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出版社： 中国科学技术大学出版社
ISBN：9787312037498
商品编码：26765730578
出版时间：2017-01-01
具体描述
作 者:(美)布伦特·福尔兹(Brent Fultz),(美)詹姆斯·豪(James Howe) 著；吴自勤 等 译 定 价:99 出 版 社:中国科学技术大学出版社 出版日期:2017年01月01日 页 数:657 装 帧:平装 ISBN:9787312037498 ●译者的话
●序
●第1章衍射和X射线粉末衍射仪
●1.1衍射（1）
●1.2X射线的产生（10）
●1.3X射线粉末衍射仪（18）
●1.4XRD和TEM的X射线探测器（24）
●1.5粉末X射线衍射实验数据（31）
●1.6拓展阅读（43）
●习题（44）
●参考文献（48）
●第2章TEM及其电子光学
●2.1透射电子显微镜概述（49）
●2.2利用透镜和光路图工作（53）
●2.3TEM操作模式（57）
●2.4实际TEM光学（68）
●2.5玻璃透镜（73）
●2.6磁透镜（78）
●2.7透镜像差和其他缺陷（82）
●2.8分辨率（89）
●部分目录
詹姆斯·豪，美国弗吉尼亚大学材料科学与工程系教授。1985年获加州大学伯利分校博士学位。美国总统杰出青年科学家奖、德国洪堡不错研究员奖和美国材料信息学会材料科学研究银奖得主。研究领域包括应用高分辨和分析透射电子显微术研究材料的相变、相边界的结构与性质等。 序
本书的目标和范围
本教科书是为以物理科学为背景的高年级大学生和新入学的研究生而写的。其目标是使他们尽可能快地了解透射电子显微学（TEM）和X射线衍射学的基础概念和一些细节，它们对材料的表征是重要的。本书话题的发展过程是和大多数近代TEM和XRD研究材料的现代水平相协调的。本书的内容也提供了进一步研究先进的散射、衍射和显微学课题的基本准备。本书包括许多实际细节和实例，但不包含实验室工作中的一些重要课题，如TEM样品的制备方法等。
从2001年本书第1版发行以来，衍射学和显微学方法又有了快速的进展，它们部分地受纳米科学和材料技术成长的推动。在TEM中近期的重大进展是物镜球差的实际校正。它使图像的高分辨率（小于0.1nm）可以常规地获得，电子能谱的能量分辨率亦有显著的改进。材料中单个原子定位和鉴定已经从50年来的一个梦想变成今天的实验方法。
X射线谱等
●序
●第1章衍射和X射线粉末衍射仪
●1.1衍射（1）
●1.2X射线的产生（10）
●1.3X射线粉末衍射仪（18）
●1.4XRD和TEM的X射线探测器（24）
●1.5粉末X射线衍射实验数据（31）
●1.6拓展阅读（43）
●习题（44）
●参考文献（48）
●第2章TEM及其电子光学
●2.1透射电子显微镜概述（49）
●2.2利用透镜和光路图工作（53）
●2.3TEM操作模式（57）
●2.4实际TEM光学（68）
●2.5玻璃透镜（73）
●2.6磁透镜（78）
●2.7透镜像差和其他缺陷（82）
●2.8分辨率（89）
●部分目录
内容简介
前三章是散射、衍射和成像的一般介绍以及XRD，TEM和中子散射仪器的结构。随后的第4章和第5章介绍了电子、X射线和原子的相互作用。在电子的弹性散射中引入原子的形状因子，在电子的非弹性散射中专门引入截面概念，介绍的内容比实际需要深一些，以便理解第6~8章。这三章的重点是衍射、晶体学和衍射衬度。在倾向衍射和显微学的课程系统中，可以进一步改变第4章和第5章中准备进行不错研究的内容。本书的核心部分是劳厄公式下的运动学衍射理论，可用来处理无序度逐步增加的晶态材料。在第8章中，重点利用相位振幅图分析缺陷的TEM图像的衍射衬度。在第9章中处理完衍射线宽。随后，在**0章中利用帕特森（Patterson）函数处理短程序现象、热漫散射和非晶态材料。在**1章中介绍了高分辨TEM图像和像模拟。在**2章中介绍了多种现代显微学方法。在**3章中描述了电子衍射动力学理论的主体内容。对动力学理论中有效消光长度和有效等 (美)布伦特·福尔兹(Brent Fultz),(美)詹姆斯·豪(James Howe) 著；吴自勤 等 译 布伦特·福尔兹，美国加州理工学院应用物理和材料科学系教授。1982年获加州大学伯利分校博士学位。美国总统杰出青年科学家奖和美国TMS学会电子、磁学及光子材料分会杰出科学家奖得主。美国散裂中子源广角范围斩波器谱仪项目和美国中子散射实验分散数据分析软件项目的主要科学家。在利用非弹性中子散射对材料热力学的基本理解方面作出了突出贡献。詹姆斯·豪，美国弗吉尼亚大学材料科学与工程系教授。1985年获加州大学伯利分校博士学位。美国总统杰出青年科学家奖、德国洪堡不错研究员奖和美国材料信息学会材料科学研究银奖得主。研究领域包括应用高分辨和分析透射电子显微术研究材料的相变、相边界的结构与性质等。 序
本书的目标和范围
本教科书是为以物理科学为背景的高年级大学生和新入学的研究生而写的。其目标是使他们尽可能快地了解透射电子显微学（TEM）和X射线衍射学的基础概念和一些细节，它们对材料的表征是重要的。本书话题的发展过程是和大多数近代TEM和XRD研究材料的现代水平相协调的。本书的内容也提供了进一步研究先进的散射、衍射和显微学课题的基本准备。本书包括许多实际细节和实例，但不包含实验室工作中的一些重要课题，如TEM样品的制备方法等。
从2001年本书第1版发行以来，衍射学和显微学方法又有了快速的进展，它们部分地受纳米科学和材料技术成长的推动。在TEM中近期的重大进展是物镜球差的实际校正。它使图像的高分辨率（小于0.1nm）可以常规地获得，电子能谱的能量分辨率亦有显著的改进。材料中单个原子定位和鉴定已经从50年来的一个梦想变成今天的实验方法。
X射线谱等
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