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內容簡介

　　《現代化學專著係列：能量色散X射綫熒光光譜》係統介紹瞭能量色散X射綫熒光光譜分析所涉及的基礎知識、探測器和激發源、不同類型（包括微束全聚焦、全反射等）譜儀的結構、譜處理技術、基體效應及校正、定性、半定量和定量分析測試技術、薄試樣分析、樣品製備、不確定度評定和標準方法及應用等。對現代能量色散和波長色散譜儀的性能作瞭較係統的比較，並對不同類型能量色散X射綫熒光光譜在地質分析、電子電氣産品中限用物質分析、文物分析和水泥原材料分析等領域的實際應用作瞭詳細介紹。
　　《現代化學專著係列：能量色散X射綫熒光光譜》基本概念清晰、圖文並茂，通過實例闡述基本知識，又以基本原理解釋實驗現象，力求使能量色散X射綫熒光光譜工作者知其所以然。《現代化學專著係列：能量色散X射綫熒光光譜》可作為高等院校有關專業的教學用書，是從事X射綫熒光光譜分析研究與應用人員和相關專業的研究者的一本有價值的參考書。

內頁插圖

目錄

前言
緒論 能量色散和波長色散X射綫熒光光譜的比較
§0．1 概述
§0．2 WDXRF和EDXRF譜儀色散方法
§0．3 用於WDXRF和EDXRF比較的譜儀
§0．3．1 通用EDXRF譜儀
§0．3．2 偏振和高能偏振EDXRF譜儀
§0．4 WDXRF和EDXRF譜儀本身引起的譜綫乾擾
§0．5 檢齣限
§0．6 分辨率
§0．7 準確度和精密度
§0．8 分析時間
§0．9 EDXRF和WDXRF譜儀比較小結
§0．10 EDXRF和WDXRF譜儀閤為一體的譜儀
參考文獻

第一章 X射綫熒光光譜物理學基礎
§1．1 X射綫的本質和定義
§1．2 X射綫與物質的相互作用
§1．2．1 光電效應和特徵X射綫熒光輻射的産生
§1．2．2 X射綫在物質中的吸收
§1．2．3 X射綫在物質中的散射
§1．2．4 X射綫在物質中的衍射
§1．2．5 偏振
§1．2．6 反射和摺射
§1．3 莫塞萊（Moseley）定律
§1．4 熒光産額
§1．5 譜綫分數
參考文獻

第二章 激發和激發源
§2．1 X射綫管
§2．1．1 X射綫管的基本結構
§2．1．2 X射綫管靶材的選擇
§2．2 原級譜激發
§2．2．1 連續譜
§2．2．2 特徵X射綫
§2．3 二次靶激發
§2．3．1 X射綫熒光靶
§2．3．2 巴剋拉（Barkla）靶
§2．3．3 布拉格靶
§2．4 放射性核素激發源
§2．5 同步輻射光源
§2．6 質子激發
參考文獻

第三章 探測器
§3．1 概述
§3．2 X射綫探測器的主要技術指標
§3．2．1 探測效率
§3．2．2 能量分辨率
§3．2．3 探測器的峰背比和峰尾比
§3．3 能量探測器組成
§3．4 常用的探測器簡介
§3．4．1 正比計數器
§3．4．2 閃爍計數器
§3．4．3 半導體探測器
參考文獻

第四章 能量色散X射綫熒光光譜儀結構
§4．1 概述
§4．2 通用型和手持式EDXRF譜儀測量單元
§4．3 微束EDXRF譜儀測量單元
§4．3．1 X射綫透鏡及其性能
§4．3．2 微束EDXRF譜儀結構
§4．4 偏振EDXRF譜儀測量單元
§4．5 全反射EDXRF譜儀測量單元
§4．5．1 全反射EDXRF譜儀理論基礎
§4．5．2 全反射EDXRF譜儀結構
§4．6 測量單元中激發係統
……
第五章 譜處理
第六章 基體效應
第七章 元素間吸收增強效應的校正
第八章 散射綫在校正基體效應中的應用
第九章 定性和半定量分析
第十章 定量分析方法（1）——分析條件的設置
第十一章 定量分析方法（2）——校準麯綫的製定
第十二章 定量分析（3）——鍍層和薄膜材料分析
第十三章 XRF定量分析中不確定度評定
第十四章 XRF標準方法
第十五章 樣品製備
第十六章 地質樣品分析
第十七章 電子電氣産品中限用物質分析
第十八章 文物分析
第十九章 水泥原材料分析
附錄

前言/序言

　　近年來隨著矽漂移探測器性能不斷改進、基本參數法日益完善和譜處理電子學綫路由模擬電路改為數字電路，能量色散X射綫熒光光譜儀在小型化、智能化、專業化製造和應用方麵有瞭質的飛躍，現已成為生産質量控製、生態環境監測、地質普查、醫藥食品檢測和文物分析等諸多領域的首選分析儀器之一，被普遍應用於實驗室分析、現場和原位分析。由於矽漂移探測器在300kcps情況下仍有130eV的分辨率，除超輕元素的分析外，能量色散譜儀在分析的精密度和準確度方麵已基本達到波長色散譜儀的水平。
　　經過幾代人的努力，我國國産的能量色散X射綫熒光光譜儀已在國內市場中占有重要份額，甚至還銷往多個國傢，其中微束毛細管聚焦透鏡的研製與生産，在國際X射綫熒光學界受到普遍認可。
　　為適應X射綫熒光光譜分析日益發展的需要，近十多年我國學者相繼齣版瞭一些專著，其中曹利國主編的《能量色散X射綫熒光方法》於1998年齣版，該書較係統地介紹方法的原理、低分辨率譜儀測試技術以及在礦山現場分析中的應用。梁鈺編著的《X射綫熒光光譜分析基礎》（2007年9月）與羅立強等編著的《X射綫熒光光譜儀》（2008年1月）相繼齣版。卓尚軍等著的《X射綫熒光光譜的基本參數法》亦於2010年11月齣版。基於能量色散和波長色散X射綫熒光光譜在基本原理、基體校正、定量分析和樣品製備等方麵有許多共性，這些書雖未對能量色散X射綫熒光光譜作係統論述，但從事能量色散X射綫熒光光譜的工作者依然可從上述著作中獲得許多有益的知識。不過在許多方麵如偏振、全反射、X光透鏡、譜的接收和處理等基礎知識以及在現場和原位分析中所涉及的問題等，上述專著涉及甚少或未予介紹，但這些問題對從事能量色散X射綫熒光光譜工作者而言卻是必不可少的。
　　作者於1974年開始從事X射綫熒光光譜分析工作，主要從事基體校正和化學態等方麵的應用性基礎研究。1989年起在開展應用性基礎研究的同時，自籌資金著手研製能量色散X射綫熒光光譜儀，譜儀先後使用正比計數管、Si（Li）和Si-PIN探測器。並與中南大學趙新娜教授、滿瑞林博士一起首次將偏最小二乘法用於低分辨率能量色散X射綫熒光（EDXRF）光譜儀的譜處理和基體校正。經不斷完善，這些儀器在20世紀90年代成功地應用於鍍Zn層和ZnFe閤金層生産質量控製、大洋錳結核和銅礦現場分析、不銹鋼中多元素分析等。1998年12月我由中國科學院上海矽酸鹽研究所退休，至2010年5月在帕納科公司任顧問。在這期間雖以較多精力解決不同用戶的實際問題與教學培訓工作，但也積纍瞭許多經驗，接觸瞭該公司最新産品信息和應用報告，這些均有助於對基礎知識的理解和對實踐中齣現的問題的思考。與此同時這幾年國內外學者在EDXRF譜儀的基礎研究和應用研究取得瞭不少進展。基於上述諸點，我於2009年5月著手組織撰寫本書，欲將多年的積纍奉獻給讀者，希望對從事X射綫熒光光譜研究與實際工作的科研技術人員能有所幫助。
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