力指數理解6σ設計的含義和目標 2.4.2 pσ設計水平與DPMO 2.4.3 基於6σ設計理念的ECpk 2.4.4 ECpk計算中涉及的兩個算法 思考題與習題 第3章 工序能力指數評價的特殊模型 3.1 工序能力指數常規計算方法的適用條件 3.2 非正態分布工藝參數的工序能力指數計算方法 3.2.1 非正態分布工藝參數數據 3.2.2 計算方法一：基於數據轉換的計算方法 3.2.3 計算方法二：基於工藝成品率的計算方法 3.2.4 非正態分布參數工序能力指數計算方法討論 3.3 多參數情況工序能力指數計算方法 3.3.1 多變量工序能力指數MCpk計算思路 3.3.2 MCpk計算步驟 3.3.3 MCpk應用實例 3.3.4 多元正態分布函數的高精度積分算法 3.4 計件值工序能力指數 3.4.1 描述計件值數據分布規律的二項分布 3.4.2 計件值工序能力指數的計算思路 3.4.3 計件值工序能力指數計算方法一： 每批樣本量相同 3.4.4 計件值工序能力指數計算方法二： 每批樣本量不相同 3.5 計點值工序能力指數 3.5.1 描述計點值數據分布規律的泊鬆分布 3.5.2 計點值工序能力指數的計算思路 3.5.3 計點值工序能力指數計算方法一： 每批樣本量相同 3.5.4 計點值工序能力指數計算方法二： 每批樣本量不相同 思考題與習題 第4章 統計過程控製與常規控製圖 4.1 SPC與控製圖 4.1.1 SPC基本概念 4.1.2 “統計受控”與“加工結果是否閤格”的關係 4.1.3 控製圖的結構和作用 4.1.4 控製限的計算原理 4.1.5 工藝過程受控/失控狀態的判斷規則 4.1.6 常規控製圖的分類 4.2 常規計量值控製圖 4.2.1 “均值—標準偏差”控製圖 4.2.2 “均值—極差”控製圖 4.2.3 “單值—移動極差”控製圖 4.3 常規計件值控製圖 4.3.1 不閤格品數控製圖(np圖) 4.3.2 不閤格品率控製圖(p圖) 4.3.3 通用不閤格品率控製圖(p�����璗圖) 4.4 常規計點值控製圖 4.4.1 缺陷數控製圖（c圖） 4.4.2 單位缺陷數控製圖（u圖） 4.4.3 通用單位缺陷數控製圖(u�璗圖) 4.5 常規控製圖的應用 4.5.1 關於“分析用控製圖”與“控製用控製圖” 4.5.2 常規計量值控製圖應用實例 4.5.3 常規計數值控製圖應用實例 思考題與習題 第5章 特殊控製圖 5.1 特殊控製圖的基本原理 5.1.1 常規控製圖的適用條件 5.1.2 需要采用特殊控製圖的典型情況 5.1.3 特殊控製圖的基本原理 5.2 適用於非正態分布數據的控製圖 5.2.1 非正態分布數據的控製圖分析方法 5.2.2 製造過程非正態分布數據控製圖實例 5.2.3 非製造過程中非正態分布數據控製圖實例 5.3 適用於多品種情況的迴歸控製圖 5.3.1 迴歸控製圖原理 5.3.2 迴歸方法一： 標準正態處理方法與應用 5.3.3 迴歸方法二：“相對偏差”方法與應用 5.3.4 關於“雙重迴歸”情況 5.3.5 對多品種情況的一種不正確處理方法 5.4 適用於多品種小批量情況的T�睰控製圖 5.4.1 T統計量與T控製圖 5.4.2 K統計量與K控製圖 5.4.3 T�睰控製圖的特點 5.4.4 T�睰控製圖應用實例 5.5 適用於批加工參數的嵌套控製圖 5.5.1 “批加工”生産特點與參數的嵌套性 5.5.2 工藝參數數據的嵌套性檢驗 5.5.3 一階嵌套控製圖模型與應用 5.5.4 二階嵌套控製圖模型與應用 5.6 適用於多參數情況的多變量控製圖 5.6.1 多參數問題與多變量控製圖 5.6.2 多變量T��2控製圖 5.6.3 單值多變量T��2控製圖 5.6.4 多變量控製圖的應用實例 5.6.5 針對多參數問題的一種不正確處理方法 5.7 綜閤控製圖 5.7.1 關於綜閤控製圖 5.7.2 綜閤控製圖應用實例 5.8 分位數控製圖 5.8.1 分位數控製圖的原理 正版書籍 統計過程控製理論與實踐——SPC、Cpk、DOE、MSA、PPM技術 下載 mobi epub pdf txt 電子書 正版書籍 統計過程控製理論與實踐——SPC、Cpk、DOE、MSA、PPM技術 pdf epub mobi txt 電子書 下載 用戶評價
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