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商品參數

X射綫多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門
	定價	45.80
	齣版社	中國建材工業齣版社
	版次	1
	齣版時間	2016年06月
	開本	16開
	作者	鄭振環，李強
	裝幀	平裝-膠訂
	頁數
	字數
	ISBN編碼	9787516014561
	重量	194

內容介紹
　　Rietveld法全譜擬閤已成為X射綫多晶衍射修正晶體結構的重要方法。本書共分為四章，側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹Rietveld法的發展概況和基本原理。第2章介紹精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝和使用界麵。第3章介紹Rietveld法X射綫多晶衍射數據的實驗測試，並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結果的提取和圖譜繪圖。第4章給齣瞭三個提高練習示例，包括創建儀器參數文件、含非晶混閤物的定量分析以及占位修正等。

目錄

第1章　Rietveld法結構精修

　1.1　Rietveld法結構精修發展概況

　1.2　Rietveld法基本原理

　1.3　參數修正順序與結果判據

　　1.3.1　 參數修正的順序

　　1.3.2　 精修的數值判據

　　1.3.3　 精修的圖示判斷

　1.4　精修過程齣現的問題和對策

　1.5　Rietveld法結構精修的應用

　　1.5.1　 修正晶體結構

　　1.5.2　 相變研究和點陣常數測定

　　1.5.3　 物相定量分析

　　1.5.4　 晶粒尺寸和微應變測定

 

第2章　EXPGUI-GSAS軟件安裝與界麵介紹

　2.1　GSAS軟件簡介

　2.2　EXPGUI-GSAS軟件的安裝

　2.3　EXPGUI-GSAS軟件界麵介紹

　　2.3.1　 菜單欄

　　2.3.2　 選項卡界麵

　　2.3.3　 EXPGUI幫助內容

 

第3章　EXPGUI-GSAS結構精修起步

　3.1　精修前的準備工作

　　3.1.1　 衍射數據的測定

　　3.1.2　 衍射數據的轉換

　　3.1.3　 初始結構的獲取

　3.2　EXPGUI精修簡單示例

　　3.2.1　 生成EXP文件

　　3.2.2　 精修過程

　　3.2.3　 常見問題

　3.3　精修結果提取與繪圖

　　3.3.1　 精修結果提取

　　3.3.2　 精修圖譜繪圖

 

第4章　EXPGUI-GSAS提高練習

　4.1　儀器參數文件的建立

　　4.1.1　 基本知識

　　4.1.2　 操作過程

　4.2　物相（含非晶）定量分析

　　4.2.1　 基本原理

　　4.2.2　 衍射數據測試

　　4.2.3　 精修過程

　4.3　Le Bail法擬閤以及約束的使用

　　4.3.1　 問題描述

　　4.3.2　 精修過程

包郵 X射綫多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門 自然科學 物理學 理論物 下載 mobi epub pdf txt 電子書

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