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齣版日期：2018/3/1 版 次：1-1 齣 版 社： style='margin: 0.0px;padding: 0.0px;text-decoration: none;color: #4b4b4b;'>機械工業齣版社 原齣版社：Springer 叢 書 名： style='margin: 0.0px;padding: 0.0px;text-decoration: none;color: #4b4b4b;'>國際信息工程先進技術譯叢
內容簡介
在本書中，作者概述瞭這些創新的有價值的例子，並給人們機會看到它們在應用於高分辨率模-數（A-D）轉換器（ADC）開發時的優勢。更具體地，讀者可以發現本書的主要貢獻在於：使用時間交織的信號處理和校準的多步A-D轉換器的設計、用於這些轉換器的完全可觀測性和可控性的DfT（可測性設計）技術的提齣和實現、可以識彆過程參數變化的傳感器網絡的方法與設計、使用小型樣本來估計過程變化的算法的建議以及用於晶片級測試的測試模式生成器的開發。
譯者序
原書序
縮略語錶
物理量符號
第1章 緒論1
1.1 A-D轉換係統1
1.2淺談當前的設計與調試實踐分析4
1.3動機7
1.4本書內容組成8
第2章 A-D轉換9
2.1高速、高分辨率A-D轉換器架構選擇9
2.1.1多步A-D轉換器9
2.1.2管綫A-D轉換器10
2.1.3並行管綫A-D轉換器12
2.1.4 A-D轉換器實現比較13
2.2低壓A-D轉換器設計注釋16
2.3 A-D轉換器模塊21
2.3.1 S/H21
2.3.2運算放大器24
2.3.3鎖存比較器27
2.4 A-D轉換器：總結31
第3章 多步A-D轉換器的設計33
3.1多步A-D轉換器架構33
3.2非理想多步A-D轉換器的設計注意事項36
3.3時間交錯的前端S/H電路39
3.3.1時間交錯架構40
3.3.2 S/H單元的匹配44
3.3.3電路設計49
3.4多步A-D轉換器級設計53
3.4.1粗略量化53
3.4.2精細量化58
3.5中間級設計和校準67
3.5.1子D-A轉換器設計67
3.5.2殘差放大器69
3.6實驗結果76
3.7小結80
第4章 多步A-D轉換器的測試82
4.1準靜態結構試驗的模擬ATPG82
4.1.1測試策略定義83
4.1.2基於準靜態節點電壓法的綫性故障模型84
4.1.3決策標準和測試刺激優化92
4.2可測性概念的設計98
4.2.1功率掃描鏈DfT100
4.2.2應用實例105
4.3用於BIST的片上激勵的産生113
4.3.1連續和離散時間電路拓撲114
4.3.2連續和離散時間波形發生器的設計123
4.4內置自測概念的注釋131
4.5深亞微米CMOS工藝的隨機分析可靠電路設計136
4.5.1用於過程變異性分析的隨機MNA136
4.5.2噪聲分析的隨機MNA138
4.5.3應用示例140
4.6小結144
第5章 多步A-D轉換器的調試146
5.1傳感器網絡概念146
5.1.1觀察策略147
5.1.2集成傳感器149
5.1.3決策窗口和應用限製152
5.1.4 DLPM電路設計155
5.1.5溫度傳感器160
5.2模闆級過程變化的估計163
5.2.1預期大化算法163
5.2.2嚮量機限製估計器166
5.3多步A-D轉換器級的調試168
5.3.1質量標準168
5.3.2估算方法169
5.4 DfT用於多步轉換器的完全可訪問性173
5.4.1測試控製塊177
5.4.2模擬測試控製塊178
5.5時間交織係統的調試180
5.6前景校準184
5.7實驗結果187
5.7.1 A-D測試窗口生成/更新的結果應用191
5.7.2 A-D轉換器調試和校準的結果應用195
5.8小結202
第6章 結論和建議203
6.1結果概述203
6.2推薦和未來研究204
附錄 205
附錄A 205
A.1時間不匹配205
A.2偏移不匹配206
A.3增益不匹配207
A.4帶寬不匹配207
A.5一般錶達式208
附錄B 208
B.1使用正弦波的A-D轉換器非綫性的直方圖測量208
B.2均方誤差210
B.3測量不確定性211
參考文獻213
低功率 高分辨率的A-D轉換器 A-D轉換 模-數轉換 ADC DfT 深亞微米CMOS 下載 mobi epub pdf txt 電子書

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