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出版社： 机械工业出版社
ISBN：9787111466932
商品编码：1328946741
出版时间：2014-09-01
具体描述
作 者:(美)Albert Malvino；李冬梅 等；(美)David J.Bates 著 定 价:125 出 版 社:机械工业出版社 出版日期:2014年09月01日 页 数:726 装 帧:平装 ISBN:9787111466932 ●出版者的话
●译者序
●前言
●导读
●致谢
●作者简介
●第1章绪论
●1.1三种类型的公式
●1.2近似
●1.3电压源
●1.4电流源
●1.5戴维南定理
●1.6诺顿定理
●1.7故障诊断
●总结
●习题
●第2章半导体
●2.1导体
●2.2半导体
●2.3硅晶体
●部分目录
●译者序
●前言
●导读
●致谢
●作者简介
●第1章绪论
●1.1三种类型的公式
●1.2近似
●1.3电压源
●1.4电流源
●1.5戴维南定理
●1.6诺顿定理
●1.7故障诊断
●总结
●习题
●第2章半导体
●2.1导体
●2.2半导体
●2.3硅晶体
●部分目录
内容简介
本书详细介绍了半导体器件的特性、测试方法及应用电路，阐述了电子系统的工作原理和故障诊断技术。第7版增加了电子器件和电路的种类，包括pnp晶体管的分析、bjt功率放大器交流负载线的分析，以及基本双极型晶体管分压电路设计、函数发生器电路和d类放大器。全书包含大量电路实例，并有故障诊断练习贯穿于各个章节。 (美)Albert Malvino；李冬梅 等；(美)David J.Bates 著 Albert Malvino分别于1964年和1970年获得圣何塞州立大学电气工程硕士学位和斯坦福大学电气工程博士学位。曾任美国海军电子技术员、惠普公司电子工程师和山麓学院教师，现从事微控制电路设计和教育软件开发工作。他编著的10本教材被翻译成20种语言，拥有超过108个版本。用户评价
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