材料科學與工程著作係列:分析電子顯微學導論(第二版 附光盤) [Introduction to Analytical Electron Microscopy] pdf epub mobi txt 電子書 下載 2024

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材料科學與工程著作係列:分析電子顯微學導論(第二版 附光盤) [Introduction to Analytical Electron Microscopy]

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戎詠華 著



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發表於2024-11-23


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齣版社: 高等教育齣版社
ISBN:9787040413564
版次:2
商品編碼:11658862
包裝:平裝
叢書名: 材料科學與工程著作係列
外文名稱:Introduction to Analytical Electron Microscopy
開本:16開
齣版時間:2015-01-01
用紙:膠版紙
頁數:507
字數:6

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具體描述

內容簡介

  分析電子顯微學是揭示材料介觀和微觀世界的有力手段,它能對材料顯微組織的形貌、結構、成分進行三位一體的原位分析。《材料科學與工程著作係列:分析電子顯微學導論(第二版)》是材料科學與工程專業碩士研究生的教材。全書共分六章,其內容包括分析電子顯微鏡的構造及其功能、試樣的製備方法、電子衍射花樣的特徵和標定方法、晶體衍射中的數學處理、電子衍射襯度運動學和動力學理論及其應用、高分辨和高空間分析電子顯微術的原理和應用以及分析電子顯微學的進展。
  《材料科學與工程著作係列:分析電子顯微學導論(第二版)》是掌握分析電子顯微術原理和應用的入門書,注重基本的物理概念和相關的數學推導,並通過實例來幫助讀者理解,配以思考題和練習題使讀者掌握重點。《材料科學與工程著作係列:分析電子顯微學導論(第二版)》配有電子課件和練習題參考答案光盤,便於教師授課。《材料科學與工程著作係列:分析電子顯微學導論(第二版)》也可作為在該領域學習和研究的科技人員的參考書。

內頁插圖

目錄

緒論

第一章 分析電子顯微鏡的構造及其功能
1.1 電子波長和電磁透鏡
1.1.1 電子波長
1.1.2 電磁透鏡
1.2 構造及其特性
1.2.1 照明係統
1.2.2 多功能試樣室
1.2.3 成像係統
1.2.4 圖像觀察與記錄係統
1.2.5 真空和供電係統
1.2.6 儀器的計算機控製和分析數據的計算機處理
1.3 成像、變倍和衍射實現的原理
1.4 理論分辨本領極限
1.5 焦深和場深
參考文獻

第二章 透射電子顯微鏡試樣的製備方法
2.1 錶麵復型技術
2.1.1 一級復型
2.1.2 塑料一碳二級復型
2.1.3 抽取復型
2.2 粉末試樣和薄膜試樣的製備
2.2.1 粉末試樣的製備
2.2.2 薄膜試樣的製備
2.3 塊體試樣製成薄膜的技術
2.3.1 金屬塊體製成薄膜試樣
2.3.2 無機非金屬塊體製成薄膜試樣
2.3.3 高分子塊體製成薄膜試樣
2.3.4 聚焦離子束方法
參考文獻

第三章 電子衍射
3.1 電子衍射與x射綫衍射的比較
3.2 衍射産生的條件
3.2.1 幾何條件
3.2.2 物理條件
3.3 電子衍射幾何分析公式及相機常數
3.3.1 電子衍射儀中的衍射
3.3.2 透射電子顯微鏡中的衍射
3.4 選區電子衍射的原理及操作
3.5 多晶電子衍射花樣及其應用
3.5.1 多晶電子衍射花樣的産生及幾何特徵
3.5.2 多晶電子衍射花樣的應用
3.6 單晶電子衍射花樣及其應用
3.6.1 單晶電子衍射花樣的幾何特徵和強度
3.6.2 單晶電子衍射花樣的標定方法
3.6.3 單晶電子衍射花樣的基本應用
3.7 大量平行層錯的單晶電子衍射花樣
3.7.1 平麵缺陷的衍射
3.7.2 HCP結構的花樣特徵和層錯概率的計算
3.7.3 FCC結構的花樣特徵和層錯概率的計算
3.8 係統傾轉技術及其應用
3.8.1 雙傾颱係統傾轉技術
3.8.2 電子束方嚮的測定
3.8.3 重位點陣特徵參數的測定
3.8.4 三維重構法確定物相
3.8.5 跡綫分析方法
3.8.6 位嚮唯一性的確定
3.9 復雜電子衍射花樣的特徵和標定方法
3.9.1 具有取嚮關係的電子衍射花樣
3.9.2 孿晶電子衍射花樣
3.9.3 高階勞厄花樣
3.9.4 超點陣衍射花樣
3.9.5 二次衍射花樣
3.9.6 調幅結構的電子衍射花樣
3.9.7 長周期結構的電子衍射花樣
3.9.8 菊池電子衍射花樣
參考文獻

第四章 晶體衍射中的數學處理
4.1 取嚮關係的轉換矩陣
4.1.1 基體任意位嚮下兩相取嚮花樣的預測
4.1.2 晶體在不同坐標下的晶嚮和晶麵指數的轉換矩陣
4.1.3 晶體間的重位點陣
4.1.4 孿晶關係的轉換矩陣
4.2 取嚮關係的理論預測
4.2.1 原理和判據
4.2.2 FCC/BCC體係
4.2.3 HCP/BCC體係
4.2.4 HCP/FCC體係
4.3 晶體對稱性引起的係統消光
4.3.1 對稱元素及其對應操作的矩陣
4.3.2 宏觀對稱元素的組閤規律
4.3.3 點群的推導和轉換矩陣
4.3.4 點群、晶係和布拉維點陣之間的關係
4.3.5 空間群中的平移對稱元素
4.3.6 等效點係
4.3.7 二維點陣、平麵點群和平麵群
4.3.8 電子衍射花樣的對稱性
4.3.9 係統消光
4.3.1 0 晶體對稱性在結構分析中的應用舉例
參考文獻

第五章 電子衍射襯度成像
5.1 電子像襯度的分類及其成像方法
5.1.1 質厚襯度成像原理
5.1.2 衍射襯度成像原理
5.1.3 相位襯度成像原理
5.2 衍襯運動學理論
5.2.1 基本假設和近似處理
5.2.2 完整晶體衍襯的運動學方程
5.2.3 完整晶體運動學衍襯理論的實驗驗證
5.2.4 缺陷晶體衍襯的運動學理論及其應用
5.3 衍襯動力學理論(波動光學方程)
5.3.1 電子的散射及其交互作用
5.3.2 完整晶體衍襯動力學方程
5.3.3 完整晶體的動力學方程的解
5.3.4 厚度消光和彎麯消光
5.3.5 反常吸收效應
5.3.6 缺陷晶體衍襯動力學方程及其應用
5.3.7 缺陷晶體衍襯像的計算機模擬及其應用
參考文獻

第六章 高分辨和高空間分析電子顯微術
6.1 高分辨電子顯微術
6.1.1 傅裏葉變換與捲積理論
6.1.2 高分辨像形成過程描述的兩個重要函數
6.1.3 弱相位體高分辨像的直接解釋
6.1.4 高分辨像的多層法計算機模擬
6.1.5 高分辨像顯示位錯特徵的方法
6.1.6 用高分辨像確定未知晶體結構的方法
6.2 會聚束電子衍射
6.2.1 各種衍射方式及其特點的比較
6.2.2 會聚束電子衍射花樣的形成和特徵
6.2.3 HOLZ綫的指標化
6.2.4 會聚束電子衍射的應用舉例
6.3 薄膜試樣的X射綫能譜分析
6.3.1 X射綫固體探測器的原理
6.3.2 薄試樣成分定量分析原理及特點
6.4 電子能量損失譜及其定量微觀分析
6.4.1 電子能量損失譜儀
6.4.2 電子能量損失譜
6.4.3 電子過濾成像和衍射
6.5 分析電子顯微學進展
6.5.1 負球差係數成像技術
6.5.2 定量掃描透射電子顯微術
6.5.3 電子全息術
參考文獻

附錄1 物理常數和換算關係
附錄2 晶體幾何關係
附錄3 立方晶體的晶麵(或晶嚮)夾角錶
附錄4 麵心立方、體心立方和密排六方標準電子衍射花樣
附錄5 麵心立方、體心立方和密排六方高階勞厄標準電子衍射花樣
附錄6 材料常見的幾種結構
附錄7 立方和六方晶係的極圖(c/α=1.6 33)
附錄8 立方晶體重位點陣特徵參數之間的關係
附錄9 電子的原子散射振幅
附錄10 特徵X射綫的波長和能量錶
附錄11 用於電子能量損失譜的電子結閤能錶(EELS)
附錄12 分析電子顯微學的有關計算機軟件
附錄齣處說明
思考題與練習題
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